晶体谐振器测试夹具的制作方法

文档序号:5925107阅读:350来源:国知局
专利名称:晶体谐振器测试夹具的制作方法
技术领域
本实用新型涉及两端口芯片测试夹具,尤其涉及一种晶体谐振器测试夹具,特别针对声表面波(SAW)谐振器的测试。
背景技术
常见的两端口芯片测试夹具为采用PCB板夹于金属屏蔽盒中层叠构成,夹具中有对应芯片焊盘的探针。测试晶体谐振器时,将谐振器置于探针之上,采用一定措施使之固定并与测试探针相接触,避免了直接用PCB板测试时需要将待测晶体重复焊接并取下的问题。但是,这种夹具往往只可测试谐振器的两端口简单参数,且谐振器放置需人为固定,可能导致测试不确定性增加。
发明内容本实用新型的目的在于克服传统晶体谐振器测试夹具测试参数单一以及测试不确定性大等缺陷,特别设计一种的晶体谐振器测试夹具。本实用新型为实现上述目的所采取的技术方案是一种晶体谐振器测试夹具,其特征在于,包括PCB板、盖板、上盖及屏蔽盒,所述PCB板上设有用于焊接测试探针的过孔,PCB板上的传输微带线两个端口分别焊接用于连接测试仪器的SMA接头,盖板上设有两个用于放置被测器件的凹槽,分别为第一凹槽和第二凹槽,屏蔽盒中设有屏蔽腔,中间设有一道用于屏蔽晶体谐振器输入与输出之间信号泄露的金属脊,PCB板固定在屏蔽盒上,盖板固定在PCB板上,上盖与盖板通过连接轴连接且由螺钉固定。本实用新型所产生的有益效果是采用本测试夹具可测试晶体谐振器多个参数,而且操作简单。从而克服了传统晶体谐振器测试夹具测试参数单一以及测试不确定性大等缺陷。本测试夹具可用于同样封装尺寸的各种晶体谐振器的测试。

图1是晶体谐振器测试夹具立体结构示意图。图2是晶体谐振器测试夹具装配分解图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步说明。参照图1和图2,晶体谐振器测试夹具包括PCB板1、盖板5、上盖6及屏蔽盒8,PCB板1上设有用于焊接测试探针9的过孔,PCB板1上的传输微带线两个端口分别焊接用于连接测试仪器的SMA接头2,盖板5上设有两个用于放置被测器件的凹槽,分别为第一凹槽3和第二凹槽4,屏蔽盒8中设有屏蔽腔11,中间设有一道用于屏蔽晶体谐振器输入与输出之间信号泄露的金属脊12,PCB板1用螺钉固定在屏蔽盒8上,盖板5用螺钉固定在PCB板1上,上盖6与盖板5通过连接轴7连接且由螺钉10固定。[0009]上述测试夹具中设有两个放置元器件的位置(第一凹槽3和第二凹槽4),一个用于放置测试用晶体谐振器,一个用于放置测试谐振器参量所需其它阻容器件等。此设计为晶体谐振器两端口传输特性测试之外的其它测试提供了方便。测试人员可以根据需要选择不同的测试件,得出需要的参量。测试用各种器件放入测试位置后,上盖6压下将其固定。整个测试PCB板置于盖板5和金属屏蔽盒8之间,便于保护测试线路。盖板5和上盖6为注塑件,盖板5上设有的第一凹槽3和第二凹槽4,一方面可以保护焊接在PCB板上的测试探针9,另一方面可以将被测试晶体谐振器和测试组件定位,当放入被测晶体谐振器和测试组件后,将上盖6翻下,上盖6上设有的两个凸块压住测试件,防止晶体谐振器和测试探针之间接触不好。盖板5和上盖6直接用连接轴7连接,方便操作。屏蔽盒8采用金属材料,在金属屏蔽盒8中设有屏蔽腔11,中间设有一道金属脊12,有效地屏蔽了晶体输入与输出之间的信号泄露。整个测试夹具用螺钉10固定。在测试过程中,整个测试夹具相当于一个黑匣子,测试人员只需将待测器件放入盖板5的相应凹槽中即可,PCB板以及其它电路在外面都不会看到,有效地保护了相关设计。
权利要求1. 一种晶体谐振器测试夹具,其特征在于,包括PCB板(1)、盖板(5)、上盖(6)及屏蔽盒(8),所述PCB板(1)上设有用于焊接测试探针(9 )的过孔,PCB板(1)上的传输微带线两个端口分别焊接用于连接测试仪器的SMA接头(2 ),盖板(5 )上设有两个用于放置被测器件的凹槽,分别为第一凹槽(3)和第二凹槽(4),屏蔽盒(8)中设有屏蔽腔(11),中间设有一道用于屏蔽晶体谐振器输入与输出之间信号泄露的金属脊(12),PCB板(1)固定在屏蔽盒(8) 上,盖板(5)固定在PCB板(1)上,上盖(6)与盖板(5)通过连接轴(7)连接且由螺钉(10) 固定。
专利摘要本实用新型涉及一种晶体谐振器测试夹具,本测试夹具包括PCB板、盖板、上盖及屏蔽盒,PCB板上设有用于焊接测试探针的过孔,PCB板上的传输微带线两个端口分别焊接用于连接测试仪器的SMA接头,盖板上设有两个用于放置被测器件的凹槽,分别为第一凹槽和第二凹槽,屏蔽盒中设有屏蔽腔,中间设有一道用于屏蔽晶体谐振器输入与输出之间信号泄露的金属脊,PCB板固定在屏蔽盒上,盖板固定在PCB板上,上盖与盖板通过连接轴连接且由螺钉固定。采用本测试夹具可测试晶体谐振器多个参数,而且操作简单。从而克服了传统晶体谐振器测试夹具测试参数单一以及测试不确定性大等缺陷。本测试夹具可用于同封装的各种晶体谐振器的测试。
文档编号G01R1/04GK202256398SQ201120363079
公开日2012年5月30日 申请日期2011年9月26日 优先权日2011年9月26日
发明者刘志锋, 李忠诚, 李鸿儒, 王云灵 申请人:北京华龙通科技有限公司, 天津七一二通信广播有限公司
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