专利名称：晶体振荡器检测装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种检测装置，特别涉及一种晶体振荡器检测装置。
背景技术：
晶体振荡器(crystal)在电子产品上被广泛应用，以提供电子产品工作所需的系统频 率，故需要对晶体振荡器进行检测，以验证其是否符合要求。
目前，现有的检测方法包括两种，第一种方法是先把晶体振荡器安装在电子产品上，再 用示波器直接在电子产品上的相应探测点上量测晶体振荡器的频率；第二种方法是先用万用 表量测一品质好的晶体振荡器，再量测待测晶体振荡器，然后将品质好的测量结果与待测的 测量结果作比较来判断待测晶体振荡器的好坏。
但是，由于目前电子产品上的晶体振荡器的数目越来越多，应用上述两种检测方法都会 花费大量的时间，而且测试精度也不是很高。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种测试简单、测试精度高的晶体振荡器检测装置。
一种晶体振荡器检测装置，包括第一及第二三极管、 一指示器、第一至第三电容、 一第 一二极管、第一及第二测试引脚，所述第一测试引脚连接一电源，所述第一三极管的集电极 连接到所述第一测试引脚，发射极通过所述指示器接地，所述第一三极管的基极连接到所述 第一二极管的阴极，所述第一二极管的阳极依次通过所述第一及第二电容与所述第一测试引 脚相连，所述第二三极管的发射极连接在所述第一及第二电容之间的节点，集电极接地，基 极连接到所述第二测试引脚，所述第三电容连接在所述第二三极管的基极与发射极之间。
上述晶体振荡器检测装置通过所述第二电容、第三电容及第二三极管组成的振荡电路测 试待测晶体振荡器是否符合规格，并通过所述第一三极管控制所述指示器快速地显示检测结 果，相较于现有的测试方法具有测试简单快捷，且测试精度高等优点。
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述 图l是本发明晶体振荡器检测装置的较佳实施方式的示意图。
图2是本发明晶体振荡器检测装置的较佳实施方式连接一待测晶体振荡器的电路图。
具体实施例方式
4请参考图l，本发明晶体振荡器检测装置的较佳实施方式包括一用于容置电路元件的壳 体10，所述壳体10上设有一指示器20、 一晶体振荡器连接器30及一电源开关40。所述壳体 IO为方形也可以根据需要设计为其他形状。所述指示器20用于指示检测结果。所述晶体振荡 器连接器30用于连接待测的晶体振荡器，以使待测的晶体振荡器接入到测试电路中。所述电 源开关40用于接通检测用的电源。
请继续参考图2，所述晶体振荡器检测装置的内部测试电路包括一电源Vcc、 一第一三极 管Q1、 一第二三极管Q2、所述电源开关40、所述指示器20、第一至第三电阻R1-R3、第一至 第四电容C1-C4、第一及第二二极管D1及D2、所述晶体振荡器连接器30 (图2中以两测试引脚 X1及X2表示)。本实施方式中，所述第一及第二三极管Q1及Q2为NPN型三极管，所述指示器 20为一发光二极管，也可以根据需要将所述指示器20选用其他具有指示功能的元件，如蜂鸣 器等。
所述电源Vcc通过所述电源开关40连接到所述测试引脚Xl 。所述第一三极管Q1的集电极 连接到所述测试引脚X1 ，发射极连接到所述指示器20的阳极，所述指示器20的阴极通过所述 第一电阻R1接地，所述第一三极管Q1的基极连接到所述第一二极管D1的阴极，所述第一二极 管D1的阳极依次通过所述第一及第二电容C1及C2与所述测试引脚X1相连，所述第四电容C4连 接于所述第一三极管Q1的发射极及基极之间，所述第二二极管D2的阳极连接于所述测试引脚 XI，阴极连接于所述第一二极管D1与所述第一电容C1之间的节点，所述第二电阻R2连接在所 述测试引脚X1与所述第一及第二电容C1及C2之间的节点之间，所述第二三极管Q2的发射极连 接在所述第一及第二电容C1及C2之间的节点，集电极接地，基极连接到测试引脚X2，所述第 三电容C3连接在所述第二三极管Q2的基极与发射极之间，所述测试引脚X2还通过所述第三电 阻R3接地。
本实施方式中，所述第一电阻R1的电阻值RK00Q，所述第二电阻R2的电阻值R24KQ ，所述第三电阻R3的电阻值R3二30KQ，所述第一电容Cl的电容值CKOOOpF，所述第二电容 C2的电容值C2450pF，所述第三电容C3的电容值C3二680pF，所述第四电容C4的电容值 C4=0.0047y F。
测试时，将一待测晶体振荡器X放置于所述晶体振荡器连接器30内，即所述待测晶体振 荡器X的两输出引脚通过所述两测试引脚X1及X2连接到了图2的电路中，按下所述电源开关 40，所述电源Vcc即接入到了测试电路中。如果待测晶体振荡器X满足规格要求，在电源Vcc 接入后，由所述待测晶体振荡器X、第二电容C2、第三电容C3及第二三极管Q2组成的振荡电 路将开始工作，振荡信号由所述第二三极管Q2的发射极输出，经所述第一电容C1耦合到所述第一二极管D1进行检波、滤波后变成直流电压信号，再送至所述第一三极管Q1的基极以使其 导通，此时所述指示器20发光，指示所述待测晶体振荡器X符合规格要求。如果待测晶体振 荡器X不满足规格要求，在电源Vcc接入后，由所述待测晶体振荡器X、第二电容C2、第三电 容C3及第二三极管Q2组成的振荡电路将不工作，进而使所述指示器20不发光，表明所述待测 晶体振荡器X不符合规格要求，所述晶体振荡器检测装置相较于现有的测试方法具有测试简 单快捷，且测试精度高等优点。
其中，所述电阻R3为阻尼电阻，当待测晶体振荡器X的频率小于6MHz且待测晶体振荡器 X的等效电阻大于100Q时起到稳定振荡的作用，也可根据实际需要选择删除所述电阻R3，即 将所述测试引脚X2仅连接至所述第二三极管Q2的基极即可。所述第二及第三电容C2及C3为移 相电容，并且C2W3/(C2+C3)《L-Cs，式中CL为待测晶体振荡器X的负载电容值，Cs为杂散电 容值，在电路中Cs约为4-6pF，通过调整所述第二及第三电容C2及C3的电容值可以测试不同 频率的晶体振荡器X。所述第一及第二电阻R1及R2为分压限流电阻，用以保护所述指示器20 ，所述第四电容C4为滤波电容，所述第二二极管D2起到防止第一电容C1放电回流的作用，为 进一步降低成本，可以将所述第一及第二电阻R1及R2、第四电容C4、第二二极管D2删除。
权利要求
1.一种晶体振荡器检测装置，包括第一及第二三极管、一指示器、第一至第三电容、一第一二极管、第一及第二测试引脚，所述第一测试引脚连接一电源，所述第一三极管的集电极连接到所述第一测试引脚，发射极通过所述指示器接地，所述第一三极管的基极连接到所述第一二极管的阴极，所述第一二极管的阳极依次通过所述第一及第二电容与所述第一测试引脚相连，所述第二三极管的发射极连接在所述第一及第二电容之间的节点，集电极接地，基极连接到所述第二测试引脚，所述第三电容连接在所述第二三极管的基极与发射极之间。
2 如权利要求l所述的晶体振荡器检测装置，其特征在于所述电源与所述第一测试引脚之间还连接一 电源开关。
3 如权利要求2所述的晶体振荡器检测装置，其特征在于所述第一及第二测试引脚与一晶体振荡器连接器的对应引脚相连，用于插接一晶体振荡器。
4 如权利要求3所述的晶体振荡器检测装置，其特征在于所述电源开关、指示器及晶体振荡器连接器均设于一壳体上。
5 如权利要求l所述的晶体振荡器检测装置，其特征在于所述指示器为一发光二极管或一蜂鸣器。
6 如权利要求l所述的晶体振荡器检测装置，其特征在于所述第一三极管的发射极与基极之间还连接一第四电容。
7 如权利要求6所述的晶体振荡器检测装置，其特征在于所述第一至第四电容的电容值分别为1000pF、 150pF、 680pF及0. 0047yF。
8 如权利要求l所述的晶体振荡器检测装置，其特征在于所述指示器与地之间还串联一第一电阻，所述第一测试引脚与所述第一及第二电容的节点之间还串联一第二电阻，所述第二测试引脚与地之间还串联一第三电阻。
9 如权利要求8所述的晶体振荡器检测装置，其特征在于所述第一至第三电阻的电阻值分别为100 Q 、 1K Q及30K Q 。
10.如权利要求l所述的晶体振荡器检测装置，其特征在于所述第一二极管的阳极与所述第一测试引脚之间还串联一第二二极管，且所述第二二极管的阳极连接所述第一测试引脚，阴极连接所述第一二极管的阳极。
全文摘要
一种晶体振荡器检测装置，包括第一及第二三极管、一指示器、第一至第三电容、一第一二极管、第一及第二测试引脚，所述第一测试引脚连接一电源，所述第一三极管的集电极连接到所述第一测试引脚，发射极通过所述指示器接地，所述第一三极管的基极连接到所述第一二极管的阴极，所述第一二极管的阳极依次通过所述第一及第二电容与所述第一测试引脚相连，所述第二三极管的发射极连接在所述第一及第二电容之间的节点，集电极接地，基极连接到所述第二测试引脚，所述第三电容连接在所述第二三极管的基极与发射极之间。本发明晶体振荡器检测装置可简单、快速、准确地检测晶体振荡器的品质。
文档编号G01R31/00GK101650395SQ20081030365
公开日2010年2月17日 申请日期2008年8月11日 优先权日2008年8月11日
发明者翔 曹 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司