本发明涉及一种芯片测试装置，具体地说是一种用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置，属于芯片测试装置领域。
背景技术：
LCD驱动控制芯片是典型的数-模混合SOC芯片，对于该类型芯片，芯片的管脚数目众多，且多为模拟管脚，如此大规模的输入、输出管脚对任何一个ATE设备来说都是一个不小的挑战，且模拟管脚测试时容易受到管脚寄生电容的影响，使得测试精度变差。其中，对于晶片测试(CP测试)环节，由于被测器件管脚非常多，探针卡和接口的设计与制做是CP测试的关键点，也是测试的难点之一。传统的测试机与探针卡之间的接口为电缆连接，电缆连接方式使用方便，成本低，但抗干扰能力若，主要应用低频测试(低于10MHz)。
技术实现要素：
为了解决上述问题，本发明设计了一种用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置，能够有效的降低测试通道的各种噪声干扰，适合频率较高、引脚数目多的IC测试，提高了工作效率，降低了生产成本。
本发明的技术方案为：
用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置，包括测试机和探针卡，所述的测试机和探针卡之间直接扣接。
本实用新型直接扣接方式可以有效的降低测试通道的各种噪声干扰，适合频率较高、引脚数目多的IC测试，虽然直接扣接方式相对于电缆连接方式成本要高，但随着半导体产业的发展，集成电路结构更复杂，频率越来越高，直接扣接方式也会越来越普遍。
其中，所述探针卡是CP测试时连接测试机与母板的设备。所述母板与所述测试机的测试通道相连，探针卡安装在母板上后，通过探针直接接触到测试机的Pad上，将芯片连接到整个测试系统之中。
本发明的优点在于：能够有效的降低测试通道的各种噪声干扰，适合频率较高、引脚数目多的IC测试，提高了工作效率，降低了生产成本。
下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。
附图说明
图1为本发明实施例的结构示意图。
具体实施方式
以下对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。
实施例1
如图1所示，一种用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置，包括测试机和探针卡，所述的测试机和探针卡之间直接扣接。
本实用新型直接扣接方式可以有效的降低测试通道的各种噪声干扰，适合频率较高、引脚数目多的IC测试，虽然直接扣接方式相对于电缆连接方式成本要高，但随着半导体产业的发展，集成电路结构更复杂，频率越来越高，直接扣接方式也会越来越普遍。
其中，所述探针卡是CP测试时连接测试机与母板的设备。所述母板与所述测试机的测试通道相连，探针卡安装在母板上后，通过探针直接接触到测试机的Pad上，将芯片连接到整个测试系统之中。
最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。