电子器件量测治具及量测装置制造方法
【专利摘要】一种电子器件量测治具，用于对电子器件进行电性测量，该电子器件具有多个电连接端子，该量测治具包括器件固定座、探针固定座、多个第一探针及多个第二探针。该器件固定座具有收容待测量的电子器件的器件收容槽。该探针固定座固定于该器件固定座一侧。多个第一探针固定于该探针固定座，且一端用于与多个电连接端子电连接。该多个第二探针固定于探针固定座，第二探针包括相对的第一和第二电连接针部，多个第一电连接针部分别电连接于多个第一探针，该第二电连接针部用于与电性测量装置电连接。本发明还涉及一种采用上述治具的量测装置。
【专利说明】电子器件量测治具及量测装置
【技术领域】
[0001] 本发明涉及电子器件量测装置，尤其涉及一种用于测量电子器件电性能的量测装 置及电子器件量测方法。
【背景技术】
[0002] 电子器件如用于相机中的致动器通常需要进行多项电性能测试，如行程测试 (stroke testing)、动态倾角测试（dynamic tilt testing)及三姿态测试（3 posture testing)等。现有的每一个电性能测试工站均包括一插座式固定模块、一组探针及一测试 电路板，待测的致动器固定于该固定模块内，该组探针与该致动器上的金手指相接触以电 连接，该组探针通过导线与测试电路板实现电连接，从而保证电性能测试的顺利进行。然 而，现有的多项电性能测试在结束其中一项电性能测试后，需要将致动器从该工站对应的 固定模块内拆下，然后再安装到下一工站的固定模块内。然而，多次的安装与拆卸有可能会 导致电子器件的损伤，如致动器的作动不良、表面刮伤等，从而降低良率。
【发明内容】
[0003] 有临于此，提供一种检测良率较高的电子器件量测治具及量测装置实为必要。
[0004] 一种电子器件量测治具，用于对电子器件进行电性测量，该电子器件具有多个电 连接端子，该量测治具包括器件固定座、探针固定座、多个第一探针及多个第二探针。该器 件固定座具有器件收容槽，用于收容待测量的电子器件。该探针固定座固定于该器件固定 座一侧。该多个第一探针固定于该探针固定座，且该多个第一探针的一端用于与该电子器 件的多个电连接端子分别电连接。该多个第二探针固定于该探针固定座，每一第二探针包 括相对的第一电连接针部和第二电连接针部，该多个第二探针的第一电连接针部分别电连 接于该多个第一探针，该第二电连接针部从该探针固定座露出，用于与电性测量装置电连 接。
[0005] -种电子器件量测装置，用于对电子器件进行电性测量，该电子器件具有多个电 连接端子，该量测装置包括如上所述的量测治具、多个第三探针及检测电路板。该多个第二 探针的第二电连接针部分别与该多个第三探针电接触。该检测电路板上具有多个电连接端 子，该检测电路板的多个电连接端子通过多个导线分别与该多个第三探针电连接。
[0006] 相对于现有技术，本实施例的量测治具在对电子器件进行多项电性能测试时，可 通过第二探针直接与电性能测试装置电连接，无需对电子器件进行多次的安装与拆卸，从 而防止电子器件内部电子组件的损伤以及电子器件的作动不良、表面刮伤等，提高良率。
【专利附图】
【附图说明】
[0007] 图1是本发明第一实施例提供的量测治具与插座式致动器配合固定后的立体示 意图。
[0008] 图2是将图1中的量测治具与插座式致动器分离后的立体示意图。
[0009] 图3是图1中的量测治具另一视角的立体示意图。
[0010] 图4是图1中沿IV-IV方向的剖面示意图。
[0011] 图5是本发明第二实施例提供的量测装置的立体示意图。
[0012] 图6是图5中V部分的放大示意图。
[0013] 图7是将图1中的量测治具安装于图5中的量测装置后的组装示意图。
[0014] 图8是图7量测装置中的旋转支架与量测装置的另一视角的立体示意图。
[0015] 图9是图7中沿IX-IX方向的剖面示意图。
[0016] 主要元件符号说明
【权利要求】
1. 一种电子器件量测治具，用于对电子器件进行电性测量，该电子器件具有多个电连 接端子，该量测治具包括： 器件固定座，具有器件收容槽，用于收容待测量的电子器件； 探针固定座，固定于该器件固定座一侧； 多个第一探针，固定于该探针固定座，且该多个第一探针的一端用于与该电子器件的 多个电连接端子分别电连接；及 多个第二探针，固定于该探针固定座，每一第二探针包括相对的第一电连接针部和第 二电连接针部，该多个第二探针的第一电连接针部分别电连接于该多个第一探针，该第二 电连接针部从该探针固定座露出，用于与电性测量装置电连接。
2. 如权利要求1所述的量测治具，其特征在于，该器件固定座包括相对的第一表面和 第二表面，该器件收容槽开设于该器件固定座的第一表面，该量测治具进一步包括盖体，用 于覆盖该器件固定座的第一表面并压合固定该电子器件，该盖体相对于该器件收容槽的位 置开设有一观察操作孔，用于露出部分该电子器件以便于观察和操作。
3. 如权利要求2所述的量测治具，其特征在于，该盖体的一侧与该器件固定座相枢接， 相对的另一侧设置有一卡钩，该器件固定座的一侧设置有一卡槽，该卡钩与该卡槽相配合 以将盖体卡合固定于该器件固定座。
4. 如权利要求2所述的量测治具，其特征在于，该器件固定座进一步包括连接该第一 表面和第二表面的侧面，该侧面开设有连通该器件收容槽的连通孔，该第一探针的一端穿 过该连通孔以电连接该器件的电连接端子，该第一探针相对的另一端通过导线与第二探针 的第一电连接针部电连接。
5. 如权利要求4所述的量测治具，其特征在于，该第一探针的延伸方向平行于该器件 固定座的第一表面，该第二探针的延伸方向垂直于该器件固定座的第一表面。
6. 如权利要求5所述的量测治具，其特征在于，该探针固定座包括第一探针固定部和 第二探针固定部，该第一探针固定部固定于该器件固定座的一侧，该第二探针固定部位于 该器件固定座的同一侧且位于该第一探针固定部远离该器件固定座的一侧，该第一探针固 定部与该第二探针固定部通过一连接部相互固定，该多个第一探针固定于该第一探针固定 部上，该多个第二探针固定于该第二探针固定部上。
7. 如权利要求6所述的量测治具，其特征在于，该连接部为板状，其一侧固定于该器件 固定座且邻近于该器件固定座的第二表面，该连接部平行于该第一表面，该第一探针固定 部和第二探针固定部均固定于该连接部远离该第二表面的一侧，该第二探针固定部包括一 探针固定板与该连接部相对，该探针固定板上设置有多个探针固定孔，该连接部相对于该 探针固定板的位置开设有通孔，该多个第二探针分别穿过该多个探针固定孔，且该第二探 针的第一电连接针部凸出于该探针固定板远离该连接部的一侧，记第二电连接针部收容于 该通孔。
8. 如权利要求7所述的量测治具，其特征在于，该第二电连接针部包括与该第一电连 接针部相连的支撑端及与支撑端相连且远离该第一电连接针部的连接端，该第一电连接针 部、支撑端及连接端同轴且该第一电连接针部和连接端的横截面均小于该支撑端的横截 面。
9. 一种电子器件量测装置，用于对电子器件进行电性测量，该电子器件具有多个电连 接端子，该量测装置包括： 如权利要求1至8任一项所述的量测治具； 多个第三探针，该多个第二探针的第二电连接针部分别与该多个第三探针电接触；及 检测电路板，其上具有多个电连接端子，该检测电路板的多个电连接端子通过多个导 线分别与该多个第三探针电连接。
10. 如权利要求9所述的量测装置，其特征在于，该量测装置进一步包括固定支架、旋 转支架、马达及激光位移计，该旋转支架包括相互垂直且连接的水平固定板和坚直固定板， 该坚直固定板通过一旋转轴部可旋转地固定于该固定支架，该旋转轴部水平设置，该马达 的旋转轴与该旋转轴部相连且同轴设置以带动该旋转支架以该旋转轴部为轴旋转，该激光 位移计固定于该坚直固定板且与该水平固定板相对，该多个第三探针和检测电路板设置于 该水平固定板，该量测治具安装于该水平固定板相邻于该激光位移计的一侧，且该器件固 定座的器件收容槽与该激光位移计相对设置。
11. 如权利要求10所述的量测装置，其特征在于，该水平固定板开设有一通孔，该量测 装置进一步包括探针安装部，该探针安装部固定于该通孔内，该多个第三探针贯穿该探针 安装部且相对两端分别相邻于该水平固定板邻近于该激光位移计的一侧和远离该激光位 移计的一侧，该第二连接针部电连接于该第三探针邻近于该激光位移计的一端，该检测电 路板固定于该水平固定板远离该激光位移计的一侧。
12. 如权利要求11所述的量测装置，其特征在于，该第二电连接针部包括与该第一电 连接针部相连的支撑端及与支撑端相连且远离该第一电连接针部的连接端，该第一电连接 针部、支撑端及连接端同轴且该第一电连接针部和连接端的横截面均小于该支撑端的横截 面，该多个第三探针邻近于该激光位移计的端部分别具有连接槽，该多个第二电连接针部 的连接端分别收容于该第三探针的连接槽内并与该第三探针电接触。
【文档编号】G01R1/04GK104049114SQ201310081800
【公开日】2014年9月17日 申请日期:2013年3月14日 优先权日:2013年3月14日
【发明者】郭章纬 申请人:鸿富锦精密工业（深圳）有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司