表面等离子体共振成像检测装置制造方法
【专利摘要】本发明实施例公开了一种表面等离子体共振成像检测装置包括：基座、光学平台、光学棱镜、光源、图像接收装置、同步扫描装置，所述同步扫描装置包括：电机、滑块导轨、滑块、连杆组、入射臂及反射臂；所述连杆组包括：分别与滑块连接的第一连杆和第二连杆，第一连杆和第二连杆构成倒V型杆；与第一连杆另一端连接的第三连杆，所述第一连杆和第三连杆构成V型杆；与第二连杆另一端连接的第四连杆，第二连杆与第四连杆构成V型杆；与第一连杆和第三连杆的连接点、第二连杆和第四连杆的连接点滑动连接的圆弧导轨，第一连杆和第三连杆的连接点、第二连杆和第四连杆的连接点沿圆弧导轨保持对称滑动，从而提高了表面等离子体共振成像检测装置的检测精度。
【专利说明】表面等离子体共振成像检测装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及成像检测【技术领域】，尤其涉及一种表面等离子体共振成像检测装置。【背景技术】
[0002]表面等离子体共振(Surface Plasmon Resonance,简称为SPR)传感器是一种能够检测待测介质的光学性质(如介质厚度、折射率等)细微变化的传感器，其核心部件为金属功能层。当一定入射角度、波长和横磁(transverse magnetic,简称为TM)偏振方向的入射光，通过棱镜等耦合器后，会在金属功能层与待测介质之间的界面激发表面等离子波(Surface Plasmon Wave，简称为SPW)。当这种表面等离子波激发效率最多时将产生SPR现象，即界面反射光强度产生急剧衰减或者偏振方向发生变化，从而通过检测SPR现象对应的入射角度、入射波长、偏振方向或界面反射光强度的变化，实现对金属功能层与待测介质间界面附近待测介质的光学性质的探测。
[0003]20世纪80年代，SPR传感器就开始用于检测金属表面附近折射率的变化(Gordon，J.G.;Ernst, S.Surf.Sc1.1980, 101, 499)。近些年来SPR传感器在药物筛选、生化研究等领域都得到了广泛的应用，目前已成为定性和定量分析生物分子反应(如动力学参数与检测物浓度)的重要工具(Homola，Chem.Rev.2008, 108, 462-493)。
[0004]现有技术中利用SPR原理，检测金属表面附近折射率变化的方法有四种，包括:角度检测、相位检测、波长检测和强度检测。其中，强度检测方法是将入射角度固定在反射光强度最小值附近，当检测点发生生化反应或者检测点的折射率发生变化时，反射光强度最小值对应的角度发生改变，同时带动固定入射角度处光照强度的变化，从而通过检测固定角度处，反射光强度的变化，得到生化反应或折射率变化的信息，被广泛应用于高通量的SPR成像检测。但是，现有技术中SPR成像检测装置的检测精度较低。
【发明内容】
[0005]为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种表面等离子体共振成像检测装置，以提高所述表面等离子体共振成像检测装置的检测精度。
[0006]为解决上述问题，本发明实施例提供了如下技术方案:
[0007]—种表面等离子体共振成像检测装置，包括基座、光学平台、光学棱镜、光源和图像接收装置，还包括:
[0008]位于所述光学棱镜下方的同步扫描装置，所述同步扫描装置包括:电机；位于所述电机上方的滑块导轨；与所述电机相连，在所述电机的带动下，沿所述滑块导轨上下移动的滑块；与所述滑块相连，在所述滑块的带动下，在平行于所述基座平面内运动的连杆组；与所述连杆组一端相连的入射臂及与所述连杆组另一端相连的反射臂；
[0009]其中，所述连杆组包括:分别与所述滑块固定连接的第一连杆和第二连杆，所述第一连杆和第二连杆构成倒V型杆；与所述第一连杆另一端固定连接的第三连杆，所述第一连杆和第三连杆构成V型杆；与所述第二连杆另一端固定连接的第四连杆，所述第二连杆与第四连杆构成V型杆；与所述第一连杆和第三连杆的连接点、第二连杆和第四连杆的连接点滑动连接的圆弧导轨，所述第一连杆和第三连杆的连接点、第二连杆和第四连杆的连接点沿所述圆弧导轨保持对称滑动。
[0010]优选的，所述第一连杆、第二连杆、第三连杆和第四连杆等长。
[0011]优选的，所述光源包括:
[0012]半导体激光器；
[0013]对所述半导体激光器的出射光进行扩束，并准直的准直器；
[0014]将准直后的出射光的偏振方向调节为TM偏振的起偏器；
[0015]调节所述起偏器的出射光光强的衰减器；
[0016]截取所述衰减器的出射光中心强度均匀部分的矩形光栏。
[0017]优选的，所述准直器包括:多个对所述半导体激光器的出射光进行扩束的透镜。
[0018]优选的，所述光源包括:
[0019]产生白色出射光的白色LED ;
[0020]对所述白色LED的出射光进行准直的准直器；
[0021]将准直后的出射光的偏振方向调节为TM偏振的起偏器；
[0022]调节所述起偏器的出射光光强的衰减器；
[0023]对所述衰减器的出射光进行滤波的滤波器。
[0024]优选的，所述准直器为单透镜。
[0025]优选的，所述光学平台与所述光学棱镜通过圆环进行密封。
[0026]优选的，所述光学平台上与所述光学棱镜固定连接的位置设置有凹槽。
[0027]优选的，所述基座上设置有校准所述光学棱镜位置的定位销钉。
[0028]优选的，所述电机为步进电机。
[0029]与现有技术相比，上述技术方案具有以下优点:
[0030]本发明实施例所提供的技术方案，可以通过所述电机的机械传动前进量，直接计算所述第一连杆与第三连杆的连接点及第二连杆与第四连杆的连接点沿圆弧导轨的滑动位移，再根据所述滑动位移，计算所述入射臂和反射臂的角位移，即可得到所述光源出射光入射角度的变化，提高了所述表面等离子体共振成像检测装置的检测精度。
[0031]而且，在本发明实施例中，由于所述连杆组与所述圆弧导轨滑动连接，从而可以将所述连杆组的滑动固定在所述圆弧导轨所在的平面内，防止所述连杆组在垂直于所述圆弧导轨所在平面内转动，从而进一步提高了计算所述光源出射光入射角度变化时的精度，最终提高了所述表面等离子体共振成像检测装置的检测精度。
【专利附图】
【附图说明】
[0032]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0033]图1为现有技术中SPR成像检测装置的结构示意图；
[0034]图2为本发明实施例所提供的表面等离子体共振成像检测装置的结构示意图；[0035]图3为本发明一个实施例中所提供的表面等离子体共振成像检测装置的局部结构示意图；
[0036]图4为本发明另一个实施例中所提供的表面等离子体共振成像检测装置的局部结构示意图；
[0037]图5为本发明实施例中所提供的表面等离子体共振成像检测装置的局部结构示意图。
【具体实施方式】
[0038]如图1所示，现有技术中的SPR成像检测装置包括:
[0039]基座01 ；
[0040]固定于所述基座01侧面上端的光学平台02 ；
[0041]固定于所述光学平台02侧面的光学棱镜03 ；
[0042]位于所述光学棱镜03下方的同步扫描装置04，所述同步扫描装置04包括:电机041 ;位于所述电机041上方的滑块导轨042 ;与所述电机041相连的滑块043 ;与所述滑块043相连的连杆组044，所述连杆组044包括分别与所述滑块043固定连接的第一连杆和第二连杆；
[0043]与所述第一连杆另一端相连的入射臂045及与所述第二连杆另一端相连的反射臂046，其中，所述入射臂045和反射臂046相对设置于所述光学棱镜03的两侧；
[0044]固定于所述入射臂045上的光源05 ；
[0045]固定于所述反射臂046上的CXD接收器06。
[0046]图1所示的SPR成像检测装置在工作时，通过所述电机带动所述滑块沿所述滑块导轨上下移动，从而带动所述第一连杆和第二连杆的连接点，沿所述光学棱镜的中垂线上下移动，从而改变所述第一连杆和第二连杆张角，即改变所述入射臂和反射臂的张角，实现入射角的改变，并同时保证所述光源发出的光线，经过所述光学棱镜全部被所述CCD接收器接收，实现成像检测。
[0047]但是，上述SPR成像检测装置的检测精度较低。
[0048]发明人研究发现，这是由于所述入射臂与第一连杆的连接点及反射臂与第二连杆的连接点的运动轨迹均为弧线，而所述滑块的运动轨迹为直线，在计算所述光源出射光入射角度的变化时，需要先将所述电机的机械传动前进量转换成螺杆转动量，然后再将所述螺杆的转动量转换成连杆组的角度转动量，这样容易在长期使用过程中由于螺杆的磨损和错位而产生回差，降低所述SPR成像检测装置的检测精度。
[0049]而且受外界震动的影响，所述连杆组的转动过程中，并不能完全保证只位于平行于所述基座的平面内，也可能在垂直于所述基座的平面内产生转动，导致在计算所述光源出射光入射角度的变化时引入误差，进一步降低所述SPR成像检测装置的检测精度。
[0050]有鉴于此，本发明实施例提供了一种表面等离子体共振成像检测装置，包括基座、光学平台、光学棱镜、光源和图像接收装置，此外，还包括:
[0051]位于所述光学棱镜下方的同步扫描装置，所述同步扫描装置包括:电机；位于所述电机上方的滑块导轨；与所述电机相连，在所述电机的带动下，沿所述滑块导轨上下移动的滑块；与所述滑块相连，在所述滑块的带动下，在平行于所述基座平面内运动的连杆组；与所述连杆组一端相连的入射臂及与所述连杆组另一端相连的反射臂；
[0052]其中，所述连杆组包括:分别与所述滑块固定连接的第一连杆和第二连杆，所述第一连杆和第二连杆构成倒V型杆；与所述第一连杆另一端固定连接的第三连杆，所述第一连杆和第三连杆构成V型杆；与所述第二连杆另一端固定连接的第四连杆，所述第二连杆与第四连杆构成V型杆；与所述第一连杆和第三连杆的连接点、第二连杆和第四连杆的连接点滑动连接的圆弧导轨，所述第一连杆和第三连杆的连接点、第二连杆和第四连杆的连接点沿所述圆弧导轨保持对称滑动。
[0053]本发明实施例所提供的表面等离子体共振成像检测装置，可以通过所述电机的机械传动前进量，直接计算所述第一连杆与第三连杆的连接点及第二连杆与第四连杆的连接点沿圆弧导轨的滑动位移，再根据所述滑动位移，计算所述入射臂和反射臂的角位移，即可得到所述光源出射光入射角度的变化。由此可见，在利用本实施例中所提供的表面等离子体共振成像检测装置进行检测时，省却了将所述电机的机械传动前进量转换成螺杆转动量，然后再将所述螺杆的转动量转换成连杆组的角度转动量的计算过程，从而避免了长期使用过程中由于螺杆的磨损和错位而产生回差，提高了所述表面等离子体共振成像检测装置的检测精度。
[0054]而且，在本发明实施例中，由于所述连杆组与所述圆弧导轨滑动连接，从而可以将所述连杆组的滑动固定在所述圆弧导轨所在的平面内，防止所述连杆组在垂直于所述圆弧导轨所在平面内转动，从而进一步提高了计算所述光源出射光入射角度变化时的精度，最终提高了所述表面等离子体共振成像检测装置的检测精度。
[0055]为使本发明的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本发明的【具体实施方式】做详细的说明。
[0056]在以下描述中阐述了具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以多种不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广。因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。
[0057]如图2所示，本发明实施例提供了一种表面等离子体共振成像检测装置，包括:基座1、光学平台2、光学棱镜3、同步扫描装置4、光源5和图像接收装置6。
[0058]在本发明的一个实施例中，所述基座I竖直放置，其侧面上端水平固定有光学平台2。所述光学平台2的侧面固定有光学棱镜3，两者之间通过圆环进行密封。所述光学棱镜3为正三角形光学棱镜，其一角垂直向下，位于所述光学棱镜3的垂直中轴线上。所述光学棱镜3的正下方设置有同步扫描装置4，所述同步扫描装置4包括:电机41 ;位于所述电机41上方的滑块导轨42，所述滑块导轨42底部与所述电机41相连，且所述滑块导轨42沿所述基座I的垂直中轴线固定；与所述电机41相连，在所述电机41的带动下，沿所述滑块导轨42上下移动的滑块43 ;与所述滑块43相连，在所述滑块43的带动下，在平行于所述基座I平面内运动的连杆组44 ;与所述连杆组44 一端相连的入射臂45及与所述连杆组44另一端相连的反射臂46，其中，所述入射臂45和反射臂46相对设置于所述光学棱镜3的两侦U。所述入射臂45上设置有光源5 ;所述反射臂46上设置有图像接收装置6。
[0059]其中，所述连杆组44包括:分别与所述滑块43固定连接的第一连杆和第二连杆，所述第一连杆和第二连杆构成倒V型杆；与所述第一连杆另一端固定连接的第三连杆，所述第一连杆和第三连杆构成V型杆；与所述第二连杆另一端固定连接的第四连杆，所述第二连杆与第四连杆构成V型杆；与所述第一连杆和第三连杆的连接点、第二连杆和第四连杆的连接点滑动连接的圆弧导轨48。其中，所述圆弧导轨48固定在所述基座I上，其圆弧中心位于所述光学棱镜3的底面中心处；所述第一连杆和第三连杆的连接点、第二连杆和第四连杆的连接点沿所述圆弧导轨48保持对称滑动。
[0060] 此外，如图3所示，本发明实施例所提供的表面等离子体共振成像检测装置还包括:位于所述光学棱镜3水平上平面的微阵列芯片8，及位于所述微阵列芯片8表面的微测量池9。优选的，在本发明的一个实施例中，所述光学棱镜3与微阵列芯片8之间的空气间隙用折射率匹配液进行填充。
[0061 ] 本发明实施例所提供的表面等离子体共振成像检测装置工作时，通过所述电机41带动所述滑块43沿所述滑块导轨42上下移动，从而带动与所述滑块43相连的连杆组44，在平行于所述基座I平面内运动，进而带动与所述连杆组44 一端相连的入射臂45及与所述连杆组44另一端相连的反射臂46以所述光学棱镜3的底面为中心转动。又因为所述入射臂45上设置有光源5，所述反射臂46上设置有图像接收装置6。当所述入射臂45和反射臂46以所述光学棱镜3的底面为中心转动时，可以使得所述光源5和图像接收装置6产生对称角度的旋转，保证所述光源5发出的出射光以不同的入射角，从所述光学棱镜3的左斜面射入，射向所述光学棱镜3和所述微阵列芯片8的界面，在所述光学棱镜3与所述微阵列芯片8的界面处进行反射，形成反射光从所述光学棱镜3的右斜面射出，全部照射在所述图像采集装置6的入射口，被所述图像采集装置6接收，进行成像检测。
[0062]在该实施例中，所述表面等离子体共振成像检测装置，可以通过所述电机41的机械传动前进量，直接计算所述连杆组44中第一连杆与第三连杆的连接点及第二连杆与第四连杆的连接点在圆弧导轨48上的滑动位移，再根据所述滑动位移，计算所述入射臂45和反射臂46的角位移，即可得到所述光源5出射光入射角度的变化。
[0063]由此可见，在利用本实施例中所提供的表面等离子体共振成像检测装置进行检测时，省却了现有技术中将所述电机的机械传动前进量转换成螺杆转动量，然后再将所述螺杆的转动量转换成连杆组的角度转动量的计算过程，从而避免了长期使用过程中由于螺杆的磨损和错位而产生回差，提高了所述表面等离子体共振成像检测装置的检测精度。
[0064]而且，在本发明实施例中，由于所述连杆组44与所述圆弧导轨48滑动连接，从而可以将所述连杆组44的滑动固定在所述圆弧导轨48所在的平面内，防止所述连杆组44在垂直于所述圆弧导轨48所在平面内转动，从而进一步提高了计算所述光源5出射光入射角度变化时的精度，最终提高了所述表面等离子体共振成像检测装置的检测精度。
[0065]优选的，所述第一连杆、第二连杆、第三连杆和第四连杆等长。
[0066]在本发明的一个实施例中，如图3所示，所述光源5包括:半导体激光器501 ;对所述半导体激光器501的出射光进行扩束，并准直的准直器502 ;将准直后的出射光的偏振方向调节为TM偏振的起偏器503 ;调节所述起偏器503的出射光光强的衰减器504 ;截取所述衰减器504的出射光中心强度均匀部分的矩形光栏505。
[0067]所述光源5的工作过程包括:所述半导体激光器501产生单一波长的出射光；利用所述准直器502对所述半导体激光器501的出射光进行准直，保证整体光束的入射角一致；利用所述起偏器503将准直后的出射光的偏振方向调节为TM偏振；利用所述衰减器504控制出射光强度，防止图像接收装置6在接收反射光时出现饱和现象；利用所述矩形光栏505将经过衰减器504的出射光的中心强度均匀部分进行截取，保证入射光学棱镜3的光强度，在覆盖空间范围内一致。
[0068]需要说明的是，在该实施例中，所述表面等离子体共振成像检测装置还包括:位于所述反射臂46的透镜506，所述透镜506用于收集由光学棱镜3和微阵列芯片8界面产生的反射光，并将收集的反射光射向图像接收装置6 ;而所述图像接收装置6用于对透镜506的出射光进行光电转换，实现成像检测信号的采集。
[0069]在该实施例中，所述半导体激光器501的单色性比较好，可以直接产生单一波长的出射光，有利于保证入射光在其所覆盖的空间范围内，保持入射光强度的高均匀性，而且光路比较好调。
[0070]但是，由于所述SPR成像检测装置在工作时，要求入射光所覆盖空间范围内，图像接收装置6能够接收到可以检测的信号，从而需要半导体激光器501的出射光具有较大的光强密度，即所述半导体激光器501能够输出较大的功率。而所述半导体激光器501的输出功率越大，成本越高，从而导致该实施例中所述SPR成像检测装置的成本较高。
[0071]而且，由于半导体激光器501的光束发散角度较小，难以产生较大的光照范围，即其出射光的覆盖范围较小，因此，所述准直器502中需要包括多个对所述半导体激光器501的出射光进行扩束的透镜，对所述半导体激光器的出射光先进行扩束，扩大所述出射光的覆盖范围，再进行准直，保证入射角度一致。
[0072]但是，由于激光的光谱分布为高斯分布，当对所述半导体激光器501的出射光进行扩束后，会产生较为明显的光照强度分布不均匀的现象，即所述出射光的边缘部分与所述出射光的中心部分偏差较大，因此，需要矩形光栏505截取出射光束中，中心强度分布较均匀的部分，从而导致该实施例中所述SPR成像检测装置中光路系统的尺寸和调节难度较大。
[0073]为了降低所述表面等离子体共振(SPR)成像检测装置的成本，并缩小所述表面等离子体共振成像检测装置的尺寸，在本发明的另一个实施例中，如图4所示，所述光源5包括:产生白色出射光的白色LED511 ;对所述白色LED511的出射光进行准直的准直器512 ；将准直后的出射光的偏振方向调节为TM偏振的起偏器513 ;调节所述起偏器513的出射光光强的衰减器514 ;对所述衰减器514的出射光进行滤波的滤波器515。
[0074]由于白色LED511产生的出射光中各光线的入射方向和波长并不完全相同，而表面等离子体共振成像检测装置中的光源要求在其光束覆盖空间范围内，保持入射角度、偏振方向和强度的高均匀性。因此，本发明实施例所提供的光源5在工作时，当所述白色LED511产生出射光后，需要先经过准直器512准直，保证所述出射光入射角度的一致；再利用起偏器513将准直后的出射光的偏振方向调节为TM偏振，以便于激发表面等离子体共振成像检测装置中金属表面的等离子体，形成倏逝波。然后，利用衰减器514调节所述起偏器513出射光的光照强度，以防止表面等离子体共振成像检测装置中的图像接收装置6在接收反射光时，出现饱和现象；最后，在利用滤波器515对所述衰减器514的出射光进行滤波，形成入射方向一致，且具有单一波长的出射光。
[0075]由于大功率白色LED511的成本要远小于大功率半导体激光器501的成本，故本发明实施例中所提供的表面等离子体共振成像检测装置的光源成本较低，从而降低了所述表面等离子体共振成像检测装置的成本。[0076]在本发明的一个实施例中，所述滤波器515可以为滤波片，但本发明对此并不做限定，只要可以起到滤波效果，获得单一波长的出射光即可。
[0077]需要说明的是，由于白色LED511出射光的光照范围较大，因此，在本发明的一个实施例中，所述准直器512可以为一单透镜，将所述白色LED511的出射光变成平行光，从而保证所述出射光的入射角度一致，而无需再利用多个透镜对所述白色LED511的出射光进行扩束，从而简化了所述表面等离子体共振成像检测装置的光源结构，缩小了所述表面等离子体共振成像检测装置的尺寸，也降低了所述表面等离子体共振成像检测装置中的光路调节的难度。
[0078]还需要说明的是，由于白色LED511的出射光的光谱分布较为均匀，即所述白色LED511的出射光的光照强度分布较为均匀，故，在本发明的一个实施例中，所述光源可以不包括矩形光栏，从而进一步简化了所述表面等离子体共振成像检测装置的光源结构，降低了所述光源中的光路调节的难度。
[0079]如图5所示，在本发明的一个实施例中，所述光学平台2上与所述光学棱镜3固定连接的位置设置有凹槽21，以便于所述圆环22的安装，还可以起到防止液体渗漏的作用。在本发明的另一个实施例中，所述基座I上还设置有定位销钉7，以便于固定所述光学棱镜
3,对所述光学棱镜3的两个下表面进行校准。在本发明的有一个实施例中，所述电机41优选为步进电机，所述图像采集装置优选为CCD接收器。
[0080]综上所述，本发明实施例所提供的表面等离子体共振成像检测装置，可以通过所述电机的机械传动前进量，直接计算所述第一连杆与第三连杆的连接点及第二连杆与第四连杆的连接点沿圆弧导轨的滑动位移，再根据所述滑动位移，计算所述入射臂和反射臂的角位移，即可得到所述光源出射光入射角度的变化。由此可见，在利用本实施例中所提供的表面等离子体共振成像检测装置进行检测时，省却了将所述电机的机械传动前进量转换成螺杆转动量，然后再将所述螺杆的转动量转换成连杆组的角度转动量的计算过程，从而避免了长期使用过程中由于螺杆的磨损和错位而产生回差，提高了所述表面等离子体共振成像检测装置的检测精度。
[0081]而且，在本发明实施例中，由于所述连杆组与所述圆弧导轨滑动连接，从而可以将所述连杆组的滑动固定在所述圆弧导轨所在的平面内，防止所述连杆组在垂直于所述圆弧导轨所在平面内转动，从而进一步提高了计算所述光源出射光入射角度变化时的精度，最终提高了所述表面等离子体共振成像检测装置的检测精度。
[0082]本说明书中各个部分采用递进的方式描述，每个部分重点说明的都是与其他部分的不同之处，各个部分之间相同相似部分互相参见即可。
[0083]对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
【权利要求】
1.一种表面等离子体共振成像检测装置，包括基座、光学平台、光学棱镜、光源和图像接收装置，其特征在于，还包括: 位于所述光学棱镜下方的同步扫描装置，所述同步扫描装置包括:电机；位于所述电机上方的滑块导轨；与所述电机相连，在所述电机的带动下，沿所述滑块导轨上下移动的滑块；与所述滑块相连，在所述滑块的带动下，在平行于所述基座平面内运动的连杆组；与所述连杆组一端相连的入射臂及与所述连杆组另一端相连的反射臂； 其中，所述连杆组包括:分别与所述滑块固定连接的第一连杆和第二连杆，所述第一连杆和第二连杆构成倒V型杆；与所述第一连杆另一端固定连接的第三连杆，所述第一连杆和第三连杆构成V型杆；与所述第二连杆另一端固定连接的第四连杆，所述第二连杆与第四连杆构成V型杆；与所述第一连杆和第三连杆的连接点、第二连杆和第四连杆的连接点滑动连接的圆弧导轨，所述第一连杆和第三连杆的连接点、第二连杆和第四连杆的连接点沿所述圆弧导轨保持对称滑动。
2.根据权利要求1所述的表面等离子体共振成像检测装置，其特征在于，所述第一连杆、第二连杆、第三连杆和第四连杆等长。
3.根据权利要求1所述的表面等离子体共振成像检测装置，其特征在于，所述光源包括: 半导体激光器； 对所述半导体激光器的出射光进行扩束，并准直的准直器； 将准直后的出射光的偏振方向调节为TM偏振的起偏器； 调节所述起偏器的出射光光强的衰减器； 截取所述衰减器的出射光中心强度均匀部分的矩形光栏。
4.根据权利要求3所述的表面等离子体共振成像检测装置，其特征在于，所述准直器包括:多个对所述半导体激光器的出射光进行扩束的透镜。
5.根据权利要求1所述的表面等离子体共振成像检测装置，其特征在于，所述光源包括: 产生白色出射光的白色LED ； 对所述白色LED的出射光进行准直的准直器； 将准直后的出射光的偏振方向调节为TM偏振的起偏器； 调节所述起偏器的出射光光强的衰减器； 对所述衰减器的出射光进行滤波的滤波器。
6.根据权利要求5所述的表面等离子体共振成像检测装置，其特征在于，所述准直器为单透镜。
7.根据权利要求1-6任一项所述的表面等离子体共振成像检测装置，其特征在于，所述光学平台与所述光学棱镜通过圆环进行密封。
8.根据权利要求7所述的表面等离子体共振成像检测装置，其特征在于，所述光学平台上与所述光学棱镜固定连接的位置设置有凹槽。
9.根据权利要求1-6任一项所述的表面等离子体共振成像检测装置，其特征在于，所述基座上设置有校准所述光学棱镜位置的定位销钉。
10.根据权利要求1-6任一项所述的表面等离子体共振成像检测装置，所述电机为步进电机。
【文档编号】G01N21/41GK103728272SQ201310673822
【公开日】2014年4月16日 申请日期:2013年12月11日 优先权日:2013年12月11日
【发明者】王丽红, 汪之又, 刘鸿, 朱劲松 申请人:王丽红