一种电容测试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种电容测试装置，包括电容测试仪，其两端连接测试板，测试板上设有插拨式夹子，待测电容插置到所述的插拨式夹子内定位，所述的测试板内设有时序控制器连接驱动开关，驱动开关连接继电器，继电器连接待测电容，所述的电容测试仪通过相应的继电器与待测电容连接，该装置将自动切换待测电容导通到电容测试仪，通过电容测试仪即可读取电容测试参数，这样测试方便快捷，可批量测试，效率提升，无需逐一人工固定电解。
【专利说明】一种电容测试装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种电容测试装置，具体与一种可批量自动测试电容参数，提升电容测试效率的电容测试装置有关。
【背景技术】
[0002]现有电容测试，采用电容测试仪测试电容参数，但现有的测试方法需要将电容测试仪两个测试端子人工夹住电容两端，再读取测试参数，这样每测试一个电容均需要人工固定电容，测试效率低。
实用新型内容
[0003]为解决现有技术中存在的技术问题，本实用新型提供了一种可批量自动测试电容参数，提升电容测试效率的电容测试装置。
[0004]本实用新型解决上述技术问题，所采用的技术方案是:
[0005]一种电容测试装置，包括电容测试仪，其两端连接测试板，测试板上设有插拨式夹子，待测电容插置到所述的插拨式夹子内定位，所述的测试板内设有时序控制器连接驱动开关，驱动开关连接继电器，继电器连接待测电容，所述的电容测试仪通过相应的继电器与待测电容连接。
[0006]进一步，所述的驱动开关包括与时序控制器连接由其控制的一组译码器及与译码器连接并由其控制的一组MOS管，一组MOS管，与相应的继电器连接并控制其通断。
[0007]采用上述技术方案，本实用新型采用时序控制器控制译码器数据输出信号驱动MOS管开关，继而控制继电器导通，使该继电器所控制待测电容连接至电容测试仪，即可读取待测电容的测试参数。时序控制器输出译码器所需要的数据输入信号，译码器数据输出不同端口按照设定时序处于有效电平，使不同译码器数据输出端口所控制MOS管开通，继而使MOS管所驱动的继电器导通，不同继电器KAn导通不同待测电容Cn，即可达到快速批量测试的目的。
【专利附图】
【附图说明】
[0008]此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本实用新型的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中:
[0009]图1是本实用新型结构示意图；
[0010]图2是本实用新型测试板示意图；
[0011]图3是本实用新型电路连接示意图。
【具体实施方式】
[0012]为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚、明白，以下结合附图和实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
[0013]如图1-3所示，一种电容测试装置，包括电容测试仪1，其两端连接测试板2，测试板2上设有插拨式夹子3，待测电容4插置到所述的插拨式夹子3内定位，所述的测试板2内设有时序控制器5连接驱动开关6，驱动开关6连接继电器7，继电器7连接待测电容4，所述的电容测试仪I通过相应的继电器7与待测电容4连接。所述的驱动开关6包括与时序控制器5连接由其控制的一组译码器61及与译码器61连接并由其控制的一组MOS管62，一组MOS管62与相应的继电器7连接并控制其通断。
[0014]工作时，将所需待测电容批量人工固定在插拔式夹子中，电容测试仪测试端子固定在本发明装置测试端，启动该装置，采用时序控制器控制译码器数据输出信号驱动MOS管开关，继而控制继电器导通，使该继电器所控制待测电容连接至电容测试仪，即可读取待测电容的测试参数。时序控制器输出译码器所需要的数据输入信号，译码器数据输出不同端口按照设定时序处于有效电平，使不同译码器数据输出端口所控制MOS管开通，继而使MOS管所驱动的继电器导通，不同继电器KAn导通不同待测电容Cn，即可达到快速批量测试的目的。该装置将自动切换待测电容导通到电容测试仪，通过电容测试仪即可读取电容测试参数，这样测试方便快捷，可批量测试，效率提升，无需逐一人工固定电解。
[0015]上述说明示出并描述了本实用新型的优选实施例，如前所述，应当理解本实用新型并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述实用新型构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本实用新型的精神和范围，则都应在本实用新型所附权利要求的保护范围内。
【权利要求】
1.一种电容测试装置，其特征在于:包括电容测试仪(1)，其两端连接测试板(2)，测试板(2)上设有插拨式夹子(3)，待测电容(4)插置到所述的插拨式夹子(3)内定位，所述的测试板(2)内设有时序控制器(5)连接驱动开关(6)，驱动开关(6)连接继电器(7)，继电器(7 )连接待测电容(4)，所述的电容测试仪(I)通过相应的继电器(7 )与待测电容(4)连接。
2.如权利要求1或2所述的一种电容测试装置，其特征在于:所述的驱动开关(6)包括与时序控制器(5)连接由其控制的一组译码器(61)及与译码器(61)连接并由其控制的一组MOS管(62)，一组MOS管(62)与相应的继电器(7)连接并控制其通断。
【文档编号】G01R31/01GK203798938SQ201420157759
【公开日】2014年8月27日 申请日期:2014年4月2日 优先权日:2014年4月2日
【发明者】郑金龙 申请人:泉州市鲤城区强力巨彩光电科技有限公司