技术总结
本发明公开了一种热释电材料性能测量装置，包括外壳和样品腔；其样品腔内包含温度调节模块、样品夹具和温度传感器；样品夹具与外部电压跟随器、信号采集卡、计算机依次连接；温度传感器用于实施时获取样品温度；样品的温度依次通过温度传感器、信号采集卡发送到外部计算机；由外部计算机根据样品温度变化所引起的输出电流或电压的变化情况，获取热释电材料样品的性能曲线，本发明所提供的热释电材料性能测量装置，具有测试周期短、测量精度高的特点，可用于测量具有热释电性能的单晶、陶瓷及薄膜材料样品。
技术研发人员：姜胜林;马佳辉;刘品;张光祖;曾亦可
受保护的技术使用者：华中科技大学
文档号码：201610815513
技术研发日：2016.09.12
技术公布日：2017.03.01