一种大型外径千分尺固定式校检装置的制作方法

文档序号:11822027阅读:523来源:国知局
一种大型外径千分尺固定式校检装置的制作方法

本发明涉及外径千分尺校检设备技术领域,尤其涉及一种大型外径千分尺固定式校检装置。



背景技术:

外径千分尺(OUTSIDE MICROMETER)常简称为千分尺,主要由固定的尺架、测砧、测微螺杆、固定套管、微分筒、测力装置、锁紧装置等组成,是一种比游标卡尺更精密的长度测量。未来确保外径千分尺测量结果的准确性,需要定期对其进行校检。现有的校检方式都是人工进行校检,人工检验难以找到测量面平行度,检验结果的可靠性差。



技术实现要素:

基于上述背景技术存在的技术问题,本发明提出一种大型外径千分尺固定式校检装置。

本发明提出了一种大型外径千分尺固定式校检装置,包括:检测平台、标准量块、第一千分表、第二千分表、第三千分表、第四千分表、安装架和固定机构,其中:

检测平台上端面上设有相对布置的第一升降杆和第二升降杆,第一升降杆、第二升降杆的顶端分别安装有第一安装座和第二安装座;

检测平台上端面且位于第一升降杆和第二升降杆的一侧设有支撑座和支撑座;

标准量块用于作为校验参照标准,布置在第一升降杆、第二升降杆之间;

安装架位于检测平台上;

第一千分表、第二千分表均包括测量杆,第一千分表、第二千分表位于第一升降杆、第二升降杆之间并分别固定安装在安装架上,且第一千分表、第二千分表测量杆分别垂直于水平面;

第三千分表、第四千分表均包括测量杆,第三千分表、第四千分表位于第一千分表、第二千分表之间连线的一侧并分别固定安装在设有支撑座、支撑座上,且第三千分表、第四千分表中测量杆分别平行于水平面,第三千分表、第四千分表中测量杆的测量端均分别指向第一千分表和第二千分表所在的竖直平面;

固定机构位于第一升降杆和第二升降杆的一侧,固定机构包括压块和紧固螺栓,压块位于检测平台的上方,紧固螺栓穿过压块并与检测平台螺纹连接。

优选地,检测平台上端面与水平面间的间距由靠近第一升降杆、第二升降杆的一侧向固定机构的一侧依次递减或递增。

优选地,检测平台上端面与水平面间的间距由靠近第一升降杆、第二升降杆的一侧向固定机构的一侧依次递减。

优选地,第一升降杆包括第一套筒和第一螺纹杆,第一套筒竖直布置并可转动安装在检测平台上,第一螺纹杆竖直布置并与第一套筒螺纹连接。

优选地,第一套筒的外表面设有绕其环面环形布置的孔槽。

优选地,第二升降杆包括第二套筒和第二螺纹杆,第二套筒竖直布置并可转动安装在检测平台上,第二螺纹杆竖直布置并与第二套筒螺纹连接。

优选地,第二套筒的外表面设有绕其环面环形布置的孔槽。

优选地,第一升降杆远离第二升降杆的一侧设有第一副升降机构,第一副升降机构包括第一固定块、第一滑动块和第一调节件,所述第一固定块固定安装在检测平台上,第一固定块远离第一升降杆的一侧设有竖直延伸的燕尾槽;第一滑动块与燕尾槽配合并沿燕尾槽的延伸方向进行上下滑动,第一滑动块的上表面安装有支撑座;第一调节件分别与第一滑动块和第一固定块进行配合用于对第一滑动块进行止动。

优选地,第一滑动块的上表面设有向其下表面方向延伸的安装孔。

优选地,第二升降杆远离第一升降杆的一侧设有第二副升降机构,第二副升降机构包括第二固定块、第二滑动块和第二调节件,所述第二固定块固定安装在检测平台上,第二固定块远离第二升降杆的一侧设有竖直延伸的燕尾槽;第二滑动块与燕尾槽配合并沿燕尾槽的延伸方向进行上下滑动,第二滑动块的上表面安装有支撑座;第二调节件分别与第二滑动块和第二固定块进行配合用于对第二滑动块进行止动。

优选地,第二滑动块的上表面设有向其下表面方向延伸的安装孔。

优选地,支撑座包括立杆、托块和紧固件,所述立杆一端伸入至安装孔内并通过紧固件固定;所述托块位于固定立杆的顶端并与其固定。

优选地,托块上表面具有弧形卡槽。

优选地,安装架包括水平板块和位于水平板块下方用于对其进行支撑的支腿。

优选地,支腿包括呈三角形排列布置第一支腿、第二支腿和第三支腿。

本发明中,标准量块用于作为外径千分尺校检的校准参照;检测平台用于对检测中的千分尺的尺架进行支撑,固定机构用于对外径千分尺中的尺架进行锁紧固定,防止其在校验过程中发生移动;第一升降杆、第二升降杆相互配合用于对外径千分尺中的测砧、测微螺杆进行托举并对其高度进行调节;第一千分表、第二千分表相互配合用于对外径千分尺中测砧、测微螺杆进行校检,确保二者处于同一水平面内;第三千分表、第四千分表相互配合用于对标准量块进行校检,确保标准量块与测砧、测微螺杆处于同一竖直平面内。

综上所述,本发明提出的一种大型外径千分尺固定式校检装置,通过四个千分表相互配合可以快速找到测量面平行度,且对测砧、测微螺杆和标准量块的双重校检,使得测量数据准确,可有效减小误差。此外,第一升降杆、第二升降杆、第一副升降机构、第二副升降机构相互配合可满足对不同规格外径千分尺的校检,有效扩大其使用范围。

附图说明

图1为本发明提出的一种大型外径千分尺固定式校检装置的结构示意图;

图2为图1的局部放大图;

图3为本发明提出的一种大型外径千分尺固定式校检装置中所述第一升降杆的结构示意图;

图4为本发明提出的一种大型外径千分尺固定式校检装置中所述第二升降杆的结构示意图。

具体实施方式

下面,通过具体实施例对本发明的技术方案进行详细说明。

如图1-4所示,图1为本发明提出的一种大型外径千分尺固定式校检装置的结构示意图;图2为图1的局部放大图;图3为本发明提出的一种大型外径千分尺固定式校检装置中所述第一升降杆的结构示意图;图4为本发明提出的一种大型外径千分尺固定式校检装置中所述第二升降杆的结构示意图。

参照图1-4,本发明实施例提出的一种大型外径千分尺固定式校检装置,包括:检测平台1、标准量块4、第一千分表5、第二千分表6、第三千分表7、第四千分表8、安装架9和固定机构10,其中:

检测平台1上端面上设有相对布置的第一升降杆2和第二升降杆3,第一升降杆2、第二升降杆3的顶端分别安装有第一安装座15和第二安装座16;检测平台1上端面且位于第一升降杆2和第二升降杆3的一侧设有支撑座和支撑座;标准量块4用于作为校验参照标准,布置在第一升降杆2、第二升降杆3之间;安装架9位于检测平台1上;第一千分表5、第二千分表6均包括测量杆,第一千分表5、第二千分表6位于第一升降杆2、第二升降杆3之间并分别固定安装在安装架9上,且第一千分表5、第二千分表6测量杆分别垂直于水平面;第三千分表7、第四千分表8均包括测量杆,第三千分表7、第四千分表8位于第一千分表5、第二千分表6之间连线的一侧并分别固定安装在设有支撑座、支撑座上,且第三千分表7、第四千分表8中测量杆分别平行于水平面,第三千分表7、第四千分表8中测量杆的测量端均分别指向第一千分表5和第二千分表6所在的竖直平面;固定机构10位于第一升降杆2和第二升降杆3的一侧,固定机构10包括压块101和紧固螺栓102,压块101位于检测平台1的上方,紧固螺栓102穿过压块101并与检测平台1螺纹连接。在对外径千分尺进行校检时,先将外径千分尺的尺架放置在检测平台1上,并使外径千分尺的测砧、测微螺杆分别放置在第一安装座15、第二安装座16上,使尺架卡在压块101的下方并利用紧固螺栓102下压将尺架锁紧固定;然后通过第一千分表5、第二千分表6分别与第一升降杆2、第二升降杆3配合对测砧、测微螺杆进行校准,通过第三千分表7、第四千分表8对标准量块4进行校准,其具体校准过程如下:

使第一千分表5、第二千分表6中的测量杆的顶端分别与测砧、测微螺杆的上表面抵靠,并观察第一千分表5、第二千分表6读数是否一致,当二者读数不一致时,调整第一升降杆2和/或第二升降杆3,使第一安装座15和/或第二安装座16进行升降动作,以带动测砧和/或测微螺杆升降,从而确保测砧和/或测微螺杆处于同一水平面内;

使第三千分表7、第四千分表8中的测量杆分别与标准量块4的侧表面抵靠,利用第三千分表7、第四千分表8校准,最终使标准量块4与测砧、测微螺杆处于同一竖直平面内;

最后使测砧、测微螺杆的顶端分别与标准量块4的两端抵靠,观察其测量数据与标准量块4的预定数据是否一致,从而判断该外径千分尺测量精度是否处于合格范围内。

本实施例中,检测平台1上端面与水平面间的间距由靠近第一升降杆2、第二升降杆3的一侧向固定机构10的一侧依次递减,使得校验中外径千分尺的尺架略低于测砧、测微螺杆,以方便校验。

本实施例中,第一升降杆2包括第一套筒201和第一螺纹杆202,第一套筒201竖直布置并可转动安装在检测平台1上,第一螺纹杆202竖直布置并与第一套筒201螺纹连接;第二升降杆3包括第二套筒301和第二螺纹杆302,第二套筒301竖直布置并可转动安装在检测平台1上,第二螺纹杆302竖直布置并与第二套筒301螺纹连接;工作中,通过转动第一套筒201、第二螺纹杆302推动第一螺纹杆202、第二螺纹杆302伸缩,从而实现升降调节动作。

本实施例中,第一套筒201和第二套筒301的外表面均设有绕其环面环形布置的孔槽13,孔槽13的设置用于杆件的插入,通过搬动杆件可以轻松的带动第一套筒201、第二套筒301旋转,省时省力。

本实施例中,第一升降杆2远离第二升降杆3的一侧设有第一副升降机构11,第一副升降机构11包括第一固定块、第一滑动块和第一调节件,所述第一固定块固定安装在检测平台1上,第一固定块远离第一升降杆2的一侧设有竖直延伸的燕尾槽;第一滑动块与燕尾槽配合并沿燕尾槽的延伸方向进行上下滑动,第一滑动块的上表面安装有支撑座14;第一调节件分别与第一滑动块和第一固定块进行配合用于对第一滑动块进行止动。第二升降杆3远离第一升降杆2的一侧设有第二副升降机构12,第二副升降机构12包括第二固定块1201、第二滑动块1202和第二调节件1203,所述第二固定块1201固定安装在检测平台1上,第二固定块1201远离第二升降杆3的一侧设有竖直延伸的燕尾槽;第二滑动块1202与燕尾槽配合并沿燕尾槽的延伸方向进行上下滑动,第二滑动块1202的上表面安装有支撑座14;第二调节件1203分别与第二滑动块1202和第二固定块1201进行配合用于对第二滑动块1202进行止动。第一副升降机构11和第二副升降机构12的作用与第一升降杆2和第二升降杆3的作用相同,用于满足第一升降杆2、第二升降杆3无法进行托举的大型外径千分尺的校检,以扩大其适用范围,且第一副升降机构11和第二副升降机构12中固定块与滑动块燕尾槽式滑动配合,承重量大,且结构稳定可靠。

本实施例中,第一滑动块和第二滑动块1202的上表面均分别设有向其下表面方向延伸的安装孔,且安装在第一滑动块、第二滑动块1202上的支撑座14均包括立杆1401、托块1402和紧固件1403,所述立杆1401一端伸入至安装孔内并通过紧固件1403固定;所述托块1402位于固定立杆1401的顶端并与其固定,托块1402上表面具有弧形卡槽;上述结构的设置使得托举稳定可靠,且紧固件1403可以调整立杆1401在安装孔内的插入深度,从而实现对托块1402高度的微调。

本实施例中,装架9包括水平板块和位于水平板块下方用于对其进行支撑的支腿;支腿包括呈三角形排列布置第一支腿、第二支腿和第三支腿。该结构的设置既能确保结构的稳定,又能在校检过程中,通过分别对三根支腿的位置进行移动,实现对第一千分表5和第二千分表6的位置进行微调,以确保第一千分表5和第二千分表6中的测量杆分别与千分尺中的测砧、测微螺杆抵靠。

由上可知,本发明提出的一种大型外径千分尺固定式校检装置,通过四个千分表相互配合可以快速找到测量面平行度,且对测砧、测微螺杆和标准量块的双重校检,使得测量数据准确,可有效减小误差。此外,第一升降杆、第二升降杆、第一副升降机构、第二副升降机构相互配合可满足对不同规格外径千分尺的校检,有效扩大其使用范围。

以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。

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