SLD光源测试系统的制作方法

文档序号:11111933阅读:来源:国知局
技术总结
本发明实施例所述的SLD光源测试系统,待测SLD光源发出的光经过耦合器、起偏器组件、保偏光纤环、敏感元件后原路返回,返回后的两束线偏振光发生干涉;由探测器检测干涉光强,并得到与所述干涉光强对应的电信号;信号处理电路解析探测器发送的电信号得到测量电流值;误差计算单元根据基准电流值以及测量电流值得到待测SLD光源在所处环境下引入的测量误差。由于光波在上述系统中的传输方式与FOCT中光传输方式相同,因此最终得到的SLD光源在所处环境下引入的测量误差的表现形式也可以与FOCT测量误差的形式等效,上述方案能完全和精准的反映出SLD光源的精度,测试结果可直接用于衡量其在FOCT中的系统性能,为FOCT中SLD光源的筛选提供有效的技术参考。

技术研发人员:肖浩;李建光;雷军;刘博阳;郝琰
受保护的技术使用者:北京世维通光智能科技有限公司
文档号码:201710104147
技术研发日:2017.02.24
技术公布日:2017.05.10

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