专利名称：一种试验参数获取方法和装置的制作方法
技术领域：
本发 明涉及超材料领域，尤其涉及一种试验参数获取方法和装置。
背景技术：
在超材料领域，即人工电磁材料设计领域，测量人工电磁材料单元结构体(或称结构单元)的电磁特性，是人工电磁材料设计过程中的一个重要环节。而如何选取一定尺寸的人工电磁材料单元结构体用于电磁仿真测量，又是整个设计过程中必须要解决的问题。对应单个微结构单元,其结构特点(如,几何形状信息)一般由一组参数描述,参数的取值代表形状的大小。在合理的参数取值范围内，每个参数又对应多个取值水平。为了获得对特定类型微结构单元的电磁响应特征规律，经常需要做大量的实验。如何安排实验，用尽量少的实验次数获得对特定类型结构单元的电磁响应规律，是超材料设计开发中经常会碰到的问题。现有技术中普遍采用“正交设计法”安排多因素试验，但对于拓扑结构对应的几何参数较多或/和取值水平较多的实验，这类方法需要进行的试验次数太多、耗时太长、所耗资源过于昂贵。例如对一种‘工’型拓扑结构的超材料单元(如
图1所示)进行试验。定义结构形状几何参数为[a,b], G为几何参数向量，即G=[a,b]。为参数a, b设置相参数水平分别为
, [1，2，3，4]时，生成正交表如表I所示。表格有KaiTi_GB2312字体和 Times New Roman 字体？
表1:正交试验设计表
权利要求
1.一种试验参数获取方法，其特征在于，所述方法包括: 根据超材料单元结构体的结构特点选取结构体的结构参数和所述结构参数的参数水平; 根据所述结构参数和所述参数水平基于均匀试验设计策略获取对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量时所使用的均匀试验点组； 根据所述均匀试验点组将所述试验区域划分为多个局部试验分区，其中，所述试验区域为根据所述均匀试验点组中的试验点划分的囊括了所述结构参数的参数水平的所有随机组合形成的试验点的区域； 在所述多个局部试验分区内分别对所述结构参数进行随机采样，获得对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量的随机试验点组； 将所述均匀试验点组和随机试验电组作为对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量的实际试验点组，以便按照所述实际试验点组进行所述超材料单元结构体的电磁特性测量。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述结构特点包括所述超材料单元结构体的几何形状特点，所述结构参数包括所述超材料单元结构体的几何参数，所述结构参数中各参数的参数水平个数相同。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述均匀试验点组涵盖了所有结构参数各自的参数水平信息。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，进行所述随机采样的总采样次数根据对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量的测量能力确定。
5.如权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括: 按照所述实际试验点组进行所述超材料单元结构体的电磁特性测量。
6.一种试验参数获取装置，其特征在于，所述装置包括: 参数定义模块，用于根据超材料单元结构体的结构特点选取结构体的结构参数和所述结构参数的参数水平； 均匀试验模块，用于根据所述结构参数和所述参数水平基于均匀试验设计策略获取对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量时所使用的均匀试验点组； 试验分区模块，用于根据所述均匀试验点组将所述试验区域划分为多个局部试验分区，其中，所述试验区域为根据所述均匀试验点组中的试验点划分的囊括了所述结构参数的参数水平的所有随机组合形成的试验点的区域； 随机采样模块，用于在所述多个局部试验分区内分别对所述结构参数进行随机采样，获得对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量的随机试验点组； 试验组确定模块，用于将所述均匀试验点组和随机试验电组作为对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量的实际试验点组，以便按照所述实际试验点组进行所述超材料单元结构体的电磁特性测量。
7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述结构特点包括所述超材料单元结构体的几何形状特点，所述结构参数包括所述超材料单元结构体的几何参数，所述结构参数中各参数的参数水平个数相同。
8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述均匀试验点组涵盖了所有结构参数各自的参数水平信息。
9.如权利要求8所述的装置，其特征在于，所述随机采样模块进行所述随机采样时，所述随机采样的总采样次数根据对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量的测量能力确定。
10.如权利要求6至9中任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括: 测量试验模块，用于按照所述实际试验点组进行所述超材料单元结构体的电磁特性测 量。
全文摘要
本发明实施例公开了一种试验参数获取方法和装置，该方法包括根据超材料单元结构体的结构特点选取结构体的结构参数和所述结构参数的参数水平；基于均匀试验设计策略获取对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量时所使用的均匀试验点组；根据所述均匀试验点组将所述试验区域划分为多个局部试验分区；在所述多个局部试验分区内分别对所述结构参数进行随机采样，获得对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量的随机试验点组；将所述均匀试验点组和随机试验电组作为对所述超材料单元结构体的电磁特性进行测量的实际试验点组。采用本发明，可以获得合适的试验组进行电磁特性测量。
文档编号G01R29/08GK103176060SQ20111043164
公开日2013年6月26日 申请日期2011年12月21日 优先权日2011年12月21日
发明者刘若鹏, 季春霖, 刘斌 申请人:深圳光启高等理工研究院