一种颗粒形态的光学检测装置的制作方法

技术总结
本实用新型公开了一种颗粒形态的光学检测装置。包括一颗粒分散装置、低相干干涉测量和显微成像相结合的成像测量装置。本实用新型操作简单有效，能够用于采集获得颗粒三维空间的分布位置信息，可避免基于图像显微的粒度测量中不同深度的颗粒在两维图像中重叠效应，可用于工业生产和科学研究中对颗粒形态的高精度测量。

技术研发人员：李鹏;李培;周丽萍;丁志华
受保护的技术使用者：浙江大学
文档号码：201620783718
技术研发日：2016.07.22
技术公布日：2016.12.28