本实用新型涉及一种电子测试设备技术领域，尤其涉及一种用于PCB测试的长针高密治具。
背景技术：
目前用于PCB测试的治具使用36毫米长度的多个测试针，测试针相对于垂直线倾斜的角度过大，当PCB放置于多个测试针上时，因测试针相对于垂直线倾斜的角度过大，PCB对多个测试针的压力过大，容易压伤多个测试针，而且不是用于测试具有高密度的多个测试点的PCB。
技术实现要素：
针对现有技术中的不足，本实用新型的目的是提供一种用于PCB测试的长针高密治具。
为了解决上述技术问题，本申请揭示了一种长针高密治具，其特征在于，包括：承载座；穿针座，其设置于所述承载座，并具有多个穿针通道，每一个穿针通道相对于垂直线倾斜，每一个穿针通道与所述垂直线间的夹角为6度；以及多根测试针，其分别穿设于对应的穿针通道，每一根测试针相对于所述垂直线倾斜，每一根测试针与所述垂直线间的夹角为6度，其长度为58毫米，并分别对应PCB的多个测试点。
根据本申请的一实施方式，上述穿针座包括第一固定板、第二固定板、多个调节板及多个固定结构，所述第一固定板设置于所述承载座，所述第二固定板与所述第一固定板相对，所述多个调节板间隔设置于所述第一固定板与第二固定板间，每一个固定结构穿设所述多个调节板，并固定于所述第一固定板及第二固定板，所述第一固定板、第二固定板及多个调节板分别具有多个穿孔，所述多个穿孔形成多个穿针通道。
根据本申请的一实施方式，上述多个固定结构分别包括多个间隔环及连接柱，所述多个间隔环设置于所述多个调节板间，所述连接柱穿过多个调节板及多个间隔环，其两端分别固定于所述第一固定板及第二固定板。
根据本申请的一实施方式，上述承载座包括底板、承载板组及多个支撑铜柱，所述承载板组设置于所述底板的上方，所述多个支撑铜柱设置于所述底板与承载板组间。
与现有技术相比，本申请可以获得包括以下技术效果：
本申请提供一种长针高密治具，其主要使用58毫米长度的测试针，测试针相对垂直线倾斜6度，多根测试针对应PCB的多个测试点，以对具有高密度的多个测试点的PCB进行检测。因测试针的倾斜角度小，PCB对多根测试针的压力小，避免多根测试针受到压伤。
附图说明
图1为本申请一实施方式的长针高密治具的示意图。
具体实施方式
以下将以图式揭露本申请的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本申请。也就是说，在本申请的部分实施方式中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化图式起见，一些习知惯用的结构与组件在图式中将以简单的示意的方式绘示之。
关于本文中所使用之“第一”、“第二”等，并非特别指称次序或顺位的意思，亦非用以限定本申请，其仅仅是为了区别以相同技术用语描述的组件或操作而已。
请参阅图1，其是本申请一实施方式的长针高密治具1的示意图；如图所示，本实施方式提供一种长针高密治具1，长针高密治具1包括承载座10、穿针座11及多根测试针12。穿针座11设置于承载座10，并具有多个穿针通道 111，每一个穿针通道111相对于垂直线H倾斜，其与垂直线H的夹角角度为 6度，多根测试针12分别穿过对应的穿针通道111，每一根测试针12相对于垂直线H倾斜，并与垂直线H间的夹角角度为6度，即测试针12相对于垂直线H倾斜6度。每一个测试针12的长度为58毫米，多根测试针12分别连接导线2，并对应PCB的多个测试点。本申请的长针高密治具1使用58毫米长度的测试针12，并使测试针12相对于垂直线H倾斜6度，随著PCB的多个测试点的分布密度越高，因测试针12相对于垂直线H倾斜角度小，能于多个测试点的分布范围内设置高密度的多根测试针12，使多根测试针12对应PCB的多个测试点，以对具有高密度排列的多个测试点的PCB进行检测。本申请的长针高密治具1的测试针12相对于垂直线H倾斜的角度小，当PCB放置于多根测试针12时，多根测试针12所承受的压力小，不容易发生压伤的问题。
复参阅图1，本申请的穿针座11包括第一固定板112、第二固定板113、多个调节板114及多个固定结构115，第二固定板113与第一固定板112相对设置，多个调节板114间隔设置于第一固定板112与第二固定板113间，多个固定结构115穿设多个调节板114，并固定于第一固定板112及第二固定板 113。本实施方式的固定结构115包括多个间隔环1151及连接柱1152，多个间隔环1151设置于多个调节板114间，连接柱1152穿过多个调节板114及多个间隔环1151，连接柱1152的两端分别固定于第一固定板112及第二固定板 113。第一固定板112、第二固定板113及多个调节板114分别具有多个穿孔 116，多个穿孔116相连通形成多个穿针通道111。其中第一固定板112与第二固定板113间的多个调节板114及多个间隔环1151的数量，是根据测试针 12的长度而定。
本申请的承载座10包括底板101、承载板组102及多个支撑铜柱103，承载板组102包括相互堆叠的多个承载板1021，并设置于底板101的上方，多个支撑铜柱103设置于底板101与承载板组102间，每一个支撑铜柱103的两端分别锁固于底板101及承载板组102。穿针座11的第一固定板112设置于承载板组102。
综上所述，本申请提供一种长针高密治具，其主要使用58毫米长度的测试针，测试针相对垂直线倾斜6度，多根测试针对应PCB的多个测试点，以对具有高密度的多个测试点的PCB进行检测。因测试针的倾斜角度小，PCB对多根测试针的压力小，避免多根测试针受到压伤。
上所述仅为本申请的实施方式而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理的内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包括在本申请的权利要求范围之内。