本发明涉及一种发射药药条尺寸测量方法，适用于发射药压伸工艺。
背景技术：
发射药产品制备的工序包含吸收、驱水、造粒、胶化、压伸、烘干等，其中压伸工序是发射药的成型工序，发射药的尺寸精度、密实度、表面光泽性等均由压伸过程的质量决定，而压伸工序的核心就是压伸工艺参数的设计，在模具一定的条件下，通过合适的工艺参数才能获得理想的发射药产品，发射药压伸工艺参数决定着药型尺寸参数，药型尺寸的精确测量能够进一步促进发射药压伸工艺参数的优化。现有的发射药压伸工成型药条的测量方法一般为截断后利用卡尺测量，或者采用照相的方法进行测量。现有的发射药压伸成型药条尺寸测量方法存在如下问题：(一)仅能测量发射药药条的直径，弧厚和孔径无法测量，其中的未胶化颗粒也无法测量，在出现偏孔或弧厚不均匀现象时，无法通过测量发现，使得仅仅能够控制发射药的外径参数；(二)不能对同时压伸的多根发射药进行药条尺寸的测量，多条发射药同时压伸时，采用照相法无法区别不同根的发射药，截断将使得切口不齐，因此目前没有手段对多根发射药的药型参数进行实时测量。
技术实现要素：
为了解决现有技术存在的问题，本发明提供一种能够实现对多根发射药的药条参数进行同时测量，且测量到弧厚、孔径及药体内部颗粒物的发射药压伸成型药条尺寸测量方法。
本发明主要包括药缸、导药筒、x射线探头、数据采集处理系统，测量步骤如下：
(1)将胶化好的发射药药料放入药缸，打开数据采集处理系统，三个x射线探头依次120度夹角均布，角度三维空间内可自由调整，药条的出药口垂线位于三个x射线探头均布的中心；
(2)启动压伸机，发射药药条经导药筒后进入探测区域；
(3)三个x射线探头将探测到的信号传输到数据采集处理系统，由其完成图像生成处理；
(4)获得药型外径、弧厚、内径及颗粒物的分布数据。
因此，采用三个x射线探头均布的方法，结合数据采集处理系统，能够实现对多根发射药的药条参数进行同时测量，且测量到弧厚、孔径及药体内部颗粒物。
本发明的有益效果主要体现在以下几个方面。
(一)采用x射线探头的方法，能够精确的获得发射药药条的各类信息，包括药条内部孔径、弧厚、直径，是否存在未胶化的颗粒。与现有技术相比，实现了发射药压伸过程中弧厚、孔径及颗粒的实时测量，拓展了测试范围；
(二)采用三个x射线探头均布的方法，实现了多根发射药药条同时测量，解决了多跟发射药同时出药时的发射药药型测试问题。与现有技术相比，实现了多根发射药药条同步实时测量，为压伸工艺参数调整及模具设计提供了技术支持。
附图说明
图1为发射药压伸成型药条尺寸动态测量示意图，图中1-药缸，2-导药筒，3-x射线第一探头，4-x射线第二探头，5-发射药药条，6-x射线第三探头。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步的详细说明。
如图1，本发明主要包括药缸、导药筒、x射线探头、数据采集处理系统。
药缸为内径300mm的制式药缸；
导药筒为直径80mm，长度100mm，壁厚2mm的紫铜圆筒，位于药缸正下方；
x射线探头为功率1kw的探头，以120度均布，位于导药筒正下方的平面上，角度可以调节；
数据采集处理系统由信号采集软件、数据分析计算软件组成；
将x射线第一探头3、x射线第二探头4、x射线第三探头6通过导线与数据采集处理系统7相连，组成发射药压伸成型药条尺寸测量系统。
以三基发射药单根压伸为例，测量时的步骤如下：
(1)将胶化好的三基发射药药料进行预压；
(2)将预压好的药料放入药缸1；
(3)打开数据采集处理系统7，启动压伸机；
(4)发射药药条5通过导药筒2向下移动；
(5)移动的发射药药条5通过位于三个x射线探头均布的中心位置；
(6)x射线第一探头3、x射线第二探头4、x射线第三探头6将探测到的信号传输到数据采集处理系统7；
(7)由数据采集处理系统利用信号采集软件完成信号的采集，将数据信号交由数据分析计算软件进行处理；
(8)获得压伸发射药的外径、弧厚、内径，颗粒物的分布数据。
对于该三基发射药，本发明采用三个x射线探头均布的方法，结合数据采集处理系统，能够实现对多根发射药的药条参数进行同时测量，且测量到弧厚、孔径及药体内部颗粒物。