一种光场光能量阵列测量装置的制作方法

文档序号:5997862阅读:217来源:国知局
专利名称:一种光场光能量阵列测量装置的制作方法
技术领域
本实用新型涉及激光的功率和能量的检测,尤其是一种适用于大型斑状激光的能量分布均勻性检测的光场光能量阵列测量装置。
背景技术
目前,对光斑均勻性检测一般采用激光功率计进行多点测试记录后,再进行对测量点功率值比较分析来判断光斑能量是否符合要求。此种测量方式复杂,效率低。

实用新型内容本实用新型为解决背景技术中存在的技术问题,而提供一种可一次进行多点检测且可较快判断出光斑的均勻性的光场光能量阵列测量装置。本实用新型的技术解决方案是本实用新型为一种光场光能量阵列测量装置,其特殊之处在于该装置包括光电接收头和MCU处理系统,所述光电接收头与MCU处理系统连接。该装置还包括放大电路,所述光电接收头通过放大电路与MCU处理系统连接。该装置还包括调零电路和标定电路,所述调零电路和标定电路分别与放大电路连接。该装置还包括数据显示装置,所述数据显示装置与MCU处理系统连接。该装置还包括电源管理系统,所述电源管理系统负责给MCU处理系统、放大电路、 调零电路、标定电路和数据显示装置供电。上述光电接收头包括光电接收器件和光电接收头外壳,所述光电接收器件成阵列排布在光电接收头外壳上。上述光电接收器件为光电池或光电二极管。上述放大电路采用0P07C放大器。上述调零电路采用电阻R9、R7、R11和电位器R27组成,所述电阻R9、R7、R11分别和电位器R27相接,通过调节电位器R27使输出为零,所述标定电路主要由VR3电位器构成。上述数据显示装置为LED显示装置或IXD显示装置。本实用新型采用的光电接收头,是对光电接收器件的阵列排布,对被检测光场的光能量或功率进行检测。通过成阵列排布的光电接收器件可一次进行多点检测,然后通过 MCU处理系统进行运算比较,不但可以直接通过LED或IXD显示出测量各点的功率值,还可以较快判断出光斑的均勻性。

图1为本实用新型的原理框图;图2为本实用新型的放大电路原理图;[0017]图3为本实用新型的光电接收头的结构示意图。
具体实施方式
参见图1,本实用新型包括光电接收头、MCU处理系统、放大电路、调零电路、标定电路、电源管理系统和数据显示装置,光电接收头通过放大电路与MCU处理系统连接,调零电路和标定电路分别与放大电路连接,数据显示装置与MCU处理系统连接,电源管理系统负责给MCU处理系统、放大电路、调零电路、标定电路和数据显示装置供电。其中数据显示装置为LED显示装置或IXD显示装置。参见图2,本实用新型中放大电路是对光电接收器件采集的光电信号进行放大,采用0P07C放大器。调零电路减小外界光的干扰的补偿电路,是保证在自然光照下0P07C放大器输出为零即无信号输出,采用电阻R9、R7、R11和电位器R27组成,通过调节电位器R27使输出为零。标定电路是系统所测的功率值与标准功率值相同,由20K的VR3电位器构成,通过调整电位器使输出与标准功率值相同。参见图3,本实用新型的光电接收头包括光电接收器件1和光电接收头外壳2,光电接收器件1成阵列排布在光电接收头外壳上。本实施例采用是五个光电接收器件1,光电接收器件1为光电池或光电二极管。本实用新型工作时,阵列的排布光电接收器件1将各个位置光斑的能量转化为微弱的电信号;放大电路将此信号放大到可以处理的程度;并将此信号送入MCU处理系统的 AD采样口 ;MCU处理系统将采集到的值进行运算和显示,直接通过LED或IXD显示出测量各点的功率值,或通过通讯接口传送给其它系统;通过调整调零电路,使在没有光照时电路的输出为零;通过调整标定电路使功率值与标准功率值相同。
权利要求1.一种光场光能量阵列测量装置,其特征在于该装置包括光电接收头和MCU处理系统,所述光电接收头与MCU处理系统连接。
2.根据权利要求1所述的光场光能量阵列测量装置,其特征在于该装置还包括放大电路,所述光电接收头通过放大电路与MCU处理系统连接。
3.根据权利要求2所述的光场光能量阵列测量装置,其特征在于该装置还包括调零电路和标定电路,所述调零电路和标定电路分别与放大电路连接。
4.根据权利要求3所述的光场光能量阵列测量装置,其特征在于该装置还包括数据显示装置,所述数据显示装置与MCU处理系统连接。
5.根据权利要求4所述的光场光能量阵列测量装置,其特征在于该装置还包括电源管理系统,所述电源管理系统负责给MCU处理系统、放大电路、调零电路、标定电路和数据显示装置供电。
6.根据权利要求1或2或3或4或5所述的光场光能量阵列测量装置,其特征在于 所述光电接收头包括光电接收器件和光电接收头外壳,所述光电接收器件成阵列排布在光电接收头外壳上。
7.根据权利要求6所述的光场光能量阵列测量装置,其特征在于所述光电接收器件为光电池或光电二极管。
8.根据权利要求2所述的光场光能量阵列测量装置,其特征在于所述放大电路采用 0P07C放大器。
9.根据权利要求3所述的光场光能量阵列测量装置,其特征在于所述调零电路采用电阻R9、R7、Rll和电位器R27组成,所述电阻R9、R7、Rll分别和电位器R27相接,通过调节电位器R27使输出为零,所述标定电路主要由VR3电位器构成。
10.根据权利要求4所述的光场光能量阵列测量装置,其特征在于所述数据显示装置为LED显示装置或IXD显示装置。
专利摘要本实用新型涉及一种适用于大型斑状激光的能量分布均匀性检测的光场光能量阵列测量装置。该装置包括光电接收头和MCU处理系统,所述光电接收头与MCU处理系统连接。本实用新型可一次进行多点检测且可较快判断出光斑的均匀性。
文档编号G01J1/44GK201935732SQ20102066952
公开日2011年8月17日 申请日期2010年12月19日 优先权日2010年12月19日
发明者孙建华, 袁科, 郭建 申请人:西安华科光电有限公司
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