本发明涉及于物位计，尤指一种具有除尘结构的雷达波物位计。
背景技术：
雷达波物位计是采用微波脉冲的非接触测量方式，其可安装于各种金属、非金属容器或管道内，具有安装简便、易于维护、精确度高、使用场合广等优点。
一般来说，雷达波物位计可适用于粉尘、温度及压力变化大、存在惰性气体或蒸汽或腐蚀性强的物料环境中，以对液体、浆料及颗粒料的物位进行非接触式连续测量。然而，当雷达波物位计安装在粉体物料或高温蒸气环境下进行操作时，雷达波物位计容易被环境中的物料粉尘覆盖，造成雷达波物位计的精度误差变大，甚至丧失检测功能，为此需要定期派人清理。惟，此举不但增加人工成本，也影响测量结果的可靠度，故不符使用需求。
有鉴于此，本发明遂针对上述现有技术，特潜心研究并配合学理的运用，尽力解决上述的问题点，即成为本发明改良的目标。
技术实现要素：
本发明的一目的，在于提供一种具有除尘结构的雷达波物位计，以改善需定期清洗的不便性。
为了达成上述的目的，本发明提供一种具有除尘结构的雷达波物位计，包括检测本体、天线本体及薄膜片。检测本体具有能够发射感测信号及接收反射信号的控制电路板，天线本体一端连接检测本体，薄膜片结合在天线本体上并遮盖天线本体的另一端；其中，气流通过薄膜片而能够令附着在该薄膜片上的粉尘掉落。
为了达成上述的目的，本发明还提供一种具有除尘结构的雷达波物位计，其配合一工作气体使用，包括检测本体、天线本体及薄膜片。检测本体具有输气通道及能够发射感测信号及接收反射信号的控制电路板；天线本体具有中空腔体，天线本体在中空腔体的二端分别为第一开口及第二开口，第一开口连接检测本体；薄膜片结合在天线本体上，并遮盖天线本体的第二开口；其中，工作气体通过输气通道并带动薄膜片变形，以令附着在薄膜片上的粉尘掉落。
其中，更包含一天线透镜，该天线透镜位于该天线本体与该薄膜片之间，且该天线透镜结合在该第二开口上，并受该薄膜片遮盖。
其中，该天线透镜具有多个输气孔洞，该输气孔洞在该天线透镜上呈等间距地环型排列。
其中，该薄膜片具有多个孔隙。
其中，更包含一滑动圆球，该滑动圆球设置于该薄膜片内侧面且容纳于该薄膜片与该检测本体之间，该滑动圆球在该薄膜片变形时能够产生位移而令附着在该薄膜片上的外物掉落。
其中，该滑动圆球为一低介电系数材质所构成的一球体。
其中，更包含一电磁阀，该电磁阀控制所述工作气体进出该输气通道，该薄膜片受所述工作气体的流动而产生膨胀或收缩的变形。
其中，该薄膜片由不织布、玻璃纤维或具有细致孔洞的布料所构成。
其中，该天线本体呈号角状。
本发明提供一种具有除尘结构的雷达波物位计，可以改善需定期清洗的不便性，避免操作人员于恶劣环境进行清洗作业的风险，增加使用上的便利性。本发明的具有除尘结构的雷达波物位计，可以保持正常的量测状况，并维持量测精度，增加使用上的实用性。
相较于现有技术，本发明的具有除尘结构的雷达波物位计将薄膜片结合在天线本体上，并遮盖天线本体的另一端，当气流通过薄膜片时能够令附着在薄膜片外侧面的异物掉落，故不需要定期派人清理，增加雷达波物位计的实用性及便利性；此外，本发明的雷达波物位计还可设置有输气通道，并配合工作气体使用，当工作气体会流向薄膜片时会带动薄膜片而使其产生变形，通过薄膜片受到工作气体的作用而产生膨胀或收缩变形，借此而令附着在薄膜片上(外侧面)的粉尘掉落，达到清洁薄膜片的功能。
以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。
附图说明
图1为本发明的具有除尘结构的雷达波物位计的立体外观示意图。
图2为本发明的具有除尘结构的雷达波物位计的组合剖视图。
图3为图2中的部分放大示意图。
图4为本发明的具有除尘结构的雷达波物位计的使用示意图。
图5为本发明的雷达波物位计的另一实施方式。
图6为本发明的雷达波物位计的又一实施方式的吹气示意。
图7为本发明的雷达波物位计的又一实施方式的吸气示意。
图8为本发明的雷达波物位计的第二实施例。
其中，附图标记：
1、1a：雷达波物位计
2：工作气体
3：粉尘
10、10a：检测本体
11：输气通道
12：控制电路板
20、20a：天线本体
200：中空腔体
201：第一开口
202：第二开口
30、30a：薄膜片
40、40a：天线透镜
41：输气孔洞
50：滑动圆球
60：电磁阀
具体实施方式
有关本发明的详细说明及技术内容，配合图式说明如下，然而所附图式仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
请参照图1至图3，分别为本发明的具有除尘结构的雷达波物位计的立体外观示意图、组合剖视图及图2中的部分放大示意图。本发明的具有除尘结构的雷达波物位计1包括一检测本体10、一天线本体20及一薄膜片30，其中，该天线本体20结合在该检测本体10上，该薄膜片30盖合该天线本体20的一侧，据以构成该雷达波物位计1。
该检测本体10具有一输气通道11及能够发射感测信号及接收反射信号的一控制电路板12，且该输气通道11连通该天线本体20的内部。
该天线本体20具有一中空腔体200。另外，该天线本体20在该中空腔体200的二端分别为一第一开口201及一第二开口202，且该第一开口201连接该检测本体10。较佳地，该天线本体20呈号角状，以具有更佳的辐射场型，以利发射及接收信号而进行量测。
再者，该薄膜片30结合在该天线本体20上，并遮盖该天线本体20的第二开口202。较佳地，该薄膜片具有多个孔隙，实际实施时，该薄膜片可由不织布、玻璃纤维或具有细致孔洞的布料(如孔洞的大小在0.5μm～300μm)等所构成。
于本发明的一实施例中，该雷达波物位计1更包含一天线透镜40。该天线透镜40位于该天线本体20与该薄膜片30之间；此外，该天线透镜40结合在该天线本体20的第二开口202上，并受该薄膜片30遮盖。
于本实施例中，该天线透镜40具有多个输气孔洞41；较佳地，该些输气孔洞41在该天线透镜40上呈等间距地环型排列。
请续参照图4，为本发明的具有除尘结构的雷达波物位计的使用示意图。于本实施例中，该雷达波物位计1配合一工作气体2使用，该工作气体2的主要用于产生气流，因此所使用的气体种类并不限制，惟实际实施时，该工作气体2不与量测物或量测环境发生反应即可。
如图4所示，本发明的雷达波物位计1使用时，该工作气体2通过该输气通道11并流经该中空腔体200，接着通过该天线透镜40，并从该些输气孔洞41处流出。最后，该工作气体2会流向该薄膜片30，并带动该薄膜片30而使其产生变形。更具体而言，该薄膜片30受该工作气体2的作用而产生膨胀或收缩变形，借此而令附着在该薄膜片30上(外侧面)的粉尘3掉落，借此达到清洁该薄膜片30的功能。
请再参照图5，为本发明的雷达波物位计的另一实施方式。于本实施例中，该雷达波物位计1更包括一滑动圆球50；较佳地，该滑动圆球50为一低介电系数材质(low-k，低介电系数是指介电系数小于10)所构成的一球体。又，该滑动圆球50设置于该薄膜片30的一内侧面，且容纳于该薄膜片30与该检测本体10之间。据此，该滑动圆球50在该薄膜片30变形时能够产生位移，进而令附着在该薄膜片上(外侧面)的粉尘3掉落。
请续参照图6及图7，为本发明的雷达波物位计的又一实施方式。于本实施例中，该雷达波物位计1更包括一电磁阀60；又，该电磁阀60控制该工作气体2进出该输气通道11。更具体而言，该工作气体2及外部气体之间会形成压力差，此压力差会造成该薄膜片30产生震动，并将附着在该薄膜片30上(外侧面)的粉尘3甩落，借此达到清洁该薄膜片30的功能。
请续参照图8，分别为本发明的雷达波物位计的第二实施例。于本实施例中，雷达波物位计1a包括一检测本体10a、一天线本体20a及一薄膜片30a。该检测本体10a具有能够发射感测信号及接收反射信号的一控制电路板(图未示)。又，该天线本体20a一端连接该检测本体10a。该薄膜片30a结合在该天线本体20a上，并遮盖该天线本体20a的另一端。
较佳地，该雷达波物位计1a更包含一天线透镜40a。该天线透镜40a位于该天线本体20a与该薄膜片30a之间。该天线透镜40a结合在该天线本体20上，并受该薄膜片30a遮盖。
本实施例相较于前一实施例不同的地方在于该检测本体10a并未设置有输气通道，也就是，该雷达波物位计1a并未配合工作气体使用。实际使用时，外部气流通过该薄膜片30a的外侧面时，气流能够带动该薄膜片30a产生变形，并能够令附着在该薄膜片30上的粉尘3掉落。
当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。