技术特征：
技术总结
本申请公开了一种基于多层涂硼薄膜和多丝正比室的中子探测器。本申请的中子探测器包括至少一个中子检测单元，中子检测单元由平行的第一涂硼入射窗、第一读出丝面、阳极丝面、第二读出丝面和第二涂硼入射窗组成；两读出丝面分别由若干平行镀金钨丝排列而成，各读出丝面中两条镀金钨丝为一路读出通道连接一延迟块单元，各读出丝面延迟块单元串联后分别由两路信号引出，两读出丝面的镀金钨丝走向垂直；阳极丝面由若干平行镀金钨丝排列成，其镀金钨丝与第一读出丝面镀金钨丝走向相同。本申请的中子探测器，通过测量延迟块单元两端信号时间差，来确定入射中子位置，减少了电子学的读出路数；本申请的中子探测器制作可在国内完成，真正实现了国产化。
技术研发人员：孙志嘉;王艳凤;马长利;周良;唐彬;周健荣;杨桂安;许虹;滕海云;樊瑞睿;陈元柏
受保护的技术使用者：东莞中子科学中心;中国工程物理研究院核物理与化学研究所
技术研发日：2017.03.09
技术公布日：2017.07.14