专利名称：一种圆盘位置的测量装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及圆盘类零件的测量装置，具体涉及一种圆盘各孔位置的测量装置，属于圆盘类零件制造技术领域。
背景技术：
目前多孔的圆盘测量较麻烦，有些采用专业的测量装置成本较高而且较重不易移动，有些则采用百分表进行逐一检验测试，不仅费时、费力，而且还不易分析出各孔的综合尺寸公差，直接影响工作质量和浪费资源。因此，为了提高圆盘位置的测量效率，降低工作强度，实现简易化操作，特对圆盘位置的测量装置进行改进。
发明内容
本发明的目的是设计一种多轴位一起测量圆盘位置的测量装置，以改进其测量效^ ο本发明包括圆盘测量基座、圆盘测量小支柱、圆盘测量大支柱、圆盘，其特征是将圆盘测量基座和8个圆盘测量小支柱、1个圆盘测量大支柱集成为一体，测量时只要将圆盘套入集成为一体的装置中，如果圆盘能够一次性顺利套入装置中，则判定圆盘质量合格，如果不能一次性套入装置中，则判定圆盘质量不合格，该装置是集成了 8个圆盘测量小支柱和1个圆盘测量大支柱为一体进行测量，达到轻松检测的目的。本发明设计了圆盘测量基座、8个圆盘测量小支柱和1个圆盘测量大支柱，该装置是集成了 8个圆盘测量小支柱和1个圆盘测量大支柱为一体进行测量，上述零件均可通过采购和制作获得，且不增加任何其他的零件，因此该装置原理简单、外形简洁、零件加工容易、安装方便，既提高了工作效率，又降低了工作强度。
图1为本发明的使用状态剖视图；图2为图1的俯视图；图3为被测量圆盘的主视图；图4为图3的俯视图；图5为本发明的主视图；图6为图5的俯视图。
具体实施例方式参照图1，图2、图3、图4、图5、图6，将圆盘测量基座和1个圆盘测量大支柱、8个圆盘测量小支柱集成为一体，其中圆盘测量大支柱的下端以紧配的方式与圆盘测量基座连接，8个圆盘测量小支柱的下端以紧配的方式与圆盘测量基座连接，测量时只要将圆盘套入集成为一体的圆盘测量基座中，如果圆盘能够一次性顺利套入装置中，如果圆盘能够一次性顺利套入装置中，则判定圆盘质量合格，如果不能一次性套入装置中，则判定圆盘质量不合格，该装置是集成了 8个圆盘测量小支柱和1个圆盘测量大支柱为一体进行测量，达到轻松检测的目的。 在圆盘测量基座上设置有外径< 被测量的圆盘的中心孔内径的圆盘测量大支柱， 在圆盘测量大支柱的外侧同心圆上设置有一个以上的外径<被测量的圆盘的同心圆上的孔内径的圆盘测量小支柱，圆盘测量基座与圆盘测量大支柱和圆盘测量小支柱为一体式结构或圆盘测量大支柱和圆盘测量小支柱与基座上的对应安装孔过盈配合连接。
权利要求
1.一种圆盘位置的测量装置，其特征在于在圆盘测量基座(1)上设置有外径《被测量的圆盘的中心孔内径的圆盘测量大支柱(11)，在圆盘测量大支柱(11)的外侧同心圆上设置有一个以上的外径《被测量的圆盘的同心圆上的孔内径的圆盘测量小支柱(12)。
2.根据权力要求1所述的一种圆盘位置的测量装置，其特征在于一个以上的圆盘测量小支柱(12)有八个。
3.根据权力要求1所述的一种圆盘位置的测量装置，其特征在于圆盘测量基座(1) 与圆盘测量大支柱(11)和圆盘测量小支柱(1 为一体式结构或圆盘测量大支柱(11)和圆盘测量小支柱(1 与基座(1)上的对应安装孔过盈配合连接。
全文摘要
一种圆盘位置的测量装置涉及圆盘类零件的测量装置，具体涉及一种圆盘各孔位置的测量装置，属于圆盘类零件制造技术领域，本发明包括圆盘测量基座、圆盘测量小支柱、圆盘测量大支柱、圆盘，其特征是将圆盘测量基座和8个圆盘测量小支柱、1个圆盘测量大支柱集成为一体，测量时只要将圆盘套入集成为一体的装置中，如果圆盘能够一次性顺利套入装置中，则判定圆盘质量合格，如果不能一次性套入装置中，则判定圆盘质量不合格，该装置是集成了8个圆盘测量小支柱和1个圆盘测量大支柱为一体进行测量，达到轻松检测的目的。
文档编号G01B5/00GK102226676SQ20111008201
公开日2011年10月26日 申请日期2011年3月30日 优先权日2011年3月30日
发明者邱玲燕 申请人:邱玲燕