1.一种颗粒形态的光学检测装置，包括：
一颗粒的分散装置，用于将单个颗粒分散到空间中；
低相干干涉测量和显微成像相结合的成像测量装置，用于采集分散到空间中的颗粒图像。
2.根据权利要求1所述的一种颗粒形态的光学检测装置，其特征在于：
所述的成像测量装置包括低相干干涉测量装置和显微成像装置，低相干干涉测量装置和显微成像装置的照明光源采用同一个。
3.根据权利要求1所述的一种颗粒形态的光学检测装置，其特征在于：所述的成像测量装置包括低相干光源、干涉仪、显微装置和探测器。
4.根据权利要求1所述的一种颗粒形态的光学检测装置，其特征在于：所述的成像测量装置包括低相干光源、干涉仪、显微装置和光谱仪。
5.根据权利要求1所述的一种颗粒形态的光学检测装置，其特征在于：所述的成像测量装置包括扫频宽光谱光源、干涉仪、显微装置和探测器。