本实用新型涉及一种电子测试设备技术领域，尤其涉及一种用于PCB测试的70μm微针治具。
背景技术：
目前微针治具基本包括承载座及穿针座，穿针座为实心块体，实心块体上形成多个穿槽，多个测试针分别从多个穿槽穿过。目前测试针的直径越来越小，但穿槽的直径受到加工的限制，穿槽的直径无法小于100微米，导致穿槽与测试针间的间隙越来越大，当PCB放置于多个测试针上时，多个测试针容易产生弯折，使其无法准确地接触PCB，导致检测精度降低，无法符合PCB检测需求。另外穿针座为实心块体，其高度为固定的，无法根据测试针的长度调整穿针座的高度。
技术实现要素：
针对现有技术中的不足，本实用新型的目的是提供一种用于PCB测试的70μm微针治具。
为了解决上述技术问题，本申请揭示了一种70μm微针治具，其特征在于，包括：承载座；多个压力缓冲部件，其设置于所述承载座；穿针座，其包括第一固定板、第二固定板、多个调节板及多个固定结构，所述第一固定板设置于所述承载座，所述第二固定板与所述第一固定板相对，所述多个调节板间隔设置于所述第一固定板与第二固定板间，每一个固定结构穿设所述多个调节板，并固定于所述第一固定板及第二固定板，所述第一固定板、第二固定板及多个调节板分别具有多个穿孔，所述多个穿孔形成多个穿针通道，所述多个穿针通道对应所述多个压力缓冲部件；以及多根70μm测试针，其分别穿设于对应的穿针通道，并抵接于对应的压力缓冲部件。
根据本申请的一实施方式，上述多个固定结构分别多个间隔环及连接柱，所述多个间隔环设置于所述多个调节板间，所述连接柱穿过多个调节板及多个间隔环，其两端分别固定于所述第一固定板及第二固定板。
根据本申请的一实施方式，上述承载座具有多个穿槽，所述多个穿槽对应所述多个穿针通道，所述多个压力缓冲部件分别设置于对应的穿槽。
根据本申请的一实施方式，上述多个压力缓冲部件分别包括套管、弹簧及A型针，所述套管设置于对应的所述凹槽，并从所述承载座露出，所述弹簧设置于所述套管内，所述A型针的一端具有凸部，其另一端具有凹面，所述凸部穿设于所述弹簧，所述凹面抵接于对应的70μm测试针。
根据本申请的一实施方式，上述承载座包括底板、承载板组及多个支撑铜柱，所述承载板组设置于所述底板的上方，所述多个支撑铜柱设置于所述底板与承载板组间，所述承载板组具有所述多个穿槽。
根据本申请的一实施方式，上述承载板组包括多个承载板，所述多个承载板相互堆叠，每一个承载板具有多个孔洞，所述多个孔洞相连通形成所述多个穿槽。
与现有技术相比，本申请可以获得包括以下技术效果：
本申请提供一种70μm微针治具，其主要使用由第一固定板、第二固定板及多个调节板形成穿针座，形成于穿针座的多个穿针通道的直径微小化，即让穿针通道的直径小于100μm，并缩小穿针通道与70μm测试针间的间隙。当PCB置放于多根70μm测试针上时，因每一根70μm测试针与对应的穿针通道间的间隙小，让多根70μm测试针不容易产生弯折，避免多根70μm测试针因弯折而卡在压力缓冲部件的弹簧而使多根70μm测试针无法准确地接触PCB，如此提升检测精度并满足PCB测试需求。另外，穿针座由第一固定板、第二固定板及多个调节板形成，其可根据70μm测试针的长度调整多个调节板的数量，让穿针座的高度符合70μm测试针的长度，可适用于不同长度的70μm测试针。
附图说明
图1为本申请一实施方式的70μm微针治具的示意图。
具体实施方式
以下将以图式揭露本申请的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本申请。也就是说，在本申请的部分实施方式中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化图式起见，一些习知惯用的结构与组件在图式中将以简单的示意的方式绘示之。
关于本文中所使用之“第一”、“第二”等，并非特别指称次序或顺位的意思，亦非用以限定本申请，其仅仅是为了区别以相同技术用语描述的组件或操作而已。
请参阅图1，其是本申请一实施方式的70μm微针治具1的示意图；如图所示，本实施方式提供一种70μm微针治具1，70μm微针治具1包括承载座10、多个压力缓冲部件11、穿针座12及多根70μm测试针13。多个压力缓冲部件11设置于承载座10，穿针座12设置于承载座10，并具有多个穿针通道121，多个压力缓冲部件11对应多个穿针通道121。多根70μm测试针13分别穿过对应的穿针通道121，并抵接至对应的压力缓冲部件11。
本申请的穿针座12包括第一固定板122、第二固定板123、多个调节板124及多个固定结构125，第二固定板123与第一固定板122相对设置，多个调节板124间隔设置于第一固定板122与第二固定板123间，多个固定结构125穿设多个调节板124，并固定于第一固定板122及第二固定板123。本实施方式的固定结构125包括多个间隔环1251及连接柱1252，多个间隔环1251设置于多个调节板124间，连接柱1252穿过多个调节板124及多个间隔环1251，连接柱1252的两端分别固定于第一固定板122及第二固定板123。第一固定板122、第二固定板123及多个调节板124分别具有多个穿孔126，多个穿孔126相连通形成多个穿针通道121。
本申请的穿针座12主要由第一固定板122、第二固定板123及多个调节板124组成，即非整个块状体，如此穿针通道121的直径不会受钻孔加工深度的限制。本申请的穿针通道121由第一固定板122、第二固定板123及多个调节板124的多个穿孔126形成，然多个穿孔126分别形成于第一固定板122、第二固定板123及多个调节板124，如此不会受到钻孔加工深度的限制，穿针通道121的直径略大于70μm测试针13的直径，70μm测试针13与穿针通道121间的间隙不会过大。第一固定板122与第二固定板123间的多个调节板124及多个间隔环1251的数量，是根据70μm测试针13的长度而定，若70μm测试针13的长度较长时，可增加调节板124及间隔环1251的数量；若70μm测试针13的长度较短时，可减少调节板124及间隔环1251的数量。
本申请的承载座102具有多个穿槽1021，多个穿槽1021对应多个穿针通道121，多个压力缓冲部件11分别设置于对应的穿槽1021。每一个压力缓冲部件11包括套管111、弹簧112及A型针113，套管111设置于穿槽1021，其从承载座102露出，并与电导线2连接。弹簧112设置于套管111内，A型针113的一端具有凸部1131，其另一端具有凹面1132，凸部1131穿设弹簧112，弹簧112抵接于A型针113的一端。当70μm测试针13穿设于对应的针通道121时，70μm测试针13抵接于对应的A型针113的凹面1132。
本申请的承载座102更包括底板1022、承载板组1023及多个支撑铜柱1024，承载板组1023包括相互堆叠的多个承载板10231，并设置于底板1022的上方，每一个承载板10231具有多个孔洞10232，每一个承载板10231的多个孔洞10232相互连通形成多个穿槽1021，多个支撑铜柱1024设置于底板1022与承载板组1023间，每一个支撑铜柱1024的两端分别锁固于底板1022及承载板组1023。穿针座12的第一固定板122设置于承载板组1023，承载板组1023的多个穿槽1021对应穿针座12的多个穿针通道121。
本申请的70μm微针治具1于使用时，PCB设置于多根70μm测试针13，并位于穿针座12的第二固定板123上。当PCB放置于多根70μm测试针13时，PCB挤压多根70μm测试针13，多根70μm测试针13分别沿对应的针通道121往下挤压对应的压力缓冲部件11。当每一根70μm测试针13抵接并推动对应的压力缓冲部件11的A型针113的凹面1132时，弹簧112经压缩产生弹力而支撑A型针113，进而支撑70μm测试针13。
综上所述，本申请提供一种70μm微针治具，其主要使用由第一固定板、第二固定板及多个调节板形成穿针座，形成于穿针座的多个穿针通道的直径微小化，即让穿针通道的直径小于100μm，并缩小穿针通道与70μm测试针间的间隙。当PCB置放于多根70μm测试针上时，因每一根70μm测试针与对应的穿针通道间的间隙小，让多根70μm测试针不容易产生弯折，避免多根70μm测试针因弯折而卡在压力缓冲部件的弹簧而使多根70μm测试针无法准确地接触PCB，如此提升检测精度并满足PCB测试需求。另外，穿针座由第一固定板、第二固定板及多个调节板形成，其可根据70μm测试针的长度调整多个调节板的数量，让穿针座的高度符合70μm测试针的长度，可适用于不同长度的70μm测试针。
上所述仅为本申请的实施方式而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理的内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包括在本申请的权利要求范围之内。