技术总结
本发明属于大长径比深孔内型腔和外径形位公差精密检测设备领域，涉及一种大长径比空心薄壁细长轴精密检测设备及检测方法。该检测设备包括：底座、测杆、内测头及运动机构、外测头及运动机构、工件支撑移动平台、标定环、被测工件以及控制处理单元。其中，工件支撑移动平台可沿X方向带动被测工件运动，内测头及安装运动机构和外测头运动机构沿Z方向运动；标定环用于建立内、外测头之间的联系；控制处理单元用于编制测量程序、采集测量数据并进行数据处理获得需要的工件形位公差。本发明的大长径比空心薄壁细长轴精密检测设备及检测方法的测量精度高，测量长度长，测量效率高，便于使用。
技术研发人员：李成玮;刘勇;杨金霖;庞长涛;吴凡;戴长军;于浩;张建明;陈建元;刘进京
受保护的技术使用者：中国航空工业集团公司北京航空精密机械研究所
技术研发日：2016.11.04
技术公布日：2019.03.08