专利名称：电子元器件老化测试模块的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测试仪器设备技术领域，尤其是涉及电子元器件老化测试仪器技术领域。
背景技术：
目前，对于电子元器件生产出来后，需要对其寿命做一个评估，尤其是在极限高温和低温的环境下老化评估。在进行老化测试时，通常采用热电偶采集电子元器件的壳温，这样，老化监测系统的控制单元就可根据热电偶采集到的温度，将电子元器件的壳温基本控制在一固定温度上，仅允许其在该固定温度的上、下限范围内(通常为士 I 一 2°C)波动。目前用于电子元器件老化测试的结构主要是以制冷实现控温，以水冷和油冷为主，这类控温方式只能实现小功率电子元器件的控温，且易发生泄漏等情况，影响测试，使用寿命短，测试效率低；同时对于大功率电子元器件或对电子元器件环境温度要求很高的情况却存在无法实现精确控温，热速度慢或者根本无法控温的问题；而且即使实现了控温，由于制冷部件长期工作在满负荷或超负荷状态下，其使用寿命也会急速缩短。本申请人秉持着研究创新、精益求精之精神，利用其专业眼光和专业知识，研究出一种新型、实用，能快速升温、降温，且精确控温的电子元器件老化测试模块。
发明内容本实用新型的目的是提供一种结构简单，科学合理，易制作，能快速升温、降温，且精确控温的电子元器件老化测试模块，符合产业利用，使用寿命长。为达到上述目的，本实用新型采用如下技术方案:电子元器件老化测试模块，该模块至少包括有相互连接构成热导系统的载体、半导体制冷器及散热器，所述载体上设有供被测产品承放并形成热导连接的产品放置区，载体内设有发热管；所述散热器至少由导热块、导热管、散热翅片及散热风扇构成，导热管连接导热块与散热翅片，导热块与载体或半导体制冷器形成热导连接。上述方案中，所述载体、半导体制冷器和导热块之间为面贴连接在一起。所述导热管对着散热翅片正面穿设，导热管内设有导热的空气介质或液体介质。导热管内的液体介质可为循环形态。所述导热管为U形设计，弯折的根部与导热块连接在一起，而导热管的两支延伸臂分别对着两组散热翅片正面穿设，散热风扇设置在两组散热翅片的相对端部之间，且散热风扇的送风方向正对散热翅片的翅片间隙。本实用新型有效设计测试模块，该模块可匹配电子元器件老化测试箱或设备使用，起到对老化测试控温功效。模块中配有发热管和半导体制冷器，起到辅助加热和快速降温功效，方便测试，制冷工作无运动部件，可靠性也比较高，无制冷剂污染，发热管辅助加热可适用于小功率电子元器件的控温测试，适用面广，符合产业利用，而散热器至少由导热块、导热管、散热翅片及散热风扇构成，散热效果更显著，大大提升测试效率，具有极高的经济效益和社会效益。本实用新型结构简单，科学合理，易制作，成本低，使用及维护简便，灵活性好，使用寿命长，大大提升设备的可操作性和运行率。
:附图1为本实用新型其一实施例的立体结构示意图；附图2为图1实施例的另一视角立体结构示意图；附图3为图1实施例的侧视结构示意图；附图4为图1实施例的俯视结构示意图。
具体实施方式
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以下结合附图对本实用新型进一步说明:参阅图f 4所示，本实用新型有关一种电子元器件老化测试模块，该模块至少包括有相互连接构成热导系统的载体1、半导体制冷器2及散热器3，所述载体I上设有供被测产品承放并形成热导连接的产品放置区11，载体I内设有发热管12 ;所述散热器3至少由导热块31、导热管32、散热翅片33及散热风扇34构成，导热管32连接导热块31与散热翅片33，导热块31与载体I或半导体制冷器2形成热导连接。本实施例中，载体1、半导体制冷器2和导热块31之间为面贴连接在一起，为依次层叠设置，导热性好；利用载体I内的发热管12加热，可达到辅助升温，满足小功率电子元器件的控温测试的需要，增加适用面，推进产业利用。工作时，被测产品放在产品放置区11，本实施例的产品放置区11为一平面，当然产品放置区11上还可配套设有治具等辅件，以方便被测产品定位稳固。被测产品通电工作，产生的热量传递到模块上，本模块的载体1、半导体制冷器2及散热器3构成的热导系统对被测产品的壳温管控，控制在一固定温度上，从而进行老化测试。工作中，载体I内的发热管12起到辅助加热，而半导体制冷器2起到快速降温，散热器3给予散热，以实现控温，对于载体I和半导体制冷器2的工作可根据实际需要启动附加功效，半导体制冷器2为现有技术，其工作原理在此不再详细赘述。图广4所示，本实施例中，所述散热器3中的导热管32对着散热翅片33正面穿设，导热管32内设有导热的空气介质或液体介质。为了增加散热效果，导热管32内的液体介质可为循环形态。本实施例中，多根并列设计的导热管32为U形设计，弯折的根部与导热块31连接在一起，而导热管32的两支延伸臂分别对着两组散热翅片33正面穿设，由此增加散热面，散热风扇34设置在两组散热翅片33的相对端部之间，且散热风扇34的送风方向正对散热翅片33的翅片间隙，由此一台散热风扇34工作，则可实现冷却空气依次为流经两组散热翅片33 (其中之一为吸入流动，而另一为吹出流动)，达到散热工作，因而散热效果更佳，控温更精确。本实用新型提供的模块解决了热速度慢或者根本无法控温的问题；同时可减少制冷部件工作在满负荷或超负荷的状态，使用寿命更长。结构简单，科学合理，易制作，成本低，使用及维护简便，灵活性好，使用寿命长，大大提升设备的可操作性和运行率，具有极高的经济效益和社会效益。
权利要求1.电子元器件老化测试模块，其特征在于:该模块至少包括有相互连接构成热导系统的载体(I)、半导体制冷器(2)及散热器(3)，所述载体(I)上设有供被测产品承放并形成热导连接的产品放置区(11)，载体(I)内设有发热管(12);所述散热器(3)至少由导热块(31)、导热管(32)、散热翅片(33)及散热风扇(34)构成，导热管(32)连接导热块(31)与散热翅片(33)，导热块(31)与载体(I)或半导体制冷器(2)形成热导连接。
2.根据权利要求1所述的电子元器件老化测试模块，其特征在于:所述载体(I)、半导体制冷器(2 )和导热块(31)之间为面贴连接在一起。
3.根据权利要求1所述的电子元器件老化测试模块，其特征在于:所述导热管(32)对着散热翅片(33)正面穿设，导热管(32)内设有导热的空气介质或液体介质。
4.根据权利要求1或3所述的电子元器件老化测试模块，其特征在于:所述导热管(32)为U形设计，弯折的根部与导热块(31)连接在一起，而导热管(32)的两支延伸臂分别对着两组散热翅片(33)正面穿设，散热风扇(34)设置在两组散热翅片(33)的相对端部之间，且散热风扇(34)的送风方向正对散热翅片(33)的翅片间隙。
5.根据权利要求3所述的电子元器件老化测试模块，其特征在于:导热管(32)内的液体介质为循环形态。
专利摘要本实用新型涉及测试仪器设备技术领域，尤其是涉及电子元器件老化测试模块，包括有相互连接构成热导系统的载体、半导体制冷器及散热器，载体上设有供被测产品承放并形成热导连接的产品放置区，载体内设有发热管；散热器由导热块、导热管、散热翅片及散热风扇构成，导热管连接导热块与散热翅片，导热块与半导体制冷器形成热导连接，导热管对着散热翅片正面穿设，导热管内设有导热的空气介质或液体介质。本实用新型可匹配电子元器件老化测试箱或设备使用，起到对老化测试控温功效，具有辅助加热和快速降温功效，可靠性也比较高，无制冷剂污染，适用面广，符合产业利用，散热器的散热效果更显著，大大提升测试效率，具有极高的经济效益和社会效益。
文档编号G01R31/00GK203054134SQ20132005222
公开日2013年7月10日 申请日期2013年1月30日 优先权日2013年1月30日
发明者戴雷玉 申请人:戴雷玉