专利名称：测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试装置，尤其涉及一种用于测试按键的可靠度和寿命的测试装置。
背景技术：
电子产品在出货之前,需要经过ー连串的可靠度测试(reliability test)及寿命测试(life test)，以确保产品的品质。其中，电子产品的按键用以在使用者按压后而执行各种功能。因此，在按键的可靠度测试中，必须经过重复的按压，以预测按键在长时间使用后，是否维持一定的品质。一种传统的测试装置包括滑块、顶针及弹簧，弹簧套设于滑块上并抵持顶针，顶针对应于ー个按键。当滑块在外力作用下运动时，推挤弹簧和顶针，使顶针按压按键，其后滑块通过弹簧提供的回复カ复位。然而，在测试吋，由于不同测试装置彼此独立，难以统一定位，其按压行程不一致，按压カ不精确，容易影响测试的准确度。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种可提高按键测试精确度的测试装置。一种测试装置，其包括导杆、弾性件、压头、套筒及固定件，弾性件套设于导杆上，压头装配于导杆一端，导杆滑动地穿过套筒，弾性件容置于套筒内，固定件包括本体、第一延伸板及第ニ延伸板，套筒容置于本体内，第一延伸板和第二延伸板相对设置于本体上。上述的测试装置在套筒外设置固定件，便于调整多个测试装置的水平高度一致。同时本发明的测试装置通过第一延伸板和第二延伸板，以便该测试装置挂持。在测试键盘时，多个测试装置的行程一致，按压カ相同，可有效地提高测试精确度。
图I是本发明较佳实施方式测试装置的分解图；图2是图I所示测试装置的固定件的立体图；图3是图I所示测试装置的组装图；图4是图3所示测试装置的工作状态示意图。主要元件符号说明测试装置 100套筒10止挡件20导杆30凸缘32弹性件 40垫圈50
第一调节件62第二调节件64压头70固定件80本体82通孔820表面822第一延伸板84 固定端842卡持端844定位孔846第一^^槽848第二延伸板86固定部862卡持部864卡孔866第二卡槽868键盘200承载件300
具体实施例方式请參阅图1，本发明公开了ー种测试装置100，其用于测试键盘200 (请參阅图4)的可靠度及使用寿命。该测试装置100包括套筒10、ニ止挡件20、导杆30、弾性件40、垫圈50、第一调节件62、第二调节件64、压头70及固定件80。该套筒10为中空结构，其外周壁设置若干等间隔排列的环形凸起。该ニ个止挡件20均为中空圆柱，其分别固定于套筒10两端的内周壁上。该导杆30可滑动地穿过套筒10，导杆30的大致中下部位置环设凸缘32，该凸缘32的直径略大于导杆30的直径。当该导杆30穿过套筒10吋，该凸缘32抵持于其中ー个止挡件20，以不露出套筒10。在本实施例中，该弹性件40为ー螺旋弹簧，其套设于导杆30上，并容置于套筒10内。当该弹性件40套设于导杆30上未被压缩吋，弾性件40的一端与凸缘32接触，另一端与止挡件20接触，以在导杆30运动时，通过与凸缘32和止挡件20相抵持以蓄积弹性势能。垫圈50套设于导杆30上，并位于弾性件40相对凸缘32的一端。在本实施例中，该第一调节件62及第ニ调节件64均为螺母。第一调节件62靠近套筒10装配于导杆30的一端，用于为导杆30的行程(即第一调节件62与套筒10相对位置的改变)建立參考标准，以在测试键盘200前计算导杆30的行程与测试装置100产生的压カ的关系。第二调节件64通过与第一调节件62不同的旋转方向装配于导杆30上，并位于第一调节件62相对套筒10的一端，第一调节件62和第二调节件64通过此种装配方式可避免在测试装置100的振动过程中，第一调节件62出现松动的现象。该压头70固定于导杆30相对第二调节件64的一端，用于按压键盘200。
请參阅图2，该固定件80挂持于一个承载件300上。该固定件80包括一体成型的本体82、第一延伸板84及第ニ延伸板86。在本实施例中，该本体82沿竖直方向开设通孔820，该套筒10可容置在该通孔820内。该本体82包括表面822。该第一延伸板84呈“L”形，包括固定端842及卡持端844。固定端842设于表面822的一端，其上开设定位孔846，定位孔846与通孔820相连通，以通过卡销将该本体82锁固于套筒10上。卡持端844与表面822平行设置并与表面822形成第 ^槽848。该第二延伸板86与第一延伸板84相对设置，第二延伸板86也呈“L”形，包括固定部862和卡持部864。固定部862设于表面822相对第一延伸板84的一端,其上开设卡孔866。卡持部864与表面822平行设置并与表面822形成第二卡槽868，该第二卡槽868与第一卡槽848相对设置，并与卡孔866连通。在本实施例中，该承载件300呈矩形片状，该第二卡槽868与第一卡槽848要有一定宽度以保证该承载件300能够傾斜，且在承载件300倾斜后，其一端可从卡持端844或卡持部864脱出，以便于从该承载件300上取下该固定件80。因此该承载件300的宽度仅能略大于卡持端844与卡持部864之间的距离，但要略小于固定端842与固定部862之间的距离。如此，承载件300即可穿过卡持端844与卡持部864之间，两侧分别卡持于第一卡槽848和第二卡槽868内，也可将固定件80以倾斜方式从承载件300的任意位置挂持于承载件300上。为使固定件80挂持于承载件300上时不出现松动的现象，可采用ー个调节螺母穿过固定部 862的卡孔866，以抵持承载件300。请參阅图3，组装该测试装置100吋，首先将弹性件40套设于导杆30上，并使导杆30穿过套筒10。再将ニ个止挡件20分别装配于套筒10两端，使其中一个止挡件20与凸缘32相抵持。再次将垫圈50、第一调节件62和第二调节件64依次装配于导杆30 —端，将压头70装配于导杆30的另一端。最后将固定件80套设于套筒10外周，并用卡销锁固。如此，即完成该测试装置100的组装。请结合參阅图4,当需要对键盘200测试时,首先,选择ー个振动装置(图未示),并依据不同测试需求调整振动装置产生的压力。其次将若干测试装置100挂持于承载件300上，并通过套筒10上的环形凸起使所有测试装置100保持水平高度一致。其后，将承载件300固定于振动装置上，启动振动装置使其带动承载件300作上下振动。此时测试装置100的压头70作用于键盘200上，并产生一定的按压力，导杆30受カ朝远离键盘200的方向运动，凸缘32抵持弹性件40，使弾性件40压缩直到导杆30位移一定距离后，弾性件40释放蓄积的弹性势能以使导杆30复位。最后振动装置再带动测试装置100下移并通过压头70重新按压键盘200。如此通过多次按压即可测试该键盘200的可靠度及寿命。显然由于本发明的测试装置100可通过固定件80挂持于承载件300上，在测试过程中，各个测试装置100的按压行程相同，按压カ相同，测试精确度高。在测试过程中，若其中一个测试装置100需要更换时，可先将调节螺母从卡孔866中旋出，再将测试装置100从承载件300上取下即可。显然，通过在固定件80设置第一延伸板84和第二延伸板86，可便于多个测试装置100同时挂持，且测试装置100可単独地从承载件300的任意位置取下而不影响其他测试装置100。可以理解，由于弹性件40不会伸出套筒10与第一调节件62接触，故本发明的垫圈50也可省略。本发明所述的测试装置100通过固定件80挂持于承载件300上，并通过固定件80与套筒10配合调节测试装置100的水平高度，使得在测试过程中，不同测试装置100的按 压行程相同，作用于键盘200上的压カ相同，测试精确度高。
权利要求
1.一种测试装置，其包括导杆、弾性件及压头，弾性件套设于导杆上，压头装配于导杆一端，其特征在于所述测试装置还包括套筒及固定件，导杆滑动地穿过套筒，弾性件容置于套筒内，固定件包括本体、第一延伸板及第ニ延伸板，套筒容置于本体内，第一延伸板和第二延伸板相对设置于本体上。
2.如权利要求I所述的测试装置，其特征在于所述第一延伸板包括固定端及卡持端，固定端设于本体上，卡持端与本体形成第一卡槽，所述第二延伸板包括固定部和卡持部，固定部设于本体上，卡持部与本体形成第二卡槽，第二卡槽与第一卡槽相対。
3.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于所述测试装置挂持于一个承载件上，承 载件于第一卡槽和第二卡槽内发生傾斜，以从卡持端或卡持部脱出。
4.如权利要求I所述的测试装置，其特征在于所述本体上开设通孔，所述套筒穿过通孔。
5.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于所述固定端开设定位孔，定位孔与通孔连通，以通过卡销将本体锁固于套筒上。
6.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于所述固定部开设卡孔，卡孔与第二卡槽连通。
7.如权利要求I所述的测试装置，其特征在于所述套筒外周设置若干环形凸起，环形凸起等间距设置。
8.如权利要求I所述的测试装置，其特征在于所述测试装置包括第一调节件及第ニ调节件，第一调节件和第二调节件通过不同的旋转方向装配于导杆一端，第一调节件靠近套筒设置。
9.如权利要求I所述的测试装置，其特征在于所述测试装置包括ニ个止挡件，所述ニ个止挡件均为中空结构，其分布装配于套筒两端的内壁上。
10.如权利要求9所述的测试装置，其特征在于所述导杆上设置凸缘，所述凸缘的直径大于导杆的直径，所述弹性件抵持于凸缘，所述凸缘抵持于止挡件。
全文摘要
本发明提供一种测试装置，其包括导杆、弹性件、压头、套筒及固定件，弹性件套设于导杆上，压头装配于导杆一端，导杆滑动地穿过套筒，弹性件容置于套筒内，固定件包括本体、第一延伸板及第二延伸板，套筒容置于本体内，第一延伸板和第二延伸板相对设置于本体上。该测试装置便于挂持和取下，测试精确度高。
文档编号G01R1/02GK102650680SQ20111004448
公开日2012年8月29日 申请日期2011年2月23日 优先权日2011年2月23日
发明者余国俊, 李元钊, 胡永兵, 黄登聪 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司