专利名称：一种老化测试治具的制作方法
技术领域：
本发明涉及老化测试技术领域，具体的涉及一种老化测试治具。
背景技术：
随着社会的发展，人们对电子产品的质量要求是越来越高，为了提高电子产品的出厂质量，在出厂前需要对电子产品进行一系列的老化测试。现有技术中，对电子产品进行老化测试时，采用对电子产品进行单个电连接测试，然而这种单个产品测试的方式效率很低；另一方面，电子产品的老化测试时，往往需要进行如光照老化、湿热老化等多个项目的老化测试，则电子产品的接口需要与不同的测试设备进行电连接，在测试项目转换时，电子产品的接口需要多次插拔，导致接口磨损大，从而影响了电子产品的使用寿命。为了解决上述技术问题，中国发明专利(专利号201120161188.X)公开了一种老化测试治具，其技术方案包括有基座、信号接口装置、产品固定座和电接触板，电接触板设置有多个AC信号接口组，AC信号接口组与信号接口装置电连接，当电接触板滑动到与产品固定座的端面贴合时，AC信号接口组与产品固定座上的电子产品安装孔相对应且AC信号接口组位于电子产品安装孔上方。虽然，该治具可同时进行多个电子产品的老化测试，将信号接口装置与测试设备电连接后进行老化测试，可避免由于多次拔插而对电子产品接口的磨损。然而，其缺陷在于一方面，操作时，需要先将电接触板移动至与产品固定座的端面贴合的位置处，然后将电接触板固定住，使电接触板上的电接触端组与电子产品的接口电连接，然后将信号接口装置与测试设备电连接，方能完成电子产品的一项老化测试。该过程操作繁琐，而且使用过程中，电接触板反复前后滑动容易受损，造成接触不良或定位不准确， 从而降低了老化测试效率；另一方面，对电子产品进行老化测试前，该治具仍需要连接电子负载，而且治具的结构复杂，不利于生产加工。
发明内容
本发明的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种结构简单、老化测试效率高、操作简单快速、性能稳定的老化测试治具。本发明的目的通过以下技术方案实现
提供一种老化测试治具，包括有底座和设置于底座上方的上盖，所述底座设置有底座 PCB板，所述底座PCB板设置有DC信号连接装置，所述底座与所述上盖相对的内表面开设有产品放置槽，所述产品放置槽内设置有DC信号接口，所述DC信号接口通过所述底座PCB板与所述DC信号连接装置电连接；
所述上盖内设置有上盖PCB板，所述上盖PCB板设置有AC信号连接装置和与所述AC 信号连接装置电连接的AC信号接口。优选的，所述底座的一侧开设有DC安装槽，所述DC信号接口装置与所述DC安装槽相配合且安装于所述DC安装槽内；
所述上盖的一侧开设有AC安装槽，所述AC信号接口装置与所述AC安装槽相配合且安装于所述AC安装槽内。优选的，所述上盖与所述底座相对的内表面开设有插孔，所述AC信号接口设置于所述插孔内。优选的，所述底座与所述上盖铰接。进一步的，所述上盖的内表面设置有第一固定座，所述第一固定座设置有铰链，所述底座的内表面设置有第二固定座，所述第二固定座开设有穿孔，所述铰链轴穿设于所述穿孔。另一优选的，所述老化测试治具还包括有锁扣装置，所述锁扣装置包括有固定于所述底座的第一支座、固定于所述上盖的第二支座、以及锁扣臂，所述锁扣臂的一端卡接于所述第一支座，所述锁扣臂的另一端铰接于所述第二支座。进一步的，所述锁扣臂呈倒L形，所述锁扣臂的弯折部设置有铰接轴，所述铰接轴与所述第二支座铰接，所述铰接轴套设有扭簧；
所述第一支座开设有卡槽，所述锁扣臂的一端设置有与所述卡槽相匹配的卡凸。另一优选的，所述老化测试治具还包括有负载装置，所述负载装置包括有壳体、基座、以及设置于基座的负载DC信号连接装置和负载AC信号连接装置，所述基座下方设置有电源、时序板和电子负载，所述壳体的底部设置有导电铜板；
所述底座设置于所述负载装置的基座，所述DC信号连接装置和所述负载DC信号连接装置电连接，所述AC信号连接装置和所述负载AC信号连接装置电连接。进一步的，所述DC信号连接装置、所述AC信号连接装置、所述负载DC信号连接装置以及所述负载AC信号连接装置均设置有两个。进一步的，所述老化测试治具的底座和上盖均设置有定位柱，所述负载装置设置有与所述定位柱相配合的定位孔。本发明的一种老化测试治具工作时，将电子产品安装于产品放置槽内，电子产品的DC连接端与DC信号接口电连接，并通过底座PCB板与DC信号连接装置电连接，从而使电子产品的DC连接端与DC信号连接装置电连接，同时，电子产品的AC连接端与上盖的AC 信号接口电连接，AC信号接口通过上盖PCB板与AC信号连接装置电连接，从而使电子产品的AC信号接口与AC信号连接装置电连接。当需要进行老化时，只需要将DC信号连接装置和AC信号连接装置依次与老化设备电连接，即可完成电子产品的老化；当需要进行测试时，只需要将DC信号连接装置和AC信号连接装置依次与测试设备电连接，即可完成电子产品的测试。由此，本发明的老化测试治具同时实现了老化以及测试的功能，其结构简单、整个操作简单快速，大大提高了电子产品的老化以及测试效率，从而提高了生产效率，有利于企业的规模化生产，特别适于现代化企业快速发展的需要。
图I为本发明的实施例I的老化测试治具的结构示意图。图2为本发明的实施例I的老化测试治具的底座的结构示意图。图3为本发明的实施例I的老化测试治具的上盖的结构示意图。图4为本发明的实施例2的老化测试治具的锁扣装置的结构示意图。图5为本发明的实施例3的老化测试治具以及负载装置的使用状态结构示意图。
图6为本发明的实施例3的负载装置的结构示意图。图7为本发明的实施例3的负载装置的另一角度的结构示意图。图8为本发明的实施例3的负载装置的分解结构示意图。图I至图8中包括有
底座1、DC信号连接装置11、DC信号接口 12、第二固定座13、穿孔131、产品放置槽14、 定位柱15 ；
上盖2、AC信号连接装置21、第一固定座23、铰链轴231、插孔24 ；
锁扣装置3、第一支座31、卡槽311、第二支座32、锁扣臂33、卡凸331、弯折部332、铰接轴34、扭簧341 ；
壳体41、导电铜板411 ；
基座42、电源421、时序板422、电子负载423、无线传感器424 ；
负载DC信号连接装置43、负载AC信号连接装置44、定位孔45、散热风扇46 ；
电子产品5。
具体实施例方式下面结合实施例及附图对本发明作进一步详细的描述，但本发明的实施方式不限于此。实施例I
本发明的一种老化测试治具的实施例I如图I至图8所示，包括有底座I和设置于底座 I上方的上盖2，其中底座I设置有底座PCB板，底座PCB板设置有DC信号连接装置11， 底座I与上盖2相对的内表面开设有产品放置槽14，用于放置电子产品5。产品放置槽14 内设置有DC信号接口 12，DC信号接口 12通过底座PCB板与DC信号连接装置11电连接； 上盖2内设置有上盖PCB板，上盖PCB板设置有AC信号连接装置21和与AC信号连接装置 21电连接的AC信号接口。电子产品5进行老化测试前，将电子产品5安装于底座I的产品放置槽14内，电子产品5的DC连接端与DC信号接口 12电连接，并通过底座PCB板与DC信号连接装置11 电连接，从而使电子产品5的DC连接端与DC信号连接装置11电连接；电子产品5的AC连接端与上盖2的AC信号接口电连接，AC信号接口通过上盖PCB板与AC信号连接装置21电连接，从而使电子产品5的AC信号接口与AC信号连接装置21电连接。当需要进行老化时，只需要将DC信号连接装置11和AC信号连接装置21依次与老化设备电连接，即可完成电子产品5的老化；当需要进行测试时，只需要将DC信号连接装置 11和AC信号连接装置21依次与测试设备电连接，即可完成电子产品5的测试。由此，本发明的老化测试治具同时实现了老化以及测试的功能，采用该治具整个操作简单快速，大大提高了电子产品5的老化以及测试效率，从而提高了生产效率，有利于企业的规模化生产， 特别适于现代化企业快速发展的需要。同时，由于电子产品5的接口只需一次插拔即可完成多项老化及测试，从而避免对电子产品5的接口的磨损，有利于提高电子产品5的性能，延长其使用寿命。本实施例中，作为优选的实施方案，当电子产品5为电源件时，DC信号接口 12可设置为USB接口，根据不同的电子产品5的需要，DC信号接口 12还可设置为其他形式的信号接口。根据生产需要，底座I的产品放置槽14可以设置多个，产品放置槽14可呈两列设置，也可以呈一列设置。具体的，底座I的一侧开设有DC安装槽，第一 DC信号接口装置11与DC安装槽相配合且安装于DC安装槽内；
具体的，上盖2的一侧开设有AC安装槽，第一 AC信号接口装置21与AC安装槽相配合且安装于AC安装槽内。进一步的,上盖2与底座I相对的内表面开设有插孔24, AC信号接口设置于插孔 24内。作为优选的实施方案，AC信号接口为金属弹片，当电子产品5的AC连接端插入该插孔24时，电子产品5的AC连接端与金属弹片触接，金属弹片通过上盖PCB板与AC信号连接装置21电连接，从而使电子产品5的AC连接端与AC信号连接装置21电连接。当然，AC 信号接口还可以采用其他具有导电性的接口装置，以起到将电子产品5与AC信号连接装置 21进行电连接的作用。进一步的，底座I与上盖2铰接，以使上盖2可相对于底座I翻转，便于打开上盖 I，取放电子产品5。上盖2的内表面设置有第一固定座23，第一固定座23设置有铰链轴231，底座I的内表面设置有第二固定座13，第二固定座13开设有穿孔131，铰链轴231穿设于穿孔131。本发明的老化测试治具的工作原理如下
使用时，电子产品5安装于底座I的产品放置槽14内，电子产品5的DC连接端与底座 I的DC信号接口 12连接，并通过底座PCB板与DC信号连接装置11电连接，从而使电子产品5的DC连接端与DC信号连接装置11电连接，然后翻转上盖2，使上盖2与底座I合拢， 此时，电子产品5的AC连接端与AC信号接口电连接，AC信号接口通过上盖PCB板与AC信号连接装置21电连接，从而使电子产品5的AC连接端与AC信号连接装置21电连接。当对电子产品5进行老化时，只需要将DC信号连接装置11和AC信号连接装置21 依次与老化设备电连接，即可完成电子产品5的老化；
当对电子产品5进行测试时，只需要将DC信号连接装置11和AC信号连接装置21依次与测试设备电连接，即可完成电子产品5的测试。实施例2
本实施例的一种老化测试治具参见图I和图4，在实施例I的基础上，在本实施例中未解释的特征，采用实施例I中的解释，在此不再进行赘述。本实施例与实施例I的区别在于
老化测试治具还包括有锁扣装置3，用于当上盖与底座I合拢时，将其锁住，而不发生相对移动。锁扣装置3包括有固定于底座I的第一支座31、固定于上盖2的第二支座32、以及锁扣臂33，锁扣臂33的一端卡接于第一支座31，锁扣臂33的另一端铰接于第二支座32。具体的，锁扣臂33呈倒L形，锁扣臂33的弯折部332设置有铰接轴34，该铰接轴 34与第二支座32铰接，铰接轴34套设有扭簧341。具体的，第一支座31开设有卡槽311，锁扣臂33的一端设置有与该卡槽311相匹配的卡凸331。
使用时，当电子产品5安装至产品放置槽14内后，将上盖2翻转至底座的上方并合拢，将锁扣臂33 —端的卡凸331卡接于第一支座31的卡槽311中，锁扣装置3即可将上盖2与底座I锁紧；
当老化及测试完成后，按压锁扣臂33的弯折部332，使卡凸331由卡槽311中脱离，即可打开锁扣装置3，然后翻转上盖2，可将电子产品5取出。实施例3
本实施例的一种老化测试治具参见图I、图5至图8，在实施例I的基础上，在本实施例中未解释的特征，采用实施例I中的解释，在此不再进行赘述。本实施例与实施例I的区别在于
参照图5，老化测试治具还包括有负载装置4，用于提供老化时所需的电子负载。参照图6，负载装置4包括有壳体41、基座42、以及设置于基座42的负载DC信号连接装置43和负载AC信号连接装置44，其中
参照图8，基座42下方设置有电源421、时序板422和电子负载423，从而为提供老化时所需的电源和电子负载。参照图7,壳体41的底部设置有导电铜板411,通过该导电铜板411可对负载装置 4进行通电老化。当对电子产品5进行老化时，可直接将底座I放置于负载装置4的基座42，将DC 信号连接装置11和负载DC信号连接装置43电连接，AC信号连接装置21和负载AC信号连接装置44电连接，然后将负载装置4连接老化设备，即可完成对电子产品5的老化。工作时，可同时将多个与负载装置4连接的老化测试治具连接老化设备，则可批量地完成电子产品5的老化，大大提高了生产效率，而且减少对电子产品5接口的拔插次数，有利于提高电子产品5的质量，延长其使用寿命。具体的，DC信号连接装置11、AC信号连接装置21、负载DC信号连接装置43以及负载AC信号连接装置44均设置有两个，可分别与不同的老化或是测试设备电连接，有利于进一步提闻老化及测试效率。参照图I和图8，老化测试治具的底座I和上盖2均设置有定位柱15，负载装置4 设置有与该定位柱15相配合的定位孔45，将老化测试治具与负载装置4安装时，以起到准确定位的作用。进一步的，壳体41设置有散热风扇46，便于老化时快速的将热量散发出去。实施例4
本实施例的一种老化测试治具参见图8，在实施例3的基础上，在本实施例中未解释的特征，采用实施例3中的解释，在此不再进行赘述。本实施例与实施例3的区别在于
基座42设置有无线传感器424，便于对老化测试治具以及负载装置4的自动化控制。可将与负载装置4连接的老化测试治具用于一条自动化老化生产线，通过输送装置将该老化测试治具输送至老化设备中，该无线传感器423可将老化过程的数据实时地传送至控制系统，从而实现对电子产品5的自动化控制，实现无需操作，从而大大提高生产效率,节约生产成本。最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对本发明保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本发明作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的实质和范围。
权利要求
1.一种老化测试治具，其特征在于包括有底座和设置于底座上方的上盖，所述底座设置有底座PCB板，所述底座PCB板设置有DC信号连接装置，所述底座与所述上盖相对的内表面开设有产品放置槽，所述产品放置槽内设置有DC信号接口，所述DC信号接口通过所述底座PCB板与所述DC信号连接装置电连接；所述上盖内设置有上盖PCB板，所述上盖PCB板设置有AC信号连接装置和与所述AC 信号连接装置电连接的AC信号接口。
2.根据权利要求I所述的一种老化测试治具，其特征在于所述底座的一侧开设有DC 安装槽，所述DC信号接口装置与所述DC安装槽相配合且安装于所述DC安装槽内；所述上盖的一侧开设有AC安装槽，所述AC信号接口装置与所述AC安装槽相配合且安装于所述AC安装槽内。
3.根据权利要求I所述的一种老化测试治具，其特征在于所述上盖与所述底座相对的内表面开设有插孔，所述AC信号接口设置于所述插孔内。
4.根据权利要求I所述的一种老化测试治具，其特征在于所述底座与所述上盖铰接。
5.根据权利要求4所述的一种老化测试治具，其特征在于所述上盖的内表面设置有第一固定座，所述第一固定座设置有铰链，所述底座的内表面设置有第二固定座，所述第二固定座开设有穿孔，所述铰链轴穿设于所述穿孔。
6.根据权利要求I所述的一种老化测试治具，其特征在于所述老化测试治具还包括有锁扣装置，所述锁扣装置包括有固定于所述底座的第一支座、固定于所述上盖的第二支座、以及锁扣臂，所述锁扣臂的一端卡接于所述第一支座，所述锁扣臂的另一端铰接于所述第二支座。
7.根据权利要求6所述的一种老化测试治具，其特征在于所述锁扣臂呈倒L形，所述锁扣臂的弯折部设置有铰接轴，所述铰接轴与所述第二支座铰接，所述铰接轴套设有扭所述第一支座开设有卡槽，所述锁扣臂的一端设置有与所述卡槽相匹配的卡凸。
8.根据权利要求I所述的一种老化测试治具，其特征在于所述老化测试治具还包括有负载装置，所述负载装置包括有壳体、基座、以及设置于基座的负载DC信号连接装置和负载AC信号连接装置，所述基座下方设置有电源、时序板和电子负载，所述壳体的底部设置有导电铜板；所述底座设置于所述负载装置的基座，所述DC信号连接装置和所述负载DC信号连接装置电连接，所述AC信号连接装置和所述负载AC信号连接装置电连接。
9.根据权利要求8所述的一种老化测试治具，其特征在于所述DC信号连接装置、所述AC信号连接装置、所述负载DC信号连接装置以及所述负载AC信号连接装置均设置有两个。
10.根据权利要求8所述的一种老化测试治具，其特征在于所述老化测试治具的底座和上盖均设置有定位柱，所述负载装置设置有与所述定位柱相配合的定位孔。
全文摘要
本发明涉及老化测试技术领域，具体的涉及一种老化测试治具，其结构包括有底座和设置于底座上方的上盖，底座设置有底座PCB板，底座PCB板设置有DC信号连接装置，底座与上盖相对的内表面开设有产品放置槽，产品放置槽内设置有DC信号接口，DC信号接口通过底座PCB板与DC信号连接装置电连接；上盖内设置有上盖PCB板，上盖PCB板设置有AC信号连接装置和与AC信号连接装置电连接的AC信号接口。本发明具有结构简单、操作简单快速、老化以及测试效率高的优点，特别适于现代化企业快速发展的需要。
文档编号G01R31/00GK102590667SQ201210029949
公开日2012年7月18日 申请日期2012年2月10日 优先权日2012年2月10日
发明者刘坚辉, 李垂猛, 邵继铭 申请人:东莞市冠佳电子设备有限公司