检测装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开的检测装置，包括锥套塞规、锥体规、钢球、等高垫以及测量等高的标准量块；工作时，将锥套摆放在等高垫上，锥套塞规的倒锥端安放在锥套里，锥体规与锥套塞规的配合精度不小于95%，再把钢球安放在锥套塞规另一端套的定位孔内，然后用百分表粗检，用与检测高度相等的标准量块确定百分表位置。所述锥套塞规、锥体规材料为T10A，热处理C62，锥面粗糙度Ra=0.4μm。所述锥套塞规、锥体规两端面均倒角。所述等高垫上下面平行度就不大于0.005mm。本实用新型操作简单，结构合理，使用方便，能同时检测接触精度和等高尺寸精度，缩短了检测时间，提高了劳动效率和经济效益。
【专利说明】检测装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及机械制造领域，尤其涉及一种用于检测定位锥锥套的检测装置。
【背景技术】
[0002]定位锥是用于加工中心滑板交换工作台上的关键零部件，是保证机床精度的关键环节。如图1、图2所示，定位锥每套由4个锥体和8个锥套组成，要求工作台在每次交换或自身转位时的等高精度都在0.015mm内。所以说，定位锥的技术问题关键是接触精度和等高尺寸精度。
[0003]一般锥体和锥套常规检测法是接触精度用检测规涂色法检查，大小端尺寸精度是以检测规的通止刻线为标准。而定位锥除接触精度用涂色法外，等高精度用通止刻线检查是根本行不通的。
【发明内容】
[0004]针对现有技术存在的问题，本实用新型的目的在于提供一种结构简单、合理，使用方便，能同时检测定位锥锥套的接触精度和等高尺寸精度的检测装置。
[0005]本实用新型采用的技术方案是:检测装置，其特征在于:包括锥套塞规、锥体规、钢球、等高垫以及测量等高的标准量块；工作时，将锥套摆放在等高垫上，锥套塞规的倒锥端安放在锥套里，锥体规与锥套塞规的配合精度不小于95%，再把钢球安放在锥套塞规另一端套的定位孔内，然后用百分表粗检，用与检测高度相等的标准量块确定百分表位置。
[0006]进一步的，所述锥套塞规、锥体规材料为T10A，热处理C62，锥面粗糙度Ra=0.4 μ m0
[0007]进一步的，所述锥套塞规、锥体规两端面均倒角。
[0008]进一步的，所述等高垫上下面平行度就不大于0.005mm。
[0009]本实用新型的有益效果在于:操作简单，结构合理，使用方便，能同时检测接触精度和等高尺寸精度，缩短了检测时间，提高了劳动效率和经济效益。
【专利附图】
【附图说明】
[0010]图1是加工工件结构示意图。
[0011]图2是加工工件左视图。
[0012]图3是本实用新型锥体规、锥套塞规结构示意图。
[0013]图4是本实用新型测量工件时结构示意图。
[0014]1、平台2、等高垫3、锥体规4、锥套塞规5、钢球6、标准量块7、百分表8、锥套9、定位孔10、锥体。
【具体实施方式】
[0015]下面结合附图对本实用新型作进一步的描述。
[0016]如图3、4所示，本实用新型采用了检测装置，包括锥套塞规4、锥体规3、钢球5、等高垫2以及测量等高的标准量块6。工作时，将锥套8摆放在等高垫2上。锥套塞规4的倒锥端安放在锥套8里。锥体规3与锥套塞规4的配合精度不小于95%。再把钢球5安放在锥套塞规4另一端套的定位孔9内。然后用百分表7粗检。用与检测高度相等的标准量块6确定百分表7位置。
[0017]本实用新型所述锥套塞规4、锥体规3材料优选为T10A，热处理C62，锥面粗糙度Ra=0.4 μ m。
[0018]本实用新型所述锥套塞规4、锥体规3两端面均倒角。
[0019]本实用新型所述等高垫2上下面平行度就不大于0.005mm。热处理后用精密平面磨床磨削。
[0020]工作时，在平台上将定位锥的锥套8摆放在事先准备好的等高垫2上，用手轻轻将锥套塞规4安放在被检查的锥套8上，然后，再将事先准备好的钢球5放在锥套塞规4的定位孔内，用百分表7粗检，确定读数，然后再用千分表分别确定四件定位锥锥套8的等高尺寸。
[0021]检查时，需先用百分表7通检一下，选出一个最小尺寸的定位锥做为本组的基准尺寸，然后用千分表确定定位锥的±0.005mm尺寸。为防止百分表7或千分表移动,平台上标准量块7，高度和百分表7相同。
[0022]另外，每次更换被检锥套8时，因全部是手工操作，所以，当每次更换时，一定要轻拿轻入，完全保证以上三件检具牢牢地安放在固定位置上。
[0023]在此说明了此实用新型的优选实施例，包括发明人用于实施本实用新型的已知最佳模式。优选实施例的变更对本领域普通技术人员而言在阅读上述说明后是显而易见的。发明人希望普通技术人员合理应用这样的变更，并且发明人认为与在此明确说明不同的应用也可以实现本实用新型。因此，本实用新型包括随附权利要求中所引用的主旨的所有修改及等效形式，这在适用的法律中是允许的。此外，上述要素的所有可能的变更的任何组合也被本实用新型所包含，除非在此另外指出或者在上下文中明显矛盾。
【权利要求】
1.一种检测装置，其特征在于:包括锥套塞规、锥体规、钢球、等高垫以及测量等高的标准量块；工作时，将锥套摆放在等高垫上，锥套塞规的倒锥端安放在锥套里，锥体规与锥套塞规的配合精度不小于95%，再把钢球安放在锥套塞规另一端套的定位孔内，然后用百分表粗检，用与检测高度相等的标准量块确定百分表位置。
2.根据权利要求1所述检测装置，其特征在于:所述锥套塞规、锥体规材料为T10A，热处理C62，锥面粗糙度Ra=0.4 μ m。
3.根据权利要求1所述检测装置，其特征在于:所述锥套塞规、锥体规两端面均倒角。
4.根据权利要求1所述检测装置，其特征在于:所述等高垫上下面平行度就不大于.0.005mm。
【文档编号】G01B5/02GK203981054SQ201420269157
【公开日】2014年12月3日 申请日期:2014年5月26日 优先权日:2014年5月26日
【发明者】胡科娜 申请人:宁波镇海弘润磁材科技有限公司