AVSS管脚及VSS管脚的开路测试方法与流程

技术特征：

1.一种AVSS管脚的开路测试方法，其特征在于，包括：

在芯片的AVSS系管脚中，选取一个管脚作为测试管脚，其中，所述AVSS系管脚是所述芯片的所有管脚中使用模拟电源进行供电的管脚；

对所述AVSS系管脚中的其余管脚印加电流，并测量所述测试管脚的电压；

将所述测试管脚的电压值与预先得到的AVSS管脚未开路情况下的测试管脚电压值进行比较；

如果所述测试管脚的电压值高于所述AVSS管脚未开路情况下的测试管脚电压值，则确定所述AVSS管脚开路；

其中，所述芯片的所述AVSS管脚与VSS管脚通过引线框架短接。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电流通过与所述芯片连接的测试机印加。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电流的大小按照所述芯片的额定电流值进行设定。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，如果对多个芯片的AVSS管脚进行开路测试，所述方法还包括：

确定AVSS管脚开路的芯片为不合格芯片，AVSS管脚未开路的芯片为合格芯片；

分别统计所述多个芯片中不合格芯片的个数和合格芯片的个数，并生成统计结果曲线图。

5.一种VSS管脚的开路测试方法，其特征在于，包括：

在芯片的VSS系管脚中，选取一个管脚作为测试管脚，其中，所述VSS系管脚是所述芯片的所有管脚中使用数字电源进行供电的管脚；

对所述VSS系管脚中的其余管脚印加电流，并测量所述测试管脚的电压；

将所述测试管脚的电压值与预先得到的VSS管脚未开路情况下的测试管脚电压值进行比较；

如果所述测试管脚的电压值高于所述VSS管脚未开路情况下的测试管脚电压值，则确定所述VSS管脚开路；

其中，所述芯片的AVSS管脚与所述VSS管脚通过引线框架短接。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述电流通过与所述芯片连接的测试机印加。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述电流的大小按照所述芯片的额定电流值进行设定。

8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，如果对多个芯片的VSS管脚进行开路测试，所述方法还包括：

确定VSS管脚开路的芯片为不合格芯片，VSS管脚未开路的芯片为合格芯片；

分别统计所述多个芯片中不合格芯片的个数和合格芯片的个数，并生成统计结果曲线图。