技术总结
本发明公开了一种AVSS管脚及VSS管脚的开路测试方法，其中，AVSS管脚的开路测试方法包括：在芯片的AVSS系管脚中，选取一个管脚作为测试管脚，其中，AVSS系管脚是芯片的所有管脚中使用模拟电源进行供电的管脚；对AVSS系管脚中的其余管脚印加电流，并测量测试管脚的电压；将测试管脚的电压值与预先得到的AVSS管脚未开路情况下的测试管脚电压值进行比较；如果测试管脚的电压值高于AVSS管脚未开路情况下的测试管脚电压值，则确定AVSS管脚开路；其中，芯片的AVSS与VSS管脚通过引线框架短接。本发明对VSS与AVSS管脚通过引线框架短接的芯片，能够判断出AVSS或VSS管脚是否开路，且测试时间较短。
技术研发人员：冯明亮
受保护的技术使用者：瑞萨集成电路设计(北京)有限公司
技术研发日：2016.03.23
技术公布日：2018.06.08