专利名称：平面显示面板的测试方法、使用该方法的装置及测试组件的制作方法
技术领域：
本发明有关一种平面显示面板的测试方法及使用该方法的装置，特别是有关于液
晶显示面板的测试，是用来能够快速并准确地测试出液晶显示面板的各种缺陷。
背景技术：
以往，现有的平面显示面板的测试方法，是利用探针(Probe)来与平面显示面板 相接触，并进行相关的测试。 但是，这样的测试方法，存在着下列缺点。首先，探针在制造上不甚容易，使得探针 本身的价格不易降低，连带使得测试成本难以降低。接着，探针在安装上费时费力，在更换 上也不甚容易，使得在测试时造成了时间上的严重浪费，影响了测试效率。
发明内容
有鉴于先前技术所带来的问题，本发明提供一种平面显示面板的测试方法，是利 用以将测试组件触靠在待测试平面显示面板上的待测试电极区域上来产生电性连接、另一 方面也将共享组件靠接在待测试共享电极区域上来产生电性连接的方式，来进行接触后， 施加测试信号至平面显示面板上，来进行测试；其特征为包含选定测试组件手段，是以测 试组件的长边方向的大小略等于待测试电极区域的长边方向的大小的方式来选定测试组 件；选定共享组件手段，是以该共享组件的底部接触面积接触到待测试共享电极区域的面 积达一定比例的方式来选择共享组件；安装组件手段，是把测试组件利用定位构件安装在 固定构件上，把共享组件安装于共享固定构件上。 因此，若是利用本发明的平面显示面板的测试方法，可以不用拆卸整个测试装置 模块，仅需拆装更换共享组件及测试组件即可继续进行测试。可以大幅减少使用测试组件 所需的成本，且因为测试组件或是共享组件设计成可拆装的方式，可大幅减少更换组件的 时间，大幅增进了测试效率。 更进一步，关于本发明的平面显示面板的测试方法，其中还包含有定位手段，是利 用照准组件，以上述定位构件上的定位对准部来对准上述待测试平面显示面板上的定位标 记部的方式，来完成定位。 因此，若是利用上述本发明的平面显示面板的测试方法，可以进行更快速精准的 定位，减少了因为定位所造成的时间上的浪费，大幅增进了测试效率。 更进一步，关于本发明的平面显示面板的测试方法，其中还可以在上述安装组件 手段中，利用规制部来规制测试组件与定位构件的相对位置，把测试组件与定位构件做凹 凸配合后装配在一起后，利用导引孔与导引销做固定构件与定位构件的导引定位后，再利 用螺固方式把定位构件固定在固定构件上，或者是利用卡合方式把定位构件固定在固定构 件上。 因此，若是利用上述本发明的平面显示面板的测试方法，可以减少了因为人员进 行装配所造成的人为上的误差，亦增加了装配上的方便性，使得大幅增进了测试效率。
图1显示本发明概略的斜视图。 图2用于本发明的平面显示面板的部分斜视图。 图3显示本发明的其中一实施方式的主要组件的分解立体图。 图4显示实施本发明的示意图。 图5显示本发明的另一实施方式的主要组件的组合斜视图。 图6显示本发明的另一实施方式的主要组件的分解立体图。 图7显示实施在平面显示面板上的本发明的立体示意图。
具体实施例方式
以下说明本发明的实施方式。 烦请参阅图7，图7为显示实施在平面显示面板上的本发明的立体示意图。由该
图，示意揭示出了如何将本发明实施在欲进行测试的平面显示面板上。 实施例1 实施例1详细说明本发明的最基本的实施方式。
诜定组件 首先，参阅图1及图2，对应平面显示面板100上的电极的排列，配合待测试电极区域102的大小，以测试组件203的长边方向大小略等于待测试电极区域102的长边方向大小的方式来选定测试组件203。 该测试组件203的短边方向大小并没有特别限制，只要该短边方向大小足以让该
测试组件203与待测试电极区域102之间达成良好的电性连接即可。 做为该测试组件203的材质，可选用可挠性材料或是不可挠性材料。 作为可挠性材料方面，例如可使用导电橡胶、软性导电薄膜、或薄膜FPC等；还可
以使用以硅胶或橡胶为基材、与微粒金属所组成的混合材料。 作为不可挠性材料方面，例如可使用金、银、铜、锡、铁等等...导电性高的纯金属材料，或者是可以使用导电性高的合金材料；更进一步还可以以非导电性不可挠性材料为基底，外层涂布有导电性材料来使用作为测试组件203。 接着，选择共享组件204，以该共享组件204的底部接触面积接触到待测试共享电
极区域104的面积达一定比例的方式来选择共享组件204。因此，共享组件204可以不用完
全配合待测试共享电极区域104的面积形状，只要该共享组件204的底部接触面积接触到
待测试共享电极区域104的面积达一定比例使得该共享组件204与该待测试共享电极区域
104之间具有良好的电性连接即可。如此，可以不用因为要配合待测试共享电极区域104的
面积大小或形状而准备各式各样的共享组件204，省去了准备材料上的麻烦。更进一步，由
于对待测试共享电极区域104的适用性变大了，也减少了因待测试共享电极区域104的不
同面积大小或形状的不同而需要更换共享组件204的频率。 做为该共享组件204的材质，可选用可挠性材料或是不可挠性材料。 作为可挠性材料方面，例如可使用导电橡胶、或使用以硅胶或橡胶为基材、与微粒
金属所组成的混合材料等。
作为不可挠性材料方面，例如可使用金、银、铜、锡、铁等等...导电性高的纯金属材料，或者是可以使用导电性高的合金材料；甚至于还可以以非导电性不可挠性材料为基底，外层涂布有导电性材料来使用作为共享组件204。
*辭目# 参阅图3，将选定好的测试组件203安装于定位构件202上后，再将定位构件202安装到固定构件201上。 将测试组件203安装于定位构件202上的方式，是利用凸出部2034与凹陷部2028相互配合的方式来进行安装。 之后，将定位构件202上的导引孔2023、2024沿着固定构件201上的导引销2012、2013来装置上去后并利用螺固的方式将定位构件202与固定构件201固定在一起。
更进一步，定位构件202与固定构件201之间也可以互相设置卡合部，以利用卡合的方式来做固定。 另一方面，将共享组件204安装于共享固定构件205上。 之后，对应于平面显示面板100上的电极排列方式，将固定构件201及共享固定构件205固定在测试模块(未图标)上。
组件定位 参阅图l，于安装完组件后，可利用光学显微机构(未图标)使测试组件对准待测试平面显示面板100上的待测试电极区域，以完成定位。
进行接触 参阅图4，完成定位后，以将测试组件203触靠在待测试平面显示面板100上的待测试电极区域102上以产生电性连接，另一方面也将共享组件204靠接在待测试共享电极区域104上以产生电性连接的方式，来进行接触。 因此，通过上述，当完成测试后，停止施加测试信号，测试组件203及共享组件204离开接触位置至待机位置，待更换完待测试平面显示面板100后，依序进行组件定位、进行接触、施加信号来进行测试等步骤来进行测试。
实施例2 实施例2详细说明本发明的另 一种的实施方式。
选定组件 首先，参阅图1及图2，对应平面显示面板100上的电极的排列，配合待测试电极区域102的大小，以测试组件203的长边方向大小略等于待测试电极区域102的长边方向大小的方式来选定测试组件203。 该测试组件203的短边方向大小并没有特别限制，只要该短边方向大小足以让该
测试组件203与待测试电极区域102之间达成良好的电性连接即可。 做为该测试组件203的材质，可选用可挠性材料或是不可挠性材料。 作为可挠性材料方面，例如可使用导电橡胶、软性导电薄膜、或薄膜FPC等；还可
以使用以硅胶或橡胶为基材、与微粒金属所组成的混合材料。 作为不可挠性材料方面，例如可使用金、银、铜、锡、铁等等...导电性高的纯金属材料，或者是可以使用导电性高的合金材料；更进一步还可以以非导电性不可挠性材料为基底，外层涂布有导电性材料来使用作为测试组件203。
接着，选择共享组件204，以该共享组件204的底部接触面积接触到待测试共享电
极区域104的面积达一定比例的方式来选择共享组件204。因此，共享组件204可以不用完
全配合待测试共享电极区域104的面积形状，只要该共享组件204的底部接触面积接触到
待测试共享电极区域104的面积达一定比例使得该共享组件204与该待测试共享电极区域
104之间具有良好的电性连接即可。如此，可以不用因为要配合待测试共享电极区域104的
面积大小或形状而准备各式各样的共享组件204，省去了准备材料上的麻烦。更进一步，由
于对待测试共享电极区域104的适用性变大了，也减少了因待测试共享电极区域104的不
同面积大小或形状的不同而需要更换共享组件204的频率。 做为该共享组件204的材质，可选用可挠性材料或是不可挠性材料。 作为可挠性材料方面，例如可使用导电橡胶、或使用以硅胶或橡胶为基材、与微粒
金属所组成的混合材料等。 作为不可挠性材料方面，例如可使用金、银、铜、锡、铁等等...导电性高的纯金属 材料，或者是可以使用导电性高的合金材料；甚至于还可以以非导电性不可挠性材料为基 底，外层涂布有导电性材料来使用作为共享组件204。
安装组件 参阅图5及图6，将选定好的测试组件203安装于定位构件212上后，再将定位构 件212安装到固定构件201上。 参阅图6，将测试组件203、安装于定位构件212上的方式，是利用凸出部2034与 凹陷部2128相互配合的方式来进行安装，同时，在测试组件203与定位构件212之间设置 有规制部2127、2129、2035、2036，利用规制部2127、2129、2035、2036来规制测试组件203与 定位构件212的相对位置，把测试组件203与定位构件212做相互配合后装配在一起。
之后，将定位构件212上的导引孔2123、2124沿着固定构件201上的导引销2012、 2013来装置上去后并利用螺固的方式将定位构件212与固定构件201固定在一起。
更进一步，定位构件212与固定构件201之间也可以互相设置卡合部，以利用卡合 的方式来做固定。 另一方面，将共享组件204安装于共享固定构件205上。 之后，对应于平面显示面板100上的电极排列方式，将固定构件201及共享固定构 件205固定在测试模块(未图标)上。
组件定位 参阅图2及图6，于安装完组件后，还可以利用定位构件212上的定位对准部 2121、2126来对准待测试平面显示面板100上的定位标记部101、 103的方式，以完成定位。
在进行定位的过程中，可以利用光学显微机构来进行定位对准部2121 、2126与定 位标记部101、 103的对准。亦可以利用光学激光头来照准。
进行接触 参阅图4，完成定位后，以将测试组件203触靠在待测试平面显示面板100上的待 测试电极区域102上以产生电性连接，另一方面也将共享组件204靠接在待测试共享电极 区域104上以产生电性连接的方式，来进行接触。 因此，通过上述，当完成测试后，停止施加测试信号，测试组件203及共享组件204 离开接触位置至待机位置，待更换完待测试平面显示面板100后，依序进行组件定位、进行接触、施加信号来进行测试等步骤来进行测试。 更进一步，本发明并不限于上述实施例所揭露的范围，凡是本发明所属技术领域 中具有通常知识者，根据本发明申请时所揭示的技术而能轻易完成者，皆属本发明所揭露 并主张保护的范围。 例如，本发明所揭露的测试组件的凸出部与定位构件的凹陷部、乃至于测试组件 与定位构件之间的规制部，不一定是为如同本申请附图中所揭露的形状(一方为长方形凸 起，另一方为长方形凹陷)，亦可将凸出部做成凸齿条形状、凹陷部做成凹齿条形状来做相 互配合的同时，利用齿与齿之间的相互咬合来当作规制部来规制测试组件与定位构件的相 对位置。
权利要求
一种平面显示面板的测试方法，是利用以将测试组件触靠在待测试平面显示面板上的待测试电极区域上来产生电性连接、另一方面也将共享组件靠接在待测试共享电极区域上来产生电性连接的方式，来进行接触后，施加测试信号至平面显示面板上，来进行测试；其特征在于包含选定测试组件手段，是以测试组件的长边方向大小略等于待测试电极区域的长边方向大小的方式来选定测试组件；选定共享组件手段，是以该共享组件的底部接触面积接触到待测试共享电极区域的面积达一定比例的方式来选择共享组件；安装组件手段，是把测试组件利用定位构件安装在固定构件上，把共享组件安装于共享固定构件上。
2. 如权利要求1所述的平面显示面板的测试方法，其特征在于还包含有定位手段，是利用照准组件，以所述定位构件上的定位对准部来对准所述待 测试平面显示面板上的定位标记部的方式，来完成定位。
3. 如权利要求2所述的平面显示面板的测试方法，其特征在于 所述照准组件为光学显微机构。
4. 如权利要求2所述的平面显示面板的测试方法，其特征在于 所述照准组件为光学激光头。
5. 如权利要求1所述的平面显示面板的测试方法，其特征在于 所述测试组件是由可挠性导电材料所构成。
6. 如权利要求1所述的平面显示面板的测试方法，其特征在于 所述测试组件是由非可挠性导电材料所构成。
7. 如权利要求1所述的平面显示面板的测试方法，其特征在于 所述共享组件是由可挠性导电材料所构成。
8. 如权利要求1所述的平面显示面板的测试方法，其特征在于 所述共享组件是由非可挠性导电材料所构成。
9. 如权利要求1所述的平面显示面板的测试方法，其特征在于在所述安装组件手段中，是利用规制部来规制测试组件与定位构件的相对位置，把测 试组件与定位构件做凹凸配合后装配在一起后，利用导引孔与导引销做固定构件与定位构 件的导引定位后，再利用螺固方式把定位构件固定在固定构件上。
10. 如权利要求1所述的平面显示面板的测试方法，其特征在于在所述安装组件手段中，是利用规制部来规制测试组件与定位构件的相对位置，把测 试组件与定位构件做凹凸配合后装配在一起后，利用卡合方式把定位构件固定在固定构件 上。
11. 一种平面显示面板的测试装置，是利用以将测试组件触靠在待测试平面显示面板 上的待测试电极区域上来产生电性连接、另一方面也将共享组件靠接在待测试共享电极区 域上来产生电性连接的方式，来进行接触后，施加测试信号至平面显示面板上，来进行测 试；其特征在于包含测试组件，该测试组件的长边方向大小略等于待测试电极区域的长边方向大小； 定位构件，把所述测试组件利用该定位构件安装在固定构件上；固定构件，是用来固定定位构件及测试组件。
12. 如权利要求11所述的平面显示面板的测试装置，其特征在于还包含 共享组件，该共享组件的底部接触面积接触到待测试共享电极区域的面积达一定比例；共享固定构件，是用于安装共享组件。
13. 如权利要求11或12所述的平面显示面板的测试装置，其特征在于 所述定位构件还包含有定位对准部，是利用照准组件，以所述定位对准部来对准所述待测试平面显示面板上的定位标记部的方式，来完成定位。
14. 如权利要求13所述的平面显示面板的测试装置，其特征在于所述照准组件为光学显微机构。
15. 如权利要求13所述的平面显示面板的测试装置，其特征在于所述照准组件为光学激光头。
16. 如权利要求11或12所述的平面显示面板的测试装置，其特征在于所述测试组件是由可挠性导电材料所构成。
17. 如权利要求11或12所述的平面显示面板的测试装置，其特征在于所述测试组件是由非可挠性导电材料所构成。
18. 如权利要求11或12所述的平面显示面板的测试装置，其特征在于所述共享组件是由可挠性导电材料所构成。
19. 如权利要求11或12所述的平面显示面板的测试装置，其特征在于所述共享组件是由非可挠性导电材料所构成。
20. 如权利要求11或12所述的平面显示面板的测试装置，其特征在于 在所述定位构件及测试组件上还设有规制部；定位构件是利用规制部来规制测试组件与定位构件的相对位置，把测试组件与定位 构件做凹凸配合后装配在一起后，利用导引孔与导引销做固定构件与定位构件的导引定位 后，再利用螺固方式把定位构件固定在固定构件上。
21. 如权利要求11或12所述的平面显示面板的测试装置，其特征在于 在所述定位构件及测试组件上还设有规制部；定位构件是利用规制部来规制测试组件与定位构件的相对位置，把测试组件与定位构 件做凹凸配合后装配在一起后，利用卡合方式把定位构件固定在固定构件上。
22. —种测试组件，是以让电性信号通过该测试组件的方式来进行测试；其特征在于 所述测试组件，是用于如权利要求1、5、6中任一项所记载的平面显示面板的测试方法、或者是如权利要求11、12、16、17中任一项所记载的平面显示面板的装置上；所述测试组件，包含有底部，当该底部与待测试电极相接触后，可以使所述测试组件与待测试电极之间产生 电性连接；凸出部，是用来与定位构件上的凹陷部做安装配合用； 规制部，是用来规制所述测试组件与所述定位构件的相对位置。
全文摘要
本发明是提供一种平面显示面板的测试方法、使用该方法的装置、及测试组件，利用以将测试组件触靠在待测试平面显示面板上的待测试电极区域上来产生电性连接、另一方面也将共享组件靠接在待测试共享电极区域上来产生电性连接的方式，来进行接触后，施加测试信号至平面显示面板上，来进行测试；其特征在于包含选定测试组件手段，以测试组件的长边方向的大小略等于待测试电极区域的长边方向的大小的方式来选定测试组件；选定共享组件手段，以该共享组件的底部接触面积接触到待测试共享电极区域的面积达一定比例的方式来选择共享组件；安装组件手段，把测试组件利用定位构件安装在固定构件上，把共享组件安装于共享固定构件上。
文档编号G01R31/00GK101726876SQ20081017087
公开日2010年6月9日 申请日期2008年10月20日 优先权日2008年10月20日
发明者刘守桦, 王朝顺 申请人:美科乐电子股份有限公司