技术总结
本实用新型公开了一种用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置，包括测试机和探针卡，所述的测试机和探针卡之间直接扣接；所述探针卡是CP测试时连接所述测试机与母板的设备；所述母板与所述测试机的测试通道相连，所述探针卡安装在所述母板上后，通过探针直接接触到所述测试机的Pad上，将芯片连接到整个测试系统之中；本实用新型的优点在于：能够有效的降低测试通道的各种噪声干扰，适合频率较高、引脚数目多的IC测试，提高了工作效率，降低了生产成本。
技术研发人员：刘春来;张东
受保护的技术使用者：北京自动测试技术研究所
文档号码：201520969255
技术研发日：2015.12.01
技术公布日：2016.12.07