专利名称：电子装置翻盖性能测试系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种电子装置测试系统，尤其涉及一种对翻盖式电子装置的翻盖性能 进行测试的系统。
背景技术：
随着无线通信技术、信息处理技术的迅速发展以及人们生活水平的日益提高，移 动电话、个人数字助理(personal digital assistant, PDA)等电子装置竞相涌现，进入到 千家万户，使消费者可随时随地享受到高科技带来的种种便利，使得这些便携式无线通信 装置已成为现代人日常生活不可缺少的一部分。这些电子装置中有很大一部分为翻盖式结构，该翻盖式电子装置通常包括一本 体、一盖体及一铰链装置，所述盖体与本体通过该铰链装置可旋转地装设于一起。其中，一 类翻盖式电子装置打开时，需持续施加外力直至盖体相对本体完全打开；而另一类翻盖式 电子装置为半自动翻盖式，打开时，只需施加外力使盖体相对本体翻转至一预定的临界角 度后，其盖体便可在电子装置内部的弹簧等驱动机构作用下继续自动旋转，直至相对本体 完全打开。在翻盖式电子装置出厂前，一般都要对其翻盖性能加以检测。然而，现有的翻盖性 能翻盖测试系统通常都需要以人工手动方式将电子装置盖体进行翻转，因此只适于对第一 种类型的翻盖式电子装置的翻盖性能进行测试。在对于第二种类型的翻盖式电子装置进行 翻盖性能测试时，很难以人工方式将其盖体精确地翻转到预定的临界角度再测试其自动翻 盖性能，一般只能依靠目测及手感判断盖体翻转的角度翻盖性能，测试较为不便，且容易出 错，效率很低。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种可快速高效地对电子装置的翻盖性能进行测试的系统。一种电子装置翻盖性能测试系统，用以对具有一本体及一盖体的翻盖式电子装置 的翻盖性能进行测试，该电子装置翻盖性能测试系统包括一承载机构、一旋转机构、一感应 装置、一驱动装置及一控制装置，该承载机构用以承放电子装置，并将其本体进行定位，该 控制装置控制该驱动装置驱动该旋转机构将盖体旋转至一预定的临界角度，盖体自动打开 直至接触感应装置并对其施加一压力，该感应装置将该压力转化为电信号传送至控制装 置，该控制装置根据该信号进行分析判断电子装置翻盖性能是否正常。相较于现有技术，本发明所述的电子装置翻盖性能测试系统可自动将电子装置的 盖体翻转至一定角度，并通过盖体在自动打开过程中对感测装置产生的压力来分析判断其 翻盖性能是否正常，从而在测试半自动翻盖式类型的电子装置时更加方便高效。
图1是本发明较佳实施方式的电子装置翻盖性能测试系统的立体3
图2是图1所示电子装置翻盖性能测试系统的承载机构及旋转机构的局部分解 图；图3是图1所示电子装置翻盖性能测试系统的承载机构及旋转机构的组装图。主要元件符号说明
权利要求
1.一种电子装置翻盖性能测试系统，用以对具有一本体及一盖体的翻盖式电子装置的 翻盖性能进行测试，其特征在于该电子装置翻盖性能测试系统包括一承载机构、一旋转机 构、一感应装置、一驱动装置及一控制装置，该承载机构用以承放电子装置，并将其本体进 行定位，该控制装置控制该驱动装置驱动该旋转机构将盖体旋转至一预定的临界角度，盖 体自动打开直至接触感应装置并对其施加一压力，该感应装置将该压力转化为电信号传送 至控制装置，该控制装置根据该信号进行分析判断电子装置翻盖性能是否正常。
2.如权利要求1所述的电子装置翻盖性能测试系统，其特征在于该承载机构包括一 基座及至少一设置于该基座的定位块，该定位块一侧凸设二卡持片，该卡持片对放置于基 座的电子装置的本体进行定位。
3.如权利要求2所述的电子装置翻盖性能测试系统，其特征在于该承载机构还包括 一卡持件，该卡持件包括一卡持部及一杆体，该卡持部由一柱状体加工而成，其表面凸设至 少一卡持端，该杆体与卡持部相连，该卡持件装设于该基座，通过旋转该杆体，可使卡持部 的卡持端与定位块的一卡持片配合，对电子装置本体进行卡持。
4.如权利要求3所述的电子装置翻盖性能测试系统，其特征在于该基座包括一安装 面，该安装面四周具有四个垂直相连的侧面，该安装面上开设一容置槽及位于容置槽两侧 的二安装槽，其一侧面上开设一与该容置槽相连通的通孔，所述定位块装设于该安装槽，所 述卡持件的卡持部容设于容置槽内，杆体装设于通孔内。
5.如权利要求4所述的电子装置翻盖性能测试系统，其特征在于该基座沿容置槽一 侧凸设一凸棱，该承载机构还包括一承放板，该承放板设置于容置槽与凸棱相对的一侧，电 子装置可放置在该承放板及凸陵。
6.如权利要求3所述的电子装置翻盖性能测试系统，其特征在于该卡持部由弹性材 料制成。
7.如权利要求1所述的电子装置翻盖性能测试系统，其特征在于该旋转机构包括一 底座、一旋转件、一带动件及一止挡件，该旋转件包括一旋转杆及一与该旋转杆一端垂直相 连的连动杆，该旋转杆可旋转地安装在底座上，该带动件固设于连动杆上，在对电子装置测 试时，带动件放置于本体及盖体之间，从而在旋转杆旋转时，通过连动杆带动盖体一并旋 转，该止挡件在旋转杆旋转至临界角度时，阻止其继续旋转。
8.如权利要求7所述的电子装置翻盖性能测试系统，其特征在于该止挡件包括一主 体及一由该主体一端垂直延伸形成的止挡部，该主体设置于底座一侧，在旋转杆带动盖体 旋转至一定角度时，该止挡部阻止该旋转杆继续旋转。
9.如权利要求4所述的电子装置翻盖性能测试系统，其特征在于该感应装置包括一 感应器，其包括一感应端，该感应器设置在容置槽一侧，盖体自动旋转过程中，接触该感应 端。
全文摘要
本发明公开一种电子装置翻盖性能测试系统，用以对具有一本体及一盖体的翻盖式电子装置的翻盖性能进行测试，该电子装置翻盖性能测试系统包括一承载机构、一旋转机构、一感应装置、一驱动装置及一控制装置，该承载机构用以承放电子装置，并将其本体进行定位，该控制装置控制该驱动装置驱动该旋转机构将盖体旋转至一预定的临界角度，盖体自动打开直至接触感应装置并对其施加一压力，该感应装置将该压力转化为电信号传送至控制装置，该控制装置根据该信号进行分析判断电子装置翻盖性能是否正常。
文档编号G01L5/00GK102109415SQ20091031231
公开日2011年6月29日 申请日期2009年12月25日 优先权日2009年12月25日
发明者杨延锋, 杨英, 黄凌宇, 黄战伟 申请人:深圳富泰宏精密工业有限公司