专利名称：电测治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种电测治具，属于测试技术领域。
背景技术：
FPC的两个端部通常为导电电极，即金手指，用来与其他电子产品相连通，以达成电性导通。FPC在与其他模组组件如触控屏、显示面板等连接时，通常由压着机先将FPC — 端的导电电极与模组组件的周边线路进行压合，如使FPC的一端与触控传感层压合连通， 一端连通后再将FPC的另一端与电路板连通。为了避免FPC压合后的压着不良，通常在FPC 一端压合后对其进行电性测试。现有技术中，电性测试采用插拔式，插拔式的电测治具上设置有专门连接FPC的连接卡扣，测试时需人工打开连接卡扣，将FPC另一未压合端插入连接卡扣，再闭合连接卡扣以固定FPC，然后进行检测，这种插拔式的检测方式易损伤FPC及电测治具上的连接卡扣，且插拔过程较费时。
实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种电测治具，将FPC自由端送入电测治具进行检测，不损伤FPC及电测治具上的连接卡扣，节省电测时间。为解决上述技术问题，本实用新型提供一种电测治具，其特征是，包括一带有测试电极的测试板、置于所述测试板之上的下压板、平行置于所述下压板上的可运动的上压板， 所述上压板上设置一带推动机构的可推动所述上压板向下运动的盖板；所述推动机构可为一压合盖板的把手机构；所述下压板、上压板上包含多个垂直贯通的针孔构成的检测区，多个所述针孔内分别设置有探针，所述探针由上端头、下端头以及位于两者之间的探针体组成，所述探针体的直径大于所述上端头和所述下端头的直径，所述探针的下端头穿过所述下压板与所述测试板上的测试电极碰触；所述探针的上端头可由所述上压板的针孔内伸出；仅当所述上压板向下运动时，所述探针的上端头才伸出所述上压板的针孔，与由所述上压板、所述盖板夹持的待测FPC上的电极碰触。检测区可为一个或多个区域，根据需要检测的FPC自由端数量设置由多个所述针孔构成的相应数量的检测区域。所述探针包含上端头和下端头以及位于两者之间的探针体，所述探针体的直径大于上端头的直径和下端头的直径。所述下压板下部的针孔孔径小于所述下压板上部的针孔所容置的所述探针体的直径。所述上压板的针孔孔径大于所述探针的上端头直径，小于所述探针体直径。所述下压板与所述上压板之间设置一中压板，所述中压板上包含与所述下压板、 上压板对应的针孔，所述针孔位于中压板内上部的孔径小于位于下部的孔径所容置的探针体的直径。[0013]所述中压板固定设置，所述上压板与所述中压板之间设置有可使上压板恢复初始位置的恢复构件。所述可使上压板恢复初始位置的恢复构件可为弹簧构件。所述检测区中的相邻所述针孔相互交错排列。所述检测区中的相邻所述针孔相互交错排列成多排。所述检测区中的相邻所述针孔相互交错排列成两排。还包含对待测FPC位置进行定位的定位装置。本实用新型所达到的有益效果本实用新型的电测治具，将FPC自由端送入电测治具进行检测，不损伤FPC及电测治具上的连接卡扣，节省检测时间，提高了检测效率。
图1是本实用新型电测治具一实施例示意图；图2是图1的电测治具未压合时示意图；图3是图1的电测治具压合时示意图；图4是另一实施例上压板俯视示意图；图中，测试台1、测试板2、测试电极21、下压板3、针孔31、中压板4、针孔41、上压板5、针孔51、盖板6、弹簧7、FPC8、导电电极81、探针9、下端头91、探针体92、上端头93、 操作把手10、检测区11。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案，而不能以此来限制本实用新型的保护范围。实施例1如图1所示，本实用新型的电测治具包括设置在测试台1上的测试板2、置于测试板2之上的下压板3、平行置于下压板3上的上压板5、设置在下压板3、上压板5之间的中压板4，中压板4与上压板5之间设置有弹性构件弹簧7，上压板5上设置一带操作把手的盖板6。未操作盖板6下压时，上压板5与盖板6之间的距离可容纳需电性测试的FPC8推入、退出。下压板3、中压板4和上压板5上包含多个位置对应的针孔31、针孔41、针孔51， 针孔内设置有探针9，一根探针9分别穿过下压板3、中压板4和上压板5内的针孔31、针孔 41、针孔51。下压板3内的针孔31壁上设有台阶，下部的针孔孔径小于探针体92的直径，下部针孔内容纳探针9的下端头91，上部的针孔内容纳部分探针体92。探针9的下端头91与测试板2上的测试电极21电性连通。上压板5的针孔51孔径大于探针的上端头93直径， 小于探针体92直径，用于容纳探针9的部分上端头93。中压板4内的针孔41壁上设有台阶，上部的针孔孔径小于探针体92的直径。下部针孔内容纳部分探针体92，上部的针孔内容纳部分探针上端头93。FPC8推入进行电性测试时，其上的导电电极81面朝向上压板5，并由定位装置限定其各导电电极恰好推至位于与上压板5上的多个针孔51相对的位置。由于上压板5、中压板4和下压板3上的针孔51、41、31孔径相对非常小，各孔之间距离非常近，因此，加工难度增加，且由于各孔相距较近，相邻的探针的上端头伸出时易发生相互接触，干扰测试。因此，较佳的针孔的排列方式是将相邻针孔错开排列，形成相互交错的两排针孔。测试过程为如图2、图3所示，FPC8的一端已与其他电子产品如触控传感层压合，将FPC另一未压合端推入盖板6与上压板5之间的夹缝中，FPC8上的导电电极81面朝向上压板5，并由定位装置限定其各导电电极81恰好推至位于与上压板5上的多个针孔51相对的位置。 操作把手使盖板6向下压FPC8，FPC8贴于上压板5上与上压板5 —起向下运动；上压板5 压缩弹簧7，上压板5与中压板4之间的距离随着弹簧7的压缩而逐渐靠近，位于上压板5 针孔51内的探针上端头93会从孔内探出上压板5的上表面，与置于上压板5之上的FPC8 的导电电极81接触连通，由探针9实现了将测试板2与FPC8的电极连通，从而進行测试。实施例2如图4所示，在实施例1的基础上，本实施例中，以一触控传感层上压合三根FPC 为例，根据需检测的三根FPC的位置，对应设置电测治具中包含三个检测区11，即上压板5 上包含三个检测区11，每个检测区11中设有多个相互交错成两排的针孔51，针孔51内设有探针，与上压板对应的中压板、下压板上均包含三个对应检测区，每个检测区中都对应设有针孔，其中上压板对应检测区向下凹陷(图中未画出)，以容置FPC对其定位，在此对中压板及下压板结构不再重复叙述，其其余结构及对应关系与实施例1相同，使电测治具同时对三根FPC进行电性测试，提高了工作效率。以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变形，这些改进和变形也应视为本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种电测治具，其特征是，包括一带有测试电极的测试板、置于所述测试板之上的下压板、平行置于所述下压板上的可运动的上压板，所述上压板上设置一带推动机构的可推动所述上压板向下运动的盖板；所述下压板、上压板上包含多个垂直贯通的针孔构成的检测区，多个所述针孔内分别设置有探针，所述探针的下端头穿过所述下压板与所述测试板上的测试电极碰触；所述探针的上端头可由所述上压板的针孔内伸出；所述上压板向下运动时，所述探针的上端头伸出所述上压板的针孔，与由所述上压板、 所述盖板夹持的待测FPC上的电极碰触。
2.根据权利要求1所述的电测治具，其特征是，所述探针包含上端头和下端头以及位于两者之间的探针体，所述探针体的直径大于上端头的直径和下端头的直径。
3.根据权利要求2所述的电测治具，其特征是，所述下压板下部的针孔孔径小于所述下压板上部所容置的探针体的直径。
4.根据权利要求2所述的电测治具，其特征是，所述上压板的针孔孔径大于所述探针的上端头直径，小于所述探针体直径。
5.根据权利要求2所述的电测治具，其特征是，所述下压板与所述上压板之间设置一中压板，所述中压板上包含与所述下压板、上压板对应的针孔，所述针孔位于中压板内上部的孔径小于位于下部所容置的探针体的直径。
6.根据权利要求5所述的电测治具，其特征是，所述中压板固定设置，所述上压板与所述中压板之间设置有可使上压板恢复初始位置的恢复构件。
7.根据权利要求1所述的电测治具，其特征是，所述检测区中的相邻所述针孔相互交错排列。
8.根据权利要求1至7中任意一项所述的电测治具，其特征是，所述检测区中的相邻所述针孔相互交错排列成多排。
9.根据权利要求1至7中任意一项所述的电测治具，其特征是，所述检测区中的相邻所述针孔相互交错排列成两排。
10.根据权利要求1所述的电测治具，其特征是，还包含对待测FPC位置进行定位的定位装置。
专利摘要本实用新型公开了一种电测治具，包括测试板、置于测试板之上的下压板、平行置于下压板上的可运动的上压板，上压板上设置一带推动机构的可推动所述上压板向下运动的盖板；下压板、上压板上包含多个垂直贯通的针孔构成的检测区，多个针孔内分别设置有探针，探针的下端头穿过下压板与测试板上的测试电极碰触；探针的上端头位于上压板的针孔内；仅当上压板向下运动时，探针的上端头才伸出所述上压板的针孔，与由上压板、盖板夹持的待测FPC上的电极碰触。本实用新型的电测治具，将FPC自由端送入电测治具以进行检测，不损伤FPC上的导电电极及电测治具上的检测电极，节省检测时间，提高了检测效率。
文档编号G01R31/28GK202330639SQ20112048858
公开日2012年7月11日 申请日期2011年11月30日 优先权日2011年11月30日
发明者冀海明 申请人:南京瀚宇彩欣科技有限责任公司