技术特征：
技术总结
本发明公开了一种精确测量超大曲率半径的装置及方法，该装置包括：被测元件、光源；分光镜，倾斜置于被测元件与光源之间，用于将光源发出的光照射到被测元件表面，将被测元件反射的反射光反射到第一光栅和第二光栅上；第一光栅与第二光栅；用于在反射平行光的照射下，第一光栅在第二光栅处产生的泰伯像与第二光栅形成莫尔条纹；成像系统；用于采集莫尔条纹图像，并将其传输至计算机；计算机；用于处理莫尔条纹图像确定莫尔条纹的角度，进而计算得到被测元件的曲率半径。该装置结构简单，且能实现对光学元件超大曲率半径的精确测量。
技术研发人员：侯昌伦;辛青;藏月
受保护的技术使用者：杭州电子科技大学
技术研发日：2017.06.08
技术公布日：2017.09.01