1.一种芯片端口频率测试方法，其特征在于，包括：
定义所述芯片的一输出管脚的测试向量的频率，使该频率符合自动测试装置的测试频率；
运行其他测试向量；以及
运行所述输出管脚的测试向量，以进行所述芯片端口频率测试。
2.如权利要求1所述的芯片端口频率测试方法，其特征在于，所述自动测试装置的测试频率低于所述其他测试向量的频率。
3.如权利要求1所述的芯片端口频率测试方法，其特征在于，所述输出管脚的测试向量和其他测试向量在所述自动测试装置的不同部分运行。
4.如权利要求1所述的芯片端口频率测试方法，其特征在于，进行所述芯片端口频率测试的方法是，得到一段时间t内输出管脚的输出信号的上升沿个数n，计算得到该被测端口的输出频率为f＝n/t。
5.如权利要求1所述的芯片端口频率测试方法，其特征在于，在所述芯片端口频率测试完成后，停止运行所述输出管脚的测试向量，其他测试向量继续运行。
6.如权利要求1所述的芯片端口频率测试方法，其特征在于，所述其他测试向量为时钟和设置管脚向量。
7.如权利要求1所述的芯片端口频率测试方法，其特征在于，所述输出管脚的测试向量为时钟和设置管脚向量。
8.如权利要求1所述的芯片端口频率测试方法，其特征在于，通过不同的测试项运行所述输出管脚的测试向量和其他测试向量。
9.如权利要求1所述的芯片端口频率测试方法，其特征在于，所述自动测试装置的测试频率为该自动测试装置在频率测试模式下的频率。
10.如权利要求1所述的芯片端口频率测试方法，其特征在于，所述自动测试装置在测试模式下的频率低于其在普通模式下支持的测试向量的最高频率。