技术特征：
技术总结
本发明公开了一种CCD器件漏电流测试装置的控制方法，具体的控制方法包括：所述CCD器件漏电流测试装置上电后，将待测试的CCD器件的管脚插接在CCD插接模块的插孔中，1）操作人员向上位机录入待测试的CCD器件的类型信息，上位机根据录入的CCD器件的类型信息加载相应的测试规则，然后以图表形式对多个继电器进行显示，然后待命；2）操作人员向上位机输入开始测试的命令后，上位机按测试规则向控制模块顺次输入多个测试步骤；每输入一次测试步骤后，上位机就对检测信号进行一次采样，然后再输入下一测试步骤；采样得到的检测信号的数值标记在所述图表上相应继电器的位置处；所有测试步骤都运行完毕后，测试操作结束。
技术研发人员：周建勇;陈红兵;张婷婷;袁世顺
受保护的技术使用者：中国电子科技集团公司第四十四研究所
技术研发日：2017.04.26
技术公布日：2017.08.08