技术特征：
技术总结
本发明涉及一种粉末压片X射线荧光光谱法测定金属硅中杂质的方法，包括以下步骤：1)取金属硅粉标准品和待测金属硅粉，再将所述金属硅粉标准品、待测金属硅粉分别先与H3BO3和助研剂混合搅拌均匀，得到混合物，再将所述混合物装于研磨罐中，然后于25～45t下保压35～40S压片，制成标准品样片和待测样片；2)再将所述标准品样片和待测样片通过X射线荧光光谱仪进行检测，并根据强度与含量确定线性关系，制作校准曲线，得到金属硅中杂质的含量。本发明的方法的检测灵敏度高，重复性强。
技术研发人员：杜亚明
受保护的技术使用者：苏州浪声科学仪器有限公司
技术研发日：2017.06.29
技术公布日：2017.10.03