本发明涉及一种测试探针,尤其涉及一种仪器仪表的测试探针。
背景技术:
随着科技的不断发展,人们制造出来了越来越精密的仪器仪表,因此对这些非常精密的仪器仪表的测试也要求越来越高,现有的仪器仪表配有的测试探针不易测试,且探针有比较长的一段一直露在针套的外部,易折断。
技术实现要素:
本发明的目的在于提供一种仪器仪表的测试探针,解决现有技术中仪器仪表配有的测试探针不易测试,且探针有比较长的一段一直露在针套的外部,易折断的技术问题。
为了解决上述技术问题,本发明通过以下技术方案实现:
一种仪器仪表的测试探针,包括针套和设置在针套中的探针,所述针套的中设置有腔体,腔体的前端小后端大,腔体中设置有螺旋弹簧,螺旋弹簧的外径大于腔体前端的直径,弹簧套设在探针上,探针的一端伸出针套的前端,探针上固定设置有用于挡块和滑块,挡块用于抵住弹簧的后端,滑块位于挡块的后方,针套的上沿其长度方向开设有l形槽,滑块设置l形槽中,沿l形槽拨动滑块,则探针能够沿针套的长度方向滑动,针套的后端设置有香蕉插座,探针的尾部与香蕉插座通过导线连接;所述针套、滑块为绝缘材料制成。
使用过程如下:通过滑动滑块使探针探出,将滑块滑至l形槽的拐弯处,此时弹簧被压缩,使滑块卡设在l形槽的拐弯处,保证探针伸出段不会自动缩回,然后通过探针伸出段进行测试;测试结束后滑动滑块至l形槽的水平段,在弹簧的恢复力作用下,探针的前端回弹进入针套中,防止探针的前端比较长的一段因露在针套的外部,而容易被折断,因为探针非常细。
进一步改进,所述探针的前度设置有挂钩,便于测试时与被测试部件连接。
进一步改进,所述针套由两部分组成,分别为第一段和第二段,第一段和第二段通过螺纹连接,便于拆装。
进一步改进,所述针套外部设置有防滑纹,增大摩擦力,防止在操作过程中打滑。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
通过滑动滑块使探针探出,将滑块滑至l形槽的拐弯处,此时弹簧被压缩,使滑块卡设在l形槽的拐弯处,保证探针伸出段不会自动缩回,然后通过探针伸出段进行测试;测试结束后滑动滑块至l形槽的水平段,在弹簧的恢复力作用下,探针的前端回弹进入针套中,防止探针的前端比较长的一段因露在针套的外部,而容易被折断。
附图说明
图1是本发明所述仪器仪表的测试探针的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的和技术方案更加清楚,下面将结合本发明实施例对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述。
本技术中以图1的左端为前方、右端为后方。
如图1所示一种仪器仪表的测试探针,包括针套1和设置在针套中的探针2,所述针套的中设置有腔体,腔体的前端小后端大,腔体中设置有螺旋弹簧3,螺旋弹簧3的外径大于腔体前端的直径,弹簧3套设在探针2上,探针的一端伸出针套的前端,探针上固定设置有用于挡块4和滑块5,挡块4用于抵住弹簧3的后端,滑块5位于挡块4的后方,针套1的上沿其长度方向开设有l形槽6,滑块设置l形槽6中,沿l形槽6拨动滑块5,则探针2能够沿针套1的长度方向滑动,针套1的后端设置有香蕉插座7,探针的尾部与香蕉插座通过导线连接;所述针套、滑块为绝缘材料制成。
使用过程如下:通过滑动滑块使探针探出,将滑块滑至l形槽6的拐弯处,此时弹簧3被压缩,使滑块5卡设在l形槽6的拐弯处,保证探针2伸出段不会自动缩回,然后通过探针伸出段进行测试;测试结束后滑动滑块至l形槽的水平段,在弹簧3的恢复力作用下,探针2的前端回弹进入针套1中,防止探针的前端比较长的一段因露在针套的外部,而容易被折断,因为探针非常细。
在本实施例中,所述探针2的前度设置有挂钩,便于测试时与被测试部件连接。
在本实施例中,所述针套1由两部分组成,分别为第一段和第二段,第一段和第二段通过螺纹连接,便于拆装。
在本实施例中,所述针套1外部设置有防滑纹,增大摩擦力,防止在操作过程中打滑。
本发明中未做特别说明的均为现有技术或者通过现有技术即可实现,而且本发明中所述具体实施案例仅为本发明的较佳实施案例而已,并非用来限定本发明的实施范围。即凡依本发明申请专利范围的内容所作的等效变化与修饰,都应作为本发明的技术范畴。