TEV局部放电带电检测装置的校验设备、方法及装置与流程

本发明涉及电力领域，具体而言，涉及一种TEV局部放电带电检测装置的校验设备、方法及装置。

背景技术：

调研表明，目前尚未有科学有效的TEV局放检测装置现场方法，一般也是采用打火器简单在RFCT附近打火方式系统有反应即可，只能发现系统存在严重的性能下降或损坏，而无法有效发现系统性能轻微的下降或进行量化评价。

针对相关技术无法对TEV局部放电带电检测装置进行现场校验的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现要素：

本发明实施例提供了一种TEV局部放电带电检测装置的校验设备、方法及装置，以至少解决相关技术无法对TEV局部放电带电检测装置进行现场校验的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种TEV局部放电带电检测装置的校验设备，包括：脉冲发生器，用于发射标定信号；耦合装置，通过同轴RF电缆与一阻抗匹配的金属板相连，被测TEV传感器贴在金属板预定位置处；以及TEV检测仪主机，用于检测脉冲响应信号，其中，脉冲信号与标定信号的对比结果用于指示TEV局部放电带电检测装置的测试性能。

进一步地，耦合装置的芯线分别与脉冲发生器以及金属板连接。

进一步地，被测TEV传感器贴在金属板朝向TEV检测仪主机的一侧。

进一步地，耦合装置的阻抗总和为50欧姆。

进一步地，脉冲发生器的正负极性可变换，脉冲波形的上升时间小于等于5ns，下降时间大于等于200ns，输出波形电压峰值在在10mV至5V之间，包括10mV、20mV、50mV、1V、2V、3V、4V、5V档位，输出幅度的稳定度高于95％。

进一步地，脉冲发生器为手持式。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种TEV局部放电带电检测装置的校验方法，包括：控制TEV传感器采集脉冲发生器发射的标定信号；获取TEV检测仪主机检测到的脉冲响应信号；通过比对脉冲信号与标定信号分析TEV局部放电带电检测装置的测试性能。

进一步地，在控制TEV传感器采集脉冲发生器发射的标定信号之前，校验方法还包括：控制脉冲发生器连接耦合装置；将TEV传感器贴在金属板预定位置处，其中，耦合装置通过同轴RF电缆与一阻抗匹配的金属板相连。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种TEV局部放电带电检测装置的校验装置，包括：第一控制单元，用于控制TEV传感器采集脉冲发生器发射的标定信号；获取单元，用于获取TEV检测仪主机检测到的脉冲响应信号；分析单元，用于通过比对脉冲信号与标定信号分析TEV局部放电带电检测装置的测试性能。

进一步地，校验装置还包括：第二控制单元，用于在控制TEV传感器采集脉冲发生器发射的标定信号之前，控制脉冲发生器连接耦合装置；放置单元，用于将TEV传感器贴在金属板预定位置处，其中，耦合装置通过同轴RF电缆与一阻抗匹配的金属板相连。

在本发明实施例中，TEV局部放电带电检测装置的校验设备包括脉冲发生器，用于发射标定信号；耦合装置，通过同轴RF电缆与一阻抗匹配的金属板相连，被测TEV传感器贴在金属板预定位置处；以及TEV检测仪主机，用于检测脉冲响应信号，其中，脉冲信号与标定信号的对比结果用于指示TEV局部放电带电检测装置的测试性能。达到了在现场实时对TEV局部放电带电检测装置进行校验的目的，进而解决了相关技术无法对TEV局部放电带电检测装置进行现场校验的技术问题，从而实现了提高TEV局部放电带电检测装置对局部放电检测是的准确性的技术效果。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的TEV局部放电带电检测装置的校验设备的示意图；

图2是根据本发明实施例的TEV局部放电带电检测装置的校验方法的流程图；以及

图3是根据本发明实施例的TEV局部放电带电检测装置的校验装置的示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

根据本发明实施例，提供了一种TEV局部放电带电检测装置的校验设备的实施例。

图1是根据本发明实施例的TEV局部放电带电检测装置的校验设备的示意图，如图1所示，TEV局部放电带电检测装置的校验设备可以包括：脉冲发生器，用于发射标定信号；耦合装置，通过同轴RF电缆与一阻抗匹配的金属板相连，被测TEV传感器贴在金属板预定位置处；以及TEV检测仪主机，用于检测脉冲响应信号，其中，脉冲信号与标定信号的对比结果用于指示TEV局部放电带电检测装置的测试性能。

可选地，耦合装置的芯线分别与脉冲发生器以及金属板连接。

可选地，被测TEV传感器贴在金属板朝向TEV检测仪主机的一侧。

可选地，耦合装置的阻抗总和为50欧姆。

可选地，脉冲发生器的正负极性可变换，脉冲波形的上升时间小于等于5ns，下降时间大于等于200ns，输出波形电压峰值在在10mV至5V之间，包括10mV、20mV、50mV、1V、2V、3V、4V、5V档位，输出幅度的稳定度高于95％。

可选地，脉冲发生器为手持式。

本发明还提供了一种优选实施例，该优选实施例为TEV局放带电检测装置的现场校验方案，下面将详细介绍该优选实施例。

TEV局放带电检测装置的现场校验设备可以包括：

(1)信号发生器：脉冲极性能正负变换，脉冲波形上升时间不大于5ns，下降时间不小于200ns，输出脉冲电压峰值在10mV-5V区间可调，调节范围分为10mV/20mV/50mV/1V/2V/3V/4V/5V几个档位即可。信号发生器宜设计为手持式，信号发生器输出幅度稳定度要求达到95％以上。

(2)耦合装置：耦合装置通过同轴RF电缆与一阻抗匹配的金属板相连，测试时固定发射装置与被测暂态地电压传感器的距离和位置，具体如图1所示。

测试方法

1)脉冲信号发生器连接耦合装置，被测TEV传感器贴在金属版面固定位置；

2)连接好TEV局部放电测试系统，并开机启动到正常采集状态；

3)控制脉冲发生器发出等间隔标定信号序列，观测TEV检测仪检测到的脉冲响应信号，根据检测信号的幅度与历史记录对比判定检测系统性能是否正常。

图2是根据本发明实施例的TEV局部放电带电检测装置的校验方法的流程图，如图2所示，该方法包括如下步骤：

步骤S102，控制TEV传感器采集脉冲发生器发射的标定信号；

步骤S104，获取TEV检测仪主机检测到的脉冲响应信号；

步骤S106，通过比对脉冲信号与标定信号分析TEV局部放电带电检测装置的测试性能。

通过上述步骤，可以实现达到了在现场实时对TEV局部放电带电检测装置进行校验的目的，进而解决了相关技术无法对TEV局部放电带电检测装置进行现场校验的技术问题，从而实现了提高TEV局部放电带电检测装置对局部放电检测是的准确性的技术效果。

作为一种可选地实施例，在控制TEV传感器采集脉冲发生器发射的标定信号之前，校验方法还包括：控制脉冲发生器连接耦合装置；将TEV传感器贴在金属板预定位置处，其中，耦合装置通过同轴RF电缆与一阻抗匹配的金属板相连。

根据本发明实施例，还提供了一种TEV局部放电带电检测装置的校验装置实施例，需要说明的是，该TEV局部放电带电检测装置的校验装置可以用于执行本发明实施例中的TEV局部放电带电检测装置的校验方法，本发明实施例中的TEV局部放电带电检测装置的校验方法可以在该TEV局部放电带电检测装置的校验装置中执行。

图3是根据本发明实施例的TEV局部放电带电检测装置的校验装置的示意图，如图3所示，该装置可以包括：第一控制单元22，用于控制TEV传感器采集脉冲发生器发射的标定信号；获取单元24，用于获取TEV检测仪主机检测到的脉冲响应信号；分析单元26，用于通过比对脉冲信号与标定信号分析TEV局部放电带电检测装置的测试性能。

需要说明的是，该实施例中的第一控制单元22可以用于执行本申请实施例中的步骤S102，该实施例中的获取单元24可以用于执行本申请实施例中的步骤S104，该实施例中的分析单元26可以用于执行本申请实施例中的步骤S106。上述模块与对应的步骤所实现的示例和应用场景相同，但不限于上述实施例所公开的内容。

可选地，校验装置还包括：第二控制单元，用于在控制TEV传感器采集脉冲发生器发射的标定信号之前，控制脉冲发生器连接耦合装置；放置单元，用于将TEV传感器贴在金属板预定位置处，其中，耦合装置通过同轴RF电缆与一阻抗匹配的金属板相连。

通过上诉单元和模块，达到了在现场实时对TEV局部放电带电检测装置进行校验的目的，进而解决了相关技术无法对TEV局部放电带电检测装置进行现场校验的技术问题，从而实现了提高TEV局部放电带电检测装置对局部放电检测是的准确性的技术效果。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

在本发明的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如所述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。