技术总结
本实用新型涉及按键技术领域，具体涉及一种可多点测试按键导电效果的装置，其结构包括用于按压按键板的按键的按压治具、设置于按压治具下方的用于与按键发生电连接的模拟PCB板以及与模拟PCB板连接的电子设备，电子设备包括处理器和显示器，处理器用于将来自模拟PCB板的信号转化为图像信号送至显示器，显示器显示该图像信号，该治具将键盘上的所有按键一并按压，取代了人工逐一按压的繁琐操作，多点测试克服了人工漏检的情况，大大提高了生产效益；另外，电子设备一次性地显示测试结果，还能着重显示不导通按键的位置，使得生产商能及时发现不导通按键的位置，有助于快速有效地解决问题，进一步提高了生产效益和保证了按键的生产质量。
技术研发人员：杨辉
受保护的技术使用者：兴科电子（东莞）有限公司
文档号码：201620665220
技术研发日：2016.06.29
技术公布日：2016.12.28