一种平面平整度智能测量系统的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种平面平整度智能测量系统，包括可调节参数光源，多光谱摄像机、图像采集卡和处理系统对比数据库；可调节参数光源向待测平面发射特定光束；多光谱摄像机接收待测平面反射光；图像采集卡接收多光谱摄像机的信号传输；图像采集卡将信号传输到处理系统对比数据库。本实用新型采用机器视觉、图像处理与人工智能等技术的结合，快速、无损、准确地评定平整度。
【专利说明】一种平面平整度智能测量系统
【技术领域】
[0001]本实用新型属于智能测量领域，尤其涉及一种平面平整度智能测量系统。
【背景技术】
[0002]平面平整度的检测是十分重要，加工或者生产某些东西时，表面并不会绝对平整，所不平与绝对水平之间，所差数据，就是平整度。(数值越小越好)，现有技术中检测一个平面平整度，十分的麻烦，工作效率底，而且误差很大，没有达到一种傻瓜操作的效果，尤其是在机械加工的领域平面平整度的要求很高，麻烦的检测系统让生产效率降低，提高了时间成本，还没达到预期的检测效果。
实用新型内容
[0003]本实用新型的目的在于提供一种平面平整度智能测量系统，快速、无损、准确地评定平面的平整度。
[0004]为解决上述目的本实用新型的技术方案是:提供一种平面平整度智能测量系统，包括可调节参数光源，多光谱摄像机、图像采集卡和处理系统对比数据库；可调节参数光源向待测平面发射特定光束；多光谱摄像机接收待测平面反射光；图像采集卡接收多光谱摄像机的信号传输；图像采集卡将信号传输到处理系统对比数据库。
[0005]进一步的，所述的多光谱摄像机为3CXD多光谱摄像机。
[0006]进一步的，还包括待测平面放置平台，可调节参数光源发射特定光束照射于待测平面放置平台上。
[0007]本实用新型的有益效果:快速、无损、准确地评定平面的平整度。
【专利附图】
【附图说明】
[0008]图1为本实用新型的系统图；
[0009]图2为计算机内部处理流程图。
【具体实施方式】
[0010]下面结合附图和具体的实施例对本实用新型作进一步的阐述。
[0011]一种平面平整度智能测量系统，包括可调节参数光源，多光谱摄像机、图像采集卡和处理系统对比数据库；可调节参数光源向待测平面发射特定光束；多光谱摄像机接收待测平面反射光；图像采集卡接收多光谱摄像机的信号传输；图像采集卡将信号传输到处理系统对比数据库。
[0012]所述的多光谱摄像机为3CXD多光谱摄像机。
[0013]还包括待测平面放置平台，可调节参数光源发射特定光束照射于待测平面放置平台上。
[0014]原理在于:通过固定光源的照射，3CXD多光谱摄像机接受待测平面反射信息；反射信息通过图像采集卡传输到处理系统对比数据库，得到原始的图像；通过降噪，降低图像噪音，得到单独的待测平面图像信息；制定好特征向量；事先通过检测，确定平面平整度的几个样本，以这些不同的平整度作为输出，建立不同的平面的数据模型；拍摄待测平面的多光谱图像；以各像素集的平整度判断结果所占的比例综合判断，并输出结果。
[0015]本领域的普通技术人员将会意识到，这里所述的实施例是为了帮助读者理解本实用新型的原理，应被理解为本实用新型的保护范围并不局限于这样的特别陈述和实施例。本领域的普通技术人员可以根据本实用新型公开的这些技术启示做出各种不脱离本实用新型实质的其它各种具体变形和组合，这些变形和组合仍然在本实用新型的保护范围内。
【权利要求】
1.一种平面平整度智能测量系统，其特征在于:包括可调节参数光源，多光谱摄像机、图像采集卡和处理系统对比数据库；可调节参数光源向待测平面发射特定光束；多光谱摄像机接收待测平面反射光；图像采集卡接收多光谱摄像机的信号传输；图像采集卡将信号传输到处理系统对比数据库。
2.根据权利要求1所述的平面平整度智能测量系统，其特征在于:所述的多光谱摄像机为3CCD多光谱摄像机。
3.根据权利要求1所述的平面平整度智能测量系统，其特征在于:还包括待测平面放置平台，可调节参数光源发射特定光束照射于待测平面放置平台上。
【文档编号】G01B11/30GK204154293SQ201420618144
【公开日】2015年2月11日 申请日期:2014年10月23日 优先权日:2014年10月23日
【发明者】不公告发明人 申请人:成都金采科技有限公司