技术总结
本发明涉及一种基于表面等离子体直接测量纵向偏振光偏振态的方法，金属纳米颗粒受到光激发时，其产生的表面等离子体的分布由激发光的偏振态决定。基于这个现象，设计了探测基片，通过观察曝光后探测基片记录层上的图案来判断激发光的偏振态。实现了对纵向偏振光的纵向偏振态的直接测量，这是目前其他偏振测量方法无法实现的；测量方法简单有效，容易实施。
技术研发人员：王海凤;林剑;庄松林
受保护的技术使用者：上海理工大学
文档号码：201611036724
技术研发日：2016.11.23
技术公布日：2017.05.31