一种转动轴垂直度的检测装置制造方法

文档序号:6195203阅读:549来源:国知局
一种转动轴垂直度的检测装置制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种转动轴垂直度的检测装置,首先,磨制两根芯轴,将芯轴安装在转台轴的两侧,作为轴的引出端;其次,用螺旋测微器测量转台轴两侧引出端的圆度误差,并记录数据;然后,用千分表测量转台轴的圆跳动,并记录数据;旋转转台轴,用千分表测量转台轴两侧引出芯轴的变化值,再次记录数据;最后,依据记录的数据进行角度换算,得到两轴的垂直度。本发明仪器简单可靠;方法快速精确;检测受环境影响小;可用于各种设备的两轴垂直度检测,适应性好。
【专利说明】 一种转动轴垂直度的检测装置
【技术领域】
[0001]本发明属于机电设备领域,具体涉及一种检测转动轴垂直度的设备。
[0002]【背景技术】
[0003]垂直度,是一种位置公差。依据参考基准与被测要素的不同,垂直度可分为四类:线对基准线、线对基准面、线对基准体系、面对基准线和面对基准面的垂直度。转台的各个转动轴之间一般要求轴系互相垂直,其垂直度误差是评价转台系统精度的重要指标。
[0004]转台的轴系安装是个反复装调的过程,需要多次检测垂直度误差。目前,转台轴系垂直度的检测方法有多种。这些方法通常需要使用较多的高精度复杂仪器,并工况条件要求较高,不能直接快速的测量。

【发明内容】

[0005]针对现有技术中存在的不足,本发明提出一种新的转台轴系垂直度检测方法,该方法通过使用简单的测量仪器,快速精确的检测两轴或多轴转台任意两个垂直轴之间的垂直度误差,以此提高轴系装调效率。
[0006]本发明所要解决的技术问题是快速精确的检测转台轴系垂直度,特别适用于精密转台转轴之间垂直度的检测。
[0007]本发明需要用到的测量器材包括螺旋测微器、千分表和卷尺,另外,需磨制两根芯轴作为测量工装。
[0008]为了实现上述目的,本发明采用的技术方案是:1、一种转动轴垂直度的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
[0009]步骤一、磨制两根芯轴,将芯轴安装在转台II轴的两侧,作为II轴的引出端;
[0010]步骤二、用螺旋测微器测量转台II轴两侧引出端的圆度误差,并记录数据;
[0011]步骤三、用千分表测量转台II轴的圆跳动,并记录数据;旋转转台I轴,用千分表测量转台II轴两侧引出芯轴的变化值,再次记录数据;
[0012]步骤四、依据记录的数据进行角度换算,得到两轴的垂直度。
[0013]上述的检测方法,其进一步特征在于:步骤一中,预先磨制两根直径尺寸一致的芯轴,用螺钉分别安装在转台II轴两侧。
[0014]步骤二中,微调两根芯轴,使之与转台II轴旋转中心一致,即使芯轴与II轴共轴;在转台II轴两端芯轴上选择两个检测点B、C,检测点B、C左右对称,用螺旋测微器分别测量检测点B、C处的圆度误差,判定测量值是否小于2 μ m,否则继续磨制芯轴,并记录数据。用卷尺测量两个检测点B、C之间的距离d。
[0015]步骤三中,将千分表Al、A2分别安装在转台II轴两端的轴座上,测头分别指向两个检测点B、C处,对千分表Al、A2调零;旋转转台II轴一周,测出轴端两个检测点B、C的最大变化值,即圆跳动误差,判定测量值是否小于5 μ m,否则微调芯轴的安装螺钉,并记录数据。在基座上固定千分表A3,测头指向检测点C处,对千分表A3调零,旋转转台I轴180°,测量检测点C,取读数绝对值,得到I Λ δ I。[0016]步骤四中,将得到的测量数据进行简单角度换算,得出两轴的垂直度误差,SPf= I Δ δ I X JI /360d。
[0017]本发明同时公开了一种转动轴垂直度的检测装置,它包括基座、千分表、芯轴、转动轴,其特征在于,所述千分表分为第一千分表、第二千分表、第三千分表,所述转动轴分为转台I轴、转台II轴,所述芯轴为两根,安装在转台II轴的两侧,所述转台II轴两端芯轴上设有左右对称的两个检测点,所述第一千分表、第二千分表分别安装在所述转台II轴两端的轴座上,测头分别指向两个检测点。所述第三千分表固定在基座上,测头指向两个监测点之一 O
[0018]本发明对比已有技术具有以下的优点:
[0019]1、仪器简单可靠。检测中所用的器材均为工程常备工具。与同类检测手段相比,在满足同样检测精度下,价格低廉,重复性好。
[0020]2、方法快速精确。本检测方案在装配现场能快速搭建,直接测出垂直度误差,精确反应出实际误差的大小。对机械结构微调后,能立即恢复检测状态。
[0021]3、检测受环境影响小。在装配或零件加工现场,可以随时实施检测。
[0022]4、可用于各种设备的两轴垂直度检测,适应性好。
【专利附图】

【附图说明】
[0023]图1为本发明实施例的转台圆跳动测量示意图。
[0024]图中,1:千分表Al ;2:千分表A2 ;4:芯轴二 ;5:芯轴一 ;6:转台I轴;7:转台II轴。
[0025]图2为转台II轴两端芯轴变化值测量示意图。
[0026]图中,3:千分表A3。
【具体实施方式】
[0027]以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细说明。
[0028]本实施例的一种检测转动轴垂直度的方法,本发明中的I轴、II轴是转台上任意两个垂直轴,且没有次序之分,既可用于二轴转台,也可用于三轴或更多轴的转台。
[0029]首先,磨制两根芯轴,将芯轴安装在转台II轴的两侧,作为II的引出端;
[0030]其次,用螺旋测微器测量转台II轴两侧引出端的圆度误差,并记录数据;
[0031]然后,用千分表测量转台II轴的圆跳动,并记录数据;旋转转台I轴,用千分表测量转台II轴两侧引出芯轴的变化值,再次记录数据;
[0032]最后,依据记录的数据进行角度换算,得到两轴的垂直度。
[0033]其具体实现过程如下:
[0034]1、预先磨制两根直径尺寸一致的芯轴,用螺钉分别安装在转台II轴两侧,如图1所示。
[0035]2、微调两根芯轴,使之与转台II轴旋转中心一致,即使芯轴与II轴共轴。方法如下:在转台II轴两端芯轴上选择2个检测点B、C,检测点B、C左右对称,用螺旋测微器分别测量检测点B、C处的圆度误差。判定测量值是否小于2 μ m,否则继续磨制芯轴,并记录数据。[0036]3、用卷尺测量检测点B、C之间的距离d。
[0037]4、如图1所示,将千分表Al、A2分别安装在转台II轴两端的轴座上,测头分别指向检测点B、C处,对千分表Al、A2调零。旋转转台II轴一周,测出轴端2处检测点的最大变化值,即圆跳动误差。判定测量值是否小于5 μ m,否则微调芯轴的安装螺钉,并记录数据。
[0038]5、如图2所示,在基座上固定千分表A3,测头指向检测点C处,对千分表A3调零。旋转转台I轴180°,测量检测点C,取读数绝对值,得到I Λ δ I。
[0039]6、综合以上步骤中得到的测量数据进行简单角度换算,得出两轴的垂直度误差,即 f= I Λ δ I X JI /360d。
[0040]本方法使用到的检测装置,它包括基座、分表Al、千分表A2、千分表A3,转台I轴
6、转台II轴7是转台上任意两个垂直轴,芯轴为两根:芯轴一 5、芯轴二 4,安装在转台II轴7的两侧,转台II轴7两端芯轴上设有左右对称的两个检测点B、C,千分表Al、千分表A2分别安装在转台II轴7两端的轴座上,测头分别指向两个检测点B、C,千分表A3固定在基座上,测头指向监测点C。
[0041]虽然本发明已以较佳实施例公开如上,但实施例和附图并不是用来限定本发明,任何熟悉此技艺者,在不脱离本发明之精神和范围内,自当可作各种变化或润饰,同样属于本发明之保护范围。因此本发明的保护范围应当以本申请的权利要求所界定的为准。
【权利要求】
1.一种转动轴垂直度的检测装置,它包括基座、千分表、芯轴、转动轴,其特征在于,所述千分表分为第一千分表、第二千分表,所述转动轴至少分为转台I轴、转台II轴,所述芯轴为两根,安装在转台II轴的两侧,所述转台II轴两端芯轴上设有左右对称的两个检测点,所述第一千分表、第二千分表分别安装在所述转台II轴两端的轴座上,测头分别指向两个检测点。
2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,它还包括第三千分表,所述第三千分表固定在基座上,测头指向两个监测点之一。
【文档编号】G01B5/245GK203489830SQ201320479514
【公开日】2014年3月19日 申请日期:2013年8月7日 优先权日:2013年8月7日
【发明者】毛一江, 毕勇 申请人:中科院南京天文仪器有限公司
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