专利名称：测试装置及其测试方法
技术领域：
本发明有关于一种测试装置，且特别是有关于一种测试装置及其测试方法。
背景技术：
主机板生产维修过程中，经常需要量测主机板上的多个连接器的质量。通常是通 过量测连接器上信号的保护二极管值，并与一标准板上对应信号的标准保护二极管值进行 比较，从而判断哪个或哪些信号不良。 保护二极管就是起保护作用的二极管(Clamp Diode)，一般的IC芯片在芯片的非 核心部分都设计了一些二极管线路，目的是为了保护芯片的核心部分。 测量二极管的具体操作就是万用表，然后利用与万用表连接的探针来测得保护二 极管的阻抗值。利用欧姆定律，阻抗并联阻抗下降，阻抗串联阻抗上升，从测得的阻抗值，来 判断信号点接到各零件间是否有开路或短路。若测得的阻抗值过高或无阻值，便可顺着线 路寻找是否为线路开路或组件空焊，如果没有任何焊接工艺或PCB板本身的问题，则可能 为零件不良。若测得的阻抗值过低，就寻找是否与其它信号短路，再判断是否为零件短路或 者PCB线路短路。 然而，由于PCI插槽、PCIe X16插槽、及内存插槽，这些插槽的接脚数目都为100以 上，想迅速找出哪个或哪些信号质量不良比较困难，因此造成维修时间较长，且操作步骤较 为繁琐。
发明内容
本发明提供一种测试装置及其测试方法，以解决上述问题。 本发明提供的具有自动切换功能的测试装置，配合万用表来测试主机板的第一连 接器，第一连接器具有多个第一接脚，测试装置耦接电脑装置。测试装置包括多个第二接 脚、开关单元以及控制器。上述这些第二接脚用以分别耦接第一连接的这些第一接脚。开 关单元耦接第二接脚。控制器耦接开关单元，且接收来自于电脑装置的控制信号，控制器依 据控制信号来控制开关单元的操作，使得测试装置配合万用表来测试第一连接器，且万用 表提供测试值至电脑装置。 本发明另提供的一种测试方法，利用测试装置与万用表测试主机板的第一连接 器。第一连接器具有多个第一接脚。测试装置包括多个第二接脚、开关单元以及控制器。该 些第二接脚分别耦接第一连接器的该些第一接脚。开关单元耦接该些第二接脚。测试方法 包括以下步骤接收控制信号；依据控制信号来控制开关单元的操作，以分别测试第一连 接器的该些第一接脚的其中之一，使得测试装置配合万用表来测试第一连接器，万用表提 供测试值；以及比较测试值与预设值。 本发明的有益效果在于本发明提供了一种连接器测试装置，连接至待测试的第 一连接器上。测试装置包括开关单元，依次接通测试装置上的多个第二接脚，以分别测试第 一连接器上的多个第一接脚，达到了自动切换功能，省却了人力控制，节省测试时间、提高了工作效率。本发明提供的测试装置，采用了模块化设计，结构简单，易于操作。测试装置 可以采用转接板连接至多种类型的第一连接器上，用以测试多种第一连接器，节省测试费 用。测试装置采用了形象化的方式显示测试结果，提供操作者易于识别的显示界面，让操作 者能够迅速发觉测试未通过的第一接脚。 为让本发明的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，
并配合所附图式，作详细说明如下。
图1为本发明一较佳实施例的测试装置的功能方块示意图。 图2为本发明一较佳实施例的测试装置应用时的结构示意图。 图3为本发明另一较佳实施例的测试装置应用时的结构示意图。 图4为本发明一较佳实施例应用测试装置测试连接器的测试方法流程图。 图5为图4中步骤S403的详细描述。 图6为本发明一较佳实施例中测试结果的显示界面示意图。
具体实施例方式图1为本发明一较佳实施例的测试装置的功能方块示意图。 本实施例提供的测试装置100可用来测试主机板200上的第一连接器201。第一 连接器201可以是内存插槽、显示卡插槽、扩充卡插槽或周边装置适配卡插槽。
第一连接器201具有多个第一接脚202。测试装置100通过插设在第一连接器201 上，电性连接这些第一接脚202，以测试这些第一接脚202，以取得关于第一连接器201的第 一接脚202的测试结果。 本实施例所提供的测试装置100包括第二连接器101、开关单元103以及控制器 104。第二连接器101具有多个第二接脚102，测试装置100的第二连接器101配合于主机 板200的第一连接器201 ，当第二连接器101插设于第一连接器201上时，多个第二接脚102 分别耦接这些第一接脚202。 开关单元103耦接这些第二接脚102，开关单元103较佳地具有多个开关芯片 1031，一个开关芯片1031可以分别控制多个(比如8个)第二接脚102的信号连通。本技 术领域具有通常知识者可以根据需要设置多个开关芯片1031，在本发明中不予限制。
控制器104耦接开关单元103，用来依据外部装置所提供的控制信号来控制开关 单元103的连通或断开，以通过所连通的第二连接器101测试第一连接器201的第一接脚 202，其中外部装置可为电脑装置(图未示)。控制信号较佳地为控制开关单元103依次连 通这些第二接脚102。 在本实施例中，测试装置100还包括接口 105，接口 105也耦接开关单元103。通
过开关单元103依次连通多个第二接脚102，接口 105能够通过第二接脚102依次耦接至第
一接脚202。因此，接口 105的电位与跟其耦接的第一接脚202的电位相同。 图2为本发明一较佳实施例的测试装置应用时的结构示意图。 在本实施例中，测试装置100是直接插设在主机板200上的第一连接器201上的。 请结合参考图1和图2，电脑装置300通过第一传输线301连接至测试装置100，电脑装置300并发出控制信号至控制器104，使得控制器104依据控制信号控制开关单元 103依次自动连通和断开。 将测试装置100连接至主机板200的第一连接器201之后，使用万用表400以获 得测试值。测试装置100通过万用表400与一第一探针(又称黑表笔)402耦接电脑装置 300。第一探针402分别耦接测试装置100与万用表400，其中万用表400的第一探针402 耦接至测试装置100的接口 105(如图1中所示)。万用表400耦接电脑装置300。万用 表400还耦接第二探针(又称红表笔)401，第二探针401耦接主机板200的接地点(接地 端)。 万用表400还通过第二传输线302耦接至电脑装置300，用以传输测试值至电脑装 置300。电脑装置300包括有一储存单元(图未示)，其储存有第一连接器201的测量预设 值。电脑装置300可比较测试值与预设值，来判断第一连接器201的各个第一接脚202的 性能是否良好。 图3为本发明另一较佳实施例的测试装置应用时的结构示意图。 在本实施例中，测试装置100包括第一转接板501和第二转接板502。 请结合参考图l和图3，在实际操作中，主机板200的第一连接器201可以是多
种规格，例如第一连接器201可为内存插槽、显示卡插槽、扩充卡插槽或周边装置适配卡插
槽。测试装置100可根据第一连接器201的不同规格，利用第一转接板501或第二转接板
502插设在主机板200上。 在本实施例中，主机板200包括第一连接器201和第三连接器203，第三连接器 203的规格不同于第一连接器201。第一转接板501的一端规格与第二连接器101相适应， 另一端规格与第一连接器201相适应；第二转接板502的一端与第二连接器101相适应，另 一端与第三连接器203相适应。第一转接板501和第二转接板502内均具有多个电性通道 (图未示)，用于耦接其两端连接的连接器。 需要耦接第一连接器201时，测试装置100的第二连接器101利用第一转接板501
耦接第一连接器201 。在测试装置100的第二连接器101的规格不变的情况下，需要耦接第
三连接器203时，测试装置100可以通过第二转接板502耦接至第三连接器203。 图4为本发明一较佳实施例应用测试装置测试连接器的测试方法流程图。 请结合参考图1、图2和图4，本实施例揭露的测试方法包括以下步骤 步骤S401 :接收控制信号。测试装置100通过第一传输线301耦接至电脑装置
300，电脑装置300将控制信号传输至测试装置100的控制器104。 步骤S402 :控制器104依据控制信号来控制开关单元103的操作，使得测试装置 100配合万用表400来测试第一连接器201，且万用表400提供一测试值至电脑装置300。 亦即，控制器104控制开关单元103依次连通至第二接脚102之一。控制信号为依次控制 开关单元103内的开关芯片1031依次开启和关闭，以分别连通至第二接脚102之一，且通 过上述连通的第二接脚102传送信号至与其相连接的第一接脚202。由此，测试装置100通 过万用表400测量第一接脚202，以获得测试值，万用表400再提供上述测试值至电脑装置 300。亦即，万用表400可通过这个第二接脚102测试其所对应耦接的第一接脚202的二极 管值，以获得测试值。 举例来说，在本实施例中，通过使用万用表400测试接通的第一接脚202的二极管值。万用表400的第一探针402耦接至接口 105，由于接口 105始终耦接开关单元103，因 此当开关单元103接通至某个第二接脚102上时，第一探针402通过这个第二接脚102耦 接至其对应耦接的第一接脚202。 万用表400的第二探针401连接至主机板200的第一连接器201的接地端，这个 接地端可以位于第一连接器201上，也可以位于主机板200与第一连接器201接地端电位 相同的电性连接部。 本步骤中的测试值为第二接脚102对应的二极管值。万用表400通过第二传输线 302将测试值传输至电脑装置300。 步骤S403 :电脑装置300比较第一接脚202对应的测试值与预设值，并产生测试 结果。电脑装置300内储存有各个第一接脚202的预设值(即第一接脚202标准二极管 值)。接收到测试值之后，电脑装置300比较测试值与预设值，以判断第一接脚202是否符 合工艺要求。测试结果包含各个第一接脚202的位置序号和比较结果。
关于这一步骤的详细描述，请参见图5。图5为图4中步骤S403的详细描述。
S501 :判断测试值与预设值的差值是否在预设范围内。电脑装置300依次比较各 个第一接脚202所对应的测试二极管值和预设值，并判断测试二极管值与预设值的差值是 否在一定范围内。 预设范围可以设定为在预设值的〔1_0.5%，1+0.5%〕范围内。当工艺要求不同的 时候，预设范围可以相应地改变。 当步骤S501的结果为否，判断测试值对应的第一接脚202为测试不通过(步骤 S502)。当步骤S501的结果为是，判断测试值对应的第一接脚202为测试通过(步骤S503)。
步骤S404 :显示测试结果。本实施例中，通过电脑装置300根据步骤S404的比较 结果，显示测试结果。电脑装置300可以通过颜色来显示比较结果。例如，红色表示测试未 通过，绿色表示测试通过。 关于电脑装置300的显示方法，请参见图6。 图6为本发明一较佳实施例中测试结果的显示界面示意图。有关其说明，敬请一 并参照图1。 显示界面600包括多个方格(Al-10、All-20、…)，每个方格依次代表一个第一接 脚202，例如A1-10这个方格序列，就是依次代表了第一连接器201上的第1-10个第一接脚 202。通过方格来显示第一接脚202位置序号的同时，还可以利用颜色或样式来显示各个第 一接脚202的比较结果。例如，测试未通过的第一接脚202相应方格(例如是A3)内有阴 影，测试通过的第一接脚202相应方格(例如是A4、A5等)为空白。利用颜色来区分的方 式与上述方式类似。 本发明较佳实施例提供了一种连接器测试装置，连接至待测试的第一连接器上。 测试装置包括开关单元，依次接通测试装置上的多个第二接脚，以分别测试第一连接器上 的多个第一接脚，达到了自动切换功能，省却了人力控制，节省测试时间、提高了工作效率。 本发明提供的测试装置，采用了模块化设计，结构简单，易于操作。测试装置可以采用转接 板连接至多种类型的第一连接器上，用以测试多种第一连接器，节省测试费用。测试装置采 用了形象化的方式显示测试结果，提供操作者易于识别的显示界面，让操作者能够迅速发 觉测试未通过的第一接脚。
虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟习此技 艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围 当视权利要求书所界定者为准。
权利要求
一种测试装置，配合万用表来测试主机板的第一连接器，上述第一连接器具有多个第一接脚，上述测试装置耦接电脑装置，其特征是，上述测试装置包括多个第二接脚，分别耦接上述第一连接器的上述这些第一接脚；开关单元，耦接上述这些第二接脚；以及控制器，耦接上述开关单元，且接收来自于上述电脑装置的控制信号，上述控制器依据上述控制信号来控制上述开关单元的操作，使得上述测试装置配合上述万用表来测试上述第一连接器，且上述万用表提供测试值至上述电脑装置。
2. 根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，上述控制器控制上述开关单元依次连通上述这些第二接脚，以通过所连通的上述这些第二接脚测试上述这些第二接脚所对应的上述这些第一接脚，使得上述万用表提供上述测试值至上述电脑装置。
3. 根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，上述电脑装置还储存有预设值，上述电脑装置比较上述测试值与上述预设值，当上述测试值与上述预设值的差值在预设范围内，则所测试的上述这些第一接脚测试通过。
4. 根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，上述控制器通过第一传输线耦接上述电脑装置，用来接收上述控制信号。
5. 根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，上述测试装置通过上述万用表与第一探针耦接上述电脑装置。
6. 根据权利要求5所述的测试装置，其特征是，上述第一探针分别耦接上述测试装置与上述万用表，上述万用表耦接上述电脑装置。
7. 根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，上述万用表耦接第二探针，上述第二探针耦接上述主机板的接地点。
8. 根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，上述测试装置还包括接口，上述接口耦接上述开关单元，上述测试装置通过上述万用表分别测量上述这些第一接脚的二极管值以获得上述测试值，上述万用表的第一探针耦接上述接口 ，上述万用表的第二探针耦接上述第一连接器的接地端。
9. 根据权利要求8所述的测试装置，其特征是，上述万用表通过第二传输线耦接上述电脑装置，以将上述测试值传输至上述电脑装置。
10. 根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，上述测试装置还包括第一转接板，上述这些第二接脚通过上述第一转接板耦接上述第一连接器。
11. 根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，上述主机板还包括第三连接器，上述第三连接器的规格与上述第一连接器的规格不同，其中上述测试装置还包括第二转接板，上述这些第二接脚通过上述第二转接板耦接上述第三连接器，以测试上述第三连接器。
12. 根据权利要求1所述的测试装置，其特征是，上述第一连接器是内存插槽、显示卡插槽、扩充卡插槽或周边装置适配卡插槽。
13. —种测试方法，其特征是，利用测试装置与万用表测试主机板的第一连接器，上述第一连接器具有多个第一接脚，上述测试装置包括多个第二接脚、开关单元以及控制器，上述这些第二接脚分别耦接上述第一连接器的上述这些第一接脚，上述开关单元耦接上述这些第二接脚，上述测试方法包括以下步骤接收控制信号；依据上述控制信号来控制上述开关单元的操作，以分别测试上述第一连接器的上述这些第一接脚的其中之一，使得上述测试装置配合上述万用表来测试上述第一连接器，上述万用表提供测试值；以及比较上述测试值与预设值。
14. 根据权利要求13所述的测试方法，其特征是，上述测试值与上述预设值的差值在预设范围内，则所测试的上述这些第一接脚测试通过。
15. 根据权利要求13所述的测试方法，其特征是，上述测试装置通过上述万用表测量上述这些第一接脚，以获得上述测试值。
全文摘要
本发明提供一种测试装置及其测试方法，以测试主机板的第一连接器。第一连接器具有多个第一接脚。测试装置耦接电脑装置与万用表。测试装置包括多个第二接脚、开关单元以及控制器。该些第二接脚分别耦接第一连接器的该些第一接脚。开关单元耦接该些第二接脚。控制器耦接开关单元，控制器接收一来自于电脑装置的控制信号，控制器依据控制信号来控制开关单元的操作，使得测试装置配合万用表来测试第一连接器，且万用表提供测试值至电脑装置。
文档编号G01R31/28GK101769986SQ20091000181
公开日2010年7月7日 申请日期2009年1月6日 优先权日2009年1月6日
发明者孙燕, 尹国煌, 胡建明, 许彬, 马志东 申请人:名硕电脑(苏州)有限公司;和硕联合科技股份有限公司