专利名称：一种瞬态高频磁场测量线圈的制作方法
技术领域：
本实用新型属于磁场测量领域，尤其涉及一种瞬态高频磁场测量线圈。
背景技术：
测量瞬态高频磁场时，可以直接测量磁场在线圈中产生的感应电压，还可以通过磁耦合，将磁场转化为二次侧的电压进行测量。直接测量磁场在线圈中产生的感应电压时，采样电阻会对待测量的幅值和相位产生影响，尤其是相位的影响较难修正。将磁场转化为二次侧的电压进行测量的方法，是将闭合的磁场测量线圈套在磁环上，与二次线圈耦合，然后测量二次线圈上的感应电压。通过升压可以增大二次线圈上的感应电压，从而减小采样电阻的影响。但这种方法也存在问题。因为二次线圈与磁场测量线圈处于同一平面，待测磁场分量会直接在二次线圈中产生感应电压，这个感应电压和磁场测量线圈中的电流通过磁耦合在二次线圈中产生的感应电压叠加，影响测量精度。
发明内容针对背景技术中所述的目前测量瞬态高频磁场方法，在测量精度方面存在的不足，本实用新型突出了一种瞬态高频磁场测量线圈。本实用新型的技术方案是，一种瞬态高频磁场测量线圈，其特征在于，所述线圈包括第一线圈、第二线圈、磁环和二次线圈；其中，所述第一线圈和第二线圈串联成闭合回路；所述第二线圈与第一线圈垂直；所述磁环穿过第二线圈和二次线圈。所述第一线圈置于高频磁场中；所述第一线圈平面与待测磁场分量垂直。本实用新型的有益效果是，避免了待测磁场在二次线圈中直接产生感应电压，提高了磁场测量精度。
图I是本实用新型提供的一种瞬态高频磁场测量线圈的结构图；图2是本实用新型提供的一种瞬态高频磁场测量线圈的结构图的俯视图；图3是本实用新型提供的一种瞬态高频磁场测量线圈的结构图的正视图；其中，I-第一线圈2-第二线圈；3-磁环；4_ 二次线圈。
具体实施方式
以下结合附图，对优选实施例作详细说明。应该强调的是，下述说明仅仅是示例性的，而不是为了限制本实用新型的范围及其应用。图I是本实用新型提供的一种瞬态高频磁场测量线圈的结构图。图I中，一种瞬态高频磁场测量线圈，其特征在于，所述线圈包括第一线圈、第二线圈、磁环和二次线圈；所述第一线圈和第二线圈串联成闭合回路；所述第二线圈与第一线圈垂直；所述磁环穿过第二线圈和二次线圈。第二线圈2有两个作用。一是引导电流，流过第二线圈2的电流与磁场测量线圈中的感应电流相同；二是改变磁场测量线圈和二次线圈4之间的相互位置关系，使它们分别位于两个相互垂直的平面中，这样待测的磁场分量就不会在二次线圈4中产生感应电压，从而避免了干扰。测量磁场某一方向的分量时，第一线圈I是磁场测量线圈，将第一线圈I置于高频磁场中，第一线圈I平面与待测磁场分量垂直；第二线圈2是引导一次电流的线圈，第二线圈的平面与第一线圈I的平面垂直，并且两个线圈串联构成闭合回路，这样第一线圈I和第二线圈2流过相同的感应电流；磁环3耦合第二线圈2和二次线圈4的磁场，当第二线圈2流过感应电流时，在二次线圈4中会产生感应电压和感应电流，通过测量二次线圈4中的感
应电压或感应电流，可以得到第一线圈I所处位置的磁场分量。以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式
，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应该涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
权利要求1.一种瞬态高频磁场测量线圈，其特征在于，所述线圈包括第一线圈、第二线圈、磁环和二次线圈；其中，所述第一线圈和第二线圈串联成闭合回路；所述第二线圈与第一线圈垂直；所述磁环穿过第二线圈和二次线圈。
2.根据权利要求I所述的一种瞬态高频磁场测量线圈，其特征在于，所述第一线圈置于高频磁场中；所述第一线圈平面与待测磁场分量垂直。
专利摘要本实用新型公开了磁场测量领域的一种瞬态高频磁场测量线圈。其技术方案是，所述线圈包括第一线圈、第二线圈、磁环和二次线圈；所述第一线圈和第二线圈串联成闭合回路；所述第二线圈与第一线圈垂直；所述磁环穿过第二线圈和二次线圈。本实用新型所提供的测量线圈，避免了待测磁场在二次线圈中直接产生感应电压，提高了磁场测量精度。
文档编号G01R33/02GK202770981SQ20122042639
公开日2013年3月6日 申请日期2012年8月24日 优先权日2012年8月24日
发明者王泽忠, 李世琼, 王炳革, 史仰伟 申请人:华北电力大学