1.一种相位检测装置，其特征在于，其包括信号源A、信号源E、窄脉冲产生器B、窄脉冲宽度展宽电路C和脉冲宽度时间计数器D，该信号源A、信号源E、窄脉冲宽度展宽电路C分别与该窄脉冲产生器B连接，该窄脉冲宽度展宽电路C与该脉冲宽度时间计数器D连接，该窄脉冲产生器B、脉冲宽度时间计数器D分别与一复位信号端Rst连接。
2.根据权利要求1所述相位检测装置，其特征在于，所述信号源A、信号源E为ADC器件、逻辑器件、处理器芯片或时钟源。
3.根据权利要求1所述相位检测装置，其特征在于，所述窄脉冲宽度展宽电路C包括第一放大器、充电控制器、电容、放电控制器、电阻和第二放大器，该第一放大器、充电控制器、电阻、放电控制器和第二放大器依次连接，该电容的一端连接于该充电控制器与电阻之间，该电容的另一端接地。
4.根据权利要求1所述相位检测装置，其特征在于，所述窄脉冲产生器B包括触发器B0、触发器B1、触发器B2、与门和非门，该触发器B0的S端接地，该触发器B0与所述信号源A连接，该触发器B0的Q端与所述触发器B1的S端连接，该触发器B1的Q端与该触发器B2的S端连接，该触发器B1、触发器B2的R端与该复位信号端Rst连接，该触发器B2与所述信号源B连接，该触发器B1的S端与该与门连接，该与门、触发器B2与该非门连接，该非门与所述窄脉冲宽度展宽电路C连接。
5.根据权利要求1所述相位检测装置，其特征在于，所述脉冲宽度时间计数器D为逻辑器件或处理器芯片。
6.一种相位检测方法，其特征在于，其包括以下步骤：
(1)该信号源A、信号源E分别产生待测量的时钟信号CLK、信号S1，该信号S1为时钟信号或数据信号；
(2)信号S1作为触发器B0的时钟端锁存，触发器B0的Q端输出信号Q0后，该信号Q0接入触发器B1的S端，并把信号Q0与时钟信号CLK同步后输出；
触发器B1的Q端输出信号Q1，该信号Q1接入触发器B2的S端，用于控制输出的窄脉宽的宽度，设定Ta为我们需要计算的最终结果，窄脉冲产生器B输出给C模块的窄脉冲信号的时间宽度为To＝(N-1)Tclk-Ta，N为触发器的个数，Tclk为一个时钟周期；
设定Delta为窄脉冲产生器B输出的窄脉冲经过窄脉冲宽度展宽电路C时间上放大后返回的脉冲，假设窄脉冲宽度展宽电路C的脉冲展宽时间放大倍数为M，返回的脉冲Delta的宽度为Tdelta，则Tdelta＝To*M；
Tdelta是窄脉冲产生器B输出信号经过放大数百倍甚至数千倍所得，通过脉冲宽度时间计数器D用高速时钟对此信号的宽度计数，则得出Ta＝(N)Tclk-(Tdelta/M)；Φ＝Ta/Tclk＝(N)Tclk-(Tdelta/M)/Tclk。
7.根据权利要求6所述相位检测方法，其特征在于，所述窄脉冲产生器B包括触发器B0、触发器B1、触发器B2、与门和非门，该触发器B0的S端接地，该触发器B0与所述信号源A连接，该触发器B0的Q端与所述触发器B1的S端连接，该触发器B1的Q端与该触发器B2的S端连接，该触发器B1、触发器B2的R端与该复位信号端Rst连接，该触发器B2与所述信号源B连接，该触发器B1的S端与该与门连接，该与门、触发器B2与该非门连接，该非门与所述窄脉冲宽度展宽电路C连接。
所述步骤(2)中，触发器B2的Q端输出信号Q2，利用时钟信号CLK同步并延时2个CLK周期，则经过非门输出窄脉冲信号。
8.根据权利要求6所述相位检测方法，其特征在于，所述窄脉冲宽度展宽电路C包括第一放大器、充电控制器、电容、放电控制器、电阻和第二放大器，该第一放大器、充电控制器、电阻、放电控制器和第二放大器依次连接，该电容的一端连接于该充电控制器与电阻之间，该电容的另一端接地。
9.根据权利要求6所述相位检测方法，其特征在于，所述信号源A、信号源E为ADC器件、逻辑器件、处理器芯片或时钟源。
10.根据权利要求6所述相位检测方法，其特征在于，所述脉冲宽度时间计数器D为逻辑器件或处理器芯片。