技术特征：
技术总结
本发明公开了一种轨道交通电子单板加速寿命试验方法，步骤为：S01、首先通过寿命实验得到电子单板在不同加速退化应力条件下的寿命数据；S02、依据不同加速退化应力下电子单板的寿命数据和退化轨迹，得到寿命加速模型；S03、依据寿命加速模型，评估电子单板在正常工作环境下的使用寿命均值。本发明的轨道交通电子单板加速寿命试验方法具有操作简便、快速可靠等优点。
技术研发人员：邵志和;刘敏;班立权;张球红;周溢韬;谭军祥;贺寨;王丽华
受保护的技术使用者：株洲中车时代电气股份有限公司
技术研发日：2017.03.08
技术公布日：2017.08.11