一种继电器动作检测电路的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种结构及功能简单的继电器动作检测电路，包括继电器，驱动电路，检测电路，所述的驱动电路和检测电路是通过继电器连接在一起的；该继电器动作检测电路，不需要独立电源供电，其具有交直流检测功能，隔离耐压交流一分钟内不会损坏，占用空间较小，生产成本低的一种继电器动作检测电路。
【专利说明】一种继电器动作检测电路
【技术领域】
[0001]本实用新型属于电学领域，特别涉及在电力系统中，一种继电器动作检测电路。
【背景技术】
[0002]现有电路中的检测电路种类繁多，且大多结构及功能复杂，且需要独立电源供电，不具备交直流检测功能，使得检测设备占用空间较大，且复杂的检测电路背后的不稳定性和不可靠性因素也会随之增加，而且出故障后需检测和维修点可能也会随之增多，无形之中降低了产品的合格率，增加了生产成本。
实用新型内容
[0003]为解决上述问题，本实用新型提供一种结构及功能简单的检测电路，不需要独立电源供电，其具有交直流检测功能，隔离耐压交流4000V—分钟内不会损坏，占用空间较小，生产成本低的一种继电器动作检测电路。
[0004]本实用新型采用以下技术方案实现:
[0005]一种继电器动作检测电路，包括继电器，驱动电路，检测电路，所述的驱动电路和检测电路是通过继电器连接在一起的；
[0006]所述的驱动电路，包括电阻R2、电阻R3，电阻R4，电阻R5，光耦OP3，三极管Ql，三极管Q2，二极管Dl，单片机系统电源，继电器驱动电源，所述的电阻R2的一端连接单片机系统电源，另一端连接光耦OP3的正向输入端，光耦OP3的另一输入端连接三极管Ql的发射极，光耦OP3的集电极输出端接继电器的驱动电源，光耦OP3的另一输出端接二极管Dl的负极和继电器，三极管Ql的基极连接电阻R3，三极管Ql的集电极连接三极管Q2的集电极，电阻R3的另一端连接到单片机的一个输出端口上，三极管Q2的发射极连接电阻R5和接地，三极管Q2的基极连接电阻R4，电阻R5的另一端连接电阻R4，电阻R4的另一端连接到单片机的另一个输出端口上；
[0007]所述的检测电路包括电阻Rl，电容Cl，光耦OPl，光耦OP2，电源，所述的光耦OPl的正向输入端连接光耦OP2的负向输入端，再一起与继电器相连，光耦OPl的另一输入端连接光耦0P2的正向输入端，再一起与继电器相连，光耦OPl的集电极输出端与电阻Rl相连，光耦OPl的发射极输出端接地，光耦0P2的集电极输出端与电容Cl相连后接地，光耦OPl的发射极输出端接地，电阻Rl的另一端连接电源，光耦OPl的集电极输出端和光耦0P2的集电极输出端相连连接到单片机的输入端口。
[0008]所述的驱动电路中，所述的单片机系统电源为3.3V，所述的继电器驱动电源为12V。
[0009]所述的检测电路中，所述的电源为单片机系统的3.3V电源。
[0010]所述的检测电路中光耦OPl和光耦0P2中设置检测光耦的限流电阻，该限流电阻一端与光耦负向输入端相连，另一端连接到继电器上，限流电阻的阻值可以根据不同的情况进行修改，保证光耦的导通电流有1-2个毫安就可以了，不能超出光耦的最大驱动电流。
[0011]所述的检测电路中电容Cl为瓷片电容。
[0012]所述的继电器为输出继电器有常开触点和常闭触点。
[0013]所述的驱动电路，其中三极管Ql和三极管Q2是两级开关，只有在两个开关同时打开的时候继电器才能工作，两级开关起到防止继电器误动作的目的。
[0014]所述的检测电路中电阻Rl起上拉电阻作用，为电路提供稳定可靠的高电平输出；电容Cl功能是滤波，使检测到的信号纹波减小，便于单片机检测。
[0015]该继电器动作检测电路的检测原理为:当单片机同时输出KZl—端为低电平，另一端KZ2为高电平的时候，光耦OP3导通，输出继电器有电流流过，继电器动作，常闭触点断开，常开触点闭合，常开触点闭合后继电器2和3脚电平相同，光耦OPl和光耦OP2不导通，连接到单片机的输入端口被Rl上拉。单片机检测到高电平，可以判断出继电器有动作。当继电器复位后常闭触点闭合，常开触点断开，继电器2和3脚存在电压差，如果继电器外接的是交流电，那么交流电通过光耦OPl和光耦0P2的时候，总有一个光耦导通，连接到单片机的输入端口的电平会变成一个低电平。
[0016]如果继电器外接的是直流电，不管电流方向如何，也能够保证有一个光耦导通，而使连接到单片机的输入端口的电平为低，当单片机检测到这个低电平的时候，就能够判断出继电器此时处于非动作状态。
[0017]如果继电器接入的是高压，需要考虑电阻的耐压，要选择耐压高的电阻。
【专利附图】
【附图说明】
[0018]图1是本实用新型的继电器动作检测电路的检测原理；
[0019]图2是本实用新型的继电器动作检测电路的电路框图
【具体实施方式】
[0020]下面结合说明书附图对本实用新型的继电器动作检测电路作进一步详细说明。
[0021]参见图2，本实用新型一种继电器动作检测电路，包括继电器RELAY1，驱动电路，检测电路，所述的驱动电路和检测电路是通过继电器RELAYl连接在一起的；所述的驱动电路，包括电阻R2、电阻R3，电阻R4，电阻R5，光耦OP3，三极管Ql，三极管Q2，二极管D1，单片机系统电源，继电器驱动电源，所述的电阻R2的一端连接单片机系统电源为3.3V，另一端连接光耦OP3的正向输入端，光耦OP3的另一输入端连接三极管Ql的发射极，光耦OP3的集电极输出端接继电器驱动电源12V，光耦OP3的另一输出端接二极管Dl的负极和继电器，三极管Ql的基极连接电阻R3，三极管Ql的集电极连接三极管Q2的集电极，电阻R3的另一端KZl连接到单片机的一个输出端口上，三极管Q2的发射极连接电阻R5和接地，三极管Q2的基极连接电阻R4，电阻R5的另一端连接电阻R4，电阻R4的另一端KZ2连接到单片机的另一个输出端口上；
[0022]所述的检测电路包括电阻R1，瓷片电容Cl，光耦OP1，光耦OP2，单片机系统的3.3V电源，所述的光耦OPl的正向输入端连接光耦0P2的负向输入端，再一起连接电阻R6和R7与继电器相连，光耦OPl的另一输入端连接光耦0P2的正向输入端，再一起连接电阻R8和R9与继电器相连，光耦OPl的集电极输出端与电阻Rl相连，光耦OPl的发射极输出端接地，光耦0P2的集电极输出端与电容Cl相连后接地，光耦OPl的发射极输出端接地，电阻Rl的另一端连接单片机系统的3.3V电源，光耦OPl的集电极输出端和光耦0P2的集电极输出端相连连接到单片机的输入端口。
[0023]所述的继电器为输出继电器有常开触点和常闭触点。
[0024]以上实施例仅仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述，并非对本实用新型的范围进行限定，在不脱离本实用新型设计精神的前提下，本领域普通工程技术人员对本实用新型的技术方案作出的各种变形和改进，均应落入本实用新型的权利要求书确定的保护范围内。
【权利要求】
1.一种继电器动作检测电路，其特征在于包括继电器，驱动电路，检测电路，所述的驱动电路和检测电路是通过继电器连接在一起的； 所述的驱动电路，包括电阻R2、电阻R3，电阻R4，电阻R5，光耦0P3，三极管Ql，三极管Q2，二极管Dl，单片机系统电源，继电器驱动电源，所述的电阻R2的一端连接单片机系统电源，另一端连接光耦0P3的正向输入端，光耦0P3的另一输入端连接三极管Ql的发射极，光耦0P3的集电极输出端接继电器的驱动电源，光耦0P3的另一输出端接二极管Dl的负极和继电器，三极管Ql的基极连接电阻R3，三极管Ql的集电极连接三极管Q2的集电极，电阻R3的另一端连接到单片机的一个输出端口上，三极管Q2的发射极连接电阻R5和接地，三极管Q2的基极连接电阻R4，电阻R5的另一端连接电阻R4，电阻R4的另一端连接到单片机的另一个输出端口上； 所述的检测电路包括电阻R1，电容Cl，光耦0P1，光耦0P2，电源，所述的光耦OPl的正向输入端连接光耦0P2的负向输入端，再一起与继电器相连，光耦OPl的另一输入端连接光耦0P2的正向输入端，再一起与继电器相连，光耦OPl的集电极输出端与电阻Rl相连，光耦OPl的发射极输出端接地，光耦0P2的集电极输出端与电容Cl相连后接地，光耦OPl的发射极输出端接地，电阻Rl的另一端连接电源，光耦OPl的集电极输出端和光耦0P2的集电极输出端相连连接到单片机的输入端口。
2.根据权利要求1所述的继电器动作检测电路，其特征在于所述的继电器为输出继电器有常开触点和常闭触点。
3.根据权利要求1所述的继电器动作检测电路，其特征在于所述的继电器的驱动电路中，所述的单片机系统电源为3.3V，所述的继电器驱动电源为12V。
4.根据权利要求1所述的继电器动作检测电路，其特征在于所述继电器检测电路中，所述的电源为单片机系统的3.3V电源。
5.根据权利要求1所述的继电器动作检测电路，其特征在于所述的继电器检测电路中光耦OPl和光耦0P2中设置检测光耦的限流电阻。
6.根据权利要求5所述的继电器动作检测电路，其特征在于所述的检测光耦的限流电阻与光親负向输入端相连。
7.根据权利要求1所述的继电器动作检测电路，其特征在于所述的继电器检测电路中电容Cl为瓷片电容。
【文档编号】G01R31/327GK204256126SQ201420690239
【公开日】2015年4月8日 申请日期:2014年11月18日 优先权日:2014年11月18日
【发明者】杨光, 吴永岚, 陈飞虎, 程凌法, 江少辉, 李冬 申请人:杭州炬华科技股份有限公司