专利名称：二极管裸芯片电磁铁弹性探针的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种二极管裸芯片电磁铁弹性探针，保证了探针与芯片上的压焊 点接触，把信号反馈给与探针相连接的测试仪，通过测试仪对产品电路进行分析，并对相应 的芯片进行标注，还可以对集成电路、三极管、可控硅及敏感元件进行测试。
背景技术：
一般情况下，一张二极管片子上布置很多的二极管裸芯片，二极管裸芯片完成线 路布置后，为确定每个二极管裸芯片的每条线路是否正常导通，需要用测试探针予以测试， 测试探针的针尖接触测试点，另一头连接导线，通过导线将测试探针与测试仪连接起来。测 试仪是一种分析集成电路、三极管、二极管、可控硅及敏感元件管芯好坏的测试装置。目前探针台上使用的探针，结构通常是带一个弯角的针直接连接在可调节的探针 座上，探针座通过螺钉紧定在探针台的针盘上。探针座通常用来微动调节探针与压焊点接 触的移动部件，可以实现XYZ三方向手动微调，它的作用在使用前前与一组芯片各压焊点 接触好以后，就不在调节。采用目前结构的探针，每测一组二极管裸芯片时，通常测试台承 片台要下降一定高度后，等待承片台移动到下一个二极管裸芯片的位置后再提升到原来高 度进行测试，这就要求承片台往复延Z轴运动，这对承片台的往复定位精度要求很高，而通 常Z轴方向的运动通过小的步进电机来完成，电机的运动就会出现丢步或者误差，从而导 致承片台重复运动定位精度不准确，会导致芯片与探针间的冲击或芯片与探针接触不良等 问题。
发明内容鉴于上述现状，本实用新型提供了一种二极管裸芯片电磁铁弹性探针，从而有效 解决了二极管裸芯片测试过程中，对探针冲击损坏及探针与裸芯片接触不良问题。本实用新型的技术解决方案是一种二极管裸芯片电磁铁弹性探针，包括测试机 构与测试移动架连接；所述测试机构具有呈L形支撑架，该L形支撑架的横架具有的通孔上 安装一个带有探针管的探针管座，该探针管穿过L形支撑架的横架端向一侧引出；在所述L 形支撑架的立架上设置一个安装座及其上安装的电磁铁，该电磁铁上端连接电源导线；电 磁铁下端通过带有的螺纹与安装座连接，使电磁铁下端穿过安装座接于绝缘块，其中绝缘 块一侧端连接一个靠紧铜块，在所述绝缘块与靠紧铜块之间的配合端垂直安装有探针，该 探针分别穿过探针管座和探针管。这样，可利用二极管裸芯片电磁铁弹性探针上的电磁铁 的吸合和释放来实现弹性探针的往复运动。根据本实用新型的特点，所述靠紧铜块侧面对称有V型槽，用以同绝缘块结合时 靠紧探针。在本新型中，所述的探针，其探针针尖圆角R = O. 2mm，主要利用探针接触被检测 的芯片。本实施例所指的绝缘块，材质为尼龙。靠紧铜块的材质为黄铜。
3[0009]总之，本实用新型提供的二极管裸芯片电磁铁弹性探针，通过安装的电磁铁及探 针，检测时，利用通、断电的电磁铁使其吸合或释放来实现弹性探针的往复运动。当利用所 述探针进行测试时，探针可以根据测试要求往复运动，重复性好，从而使探针与二极管裸芯 片线路接触良好，以得到更精确的信号。本实用新型的二极管裸芯片电磁铁弹性探针可应 用于各种二极管裸芯片及对集成电路、三极管、可控硅及敏感元件进行测试。
图1是本实用新型的结构视图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明进行进一步详细描述。见图1所示，包括呈L形支撑架6，该L形支撑架6的横架具有的通孔上，通过螺纹 安装连接一个带有探针管8的探针管座7，该探针管8穿过L形支撑架6的横架端向一侧引 出；在所述L形支撑架6的立架上设置一个安装座2及其上通过螺纹安装电磁铁1，则电磁 铁1下端穿过安装座2，通过螺纹连接绝缘块3，该电磁铁1上端连接电源导线；其中绝缘块 3—侧端连接一个靠紧铜块4及其中部具有一个V槽，通过螺钉5与绝缘块3固定连接；在 所述绝缘块3与靠紧铜块4的V槽之间的配合端垂直安装有探针9，其探针9的针尖圆角R =0. 2mm,使探针9分别穿过探针管座7和探针管8。本实施例的L形支撑架6的立架两侧 开有V型槽，利用L形支撑架6的V型槽安装在三维移动架(图中未给出)上。当利用所述的二极管裸芯片电磁铁弹性探针进行测试时，对电磁铁通、断电，电磁 铁ι动作，带动绝缘块3及靠紧铜块4向上或向下运动，控制探针9随之运动，具有重复性 好，从而使探针与二极管裸芯片线路接触良好，以得到更精确的信号，消除了定位误差和冲 击的影响。实施本实用新型的关键，将探针与电磁铁相连接，在每测一组二极管裸芯片时，探 针可以自动抬起与释放，这就实现针尖与芯片的接触与脱离，而且电磁铁行程一定，重复精 度好，取代了现行技术的承片台Z向的往复运动。也解决的因承片台往复运动带来的冲击 与接触不良等问题。
权利要求二极管裸芯片电磁铁弹性探针，包括测试机构与测试移动架连接；其特征在于，所述测试机构具有呈L形支撑架(6)，该L形支撑架(6)的横架具有的通孔上安装一个带有探针管(8)的探针管座(7)，该探针管(8)穿过L形支撑架(6)的横架端向一侧引出；在所述L形支撑架(6)的立架上设置一个安装座(2)及其上安装的电磁铁(1)，该电磁铁(1)上端连接电源导线；电磁铁(1)下端通过带有的螺纹与安装座(2)连接，使电磁铁(1)下端穿过安装座(2)接于绝缘块(3)，其中绝缘块(3)一侧端连接一个靠紧铜块(4)，在所述绝缘块(3)与靠紧铜块(4)之间的配合端垂直安装有探针(9)，该探针(9)分别穿过探针管座(7)和探针管(8)。
2.如权利要求1所述的二极管裸芯片电磁铁弹性探针，其特征在于，所述L形支撑架 (6)侧面对称有V型槽。
3.如权利要求1所述的二极管裸芯片电磁铁弹性探针，其特征在于，探针针尖圆角R= 0. 2mmο
4.如权利要求1所述的二极管裸芯片电磁铁弹性探针，其特征在于，所述的绝缘块，为 尼龙材料。
5.如权利要求1所述的二极管裸芯片电磁铁弹性探针，其特征在于，所述的靠紧铜块 为黄铜材料。
专利摘要本实用新型公开了一种二极管裸芯片电磁铁弹性探针，包括测试机构与测试移动架连接；所述测试机构具有呈L形支撑架，该L形支撑架的横架具有的通孔上安装一个带有探针管的探针管座，该探针管穿过L形支撑架的横架端向一侧引出；在所述L形支撑架的立架上设置一个安装座及其上安装的电磁铁，该电磁铁上端连接电源导线；电磁铁下端通过带有的螺纹与安装座连接，使电磁铁下端穿过安装座接于绝缘块，其两体也是通过螺纹；其中绝缘块一侧端连接一个靠紧铜块，在所述绝缘块与靠紧铜块之间的配合端垂直安装有探针，该探针分别穿过探针管座和探针管。通过电磁铁的吸合和释放来实现弹性探针的往复运动。取代了以往探针台Z轴的往复运动，节省了空间和成本。
文档编号G01R1/067GK201765257SQ20102022714
公开日2011年3月16日 申请日期2010年6月12日 优先权日2010年6月12日
发明者于梅霞, 李臣友, 李艳霞, 杨刚 申请人:秦皇岛视听机械研究所