一种贴片式LED信赖性实验装置的制作方法

文档序号:13798965阅读:347来源:国知局
一种贴片式LED信赖性实验装置的制作方法

本实用新型涉及发光二极管器件封装技术领域,具体涉及一种贴片式LED信赖性实验装置。



背景技术:

LED作为第四代新型光源,因其具备高光效、显色性好、寿命长等特性,被广泛运用到照明、背光等领域,但因LED所使用的环境与条件不同,LED灯珠在封装完毕后都需进行信赖性实验来验证其性能可否具备使用,在评估LED灯珠性能的时候,寿命测试是其重要的一个环节:因LED需经受长时间点亮,其本身会聚集大量热量而造成温度过高,如若周围环境环境温度也一样过高,势必会对LED的寿命造成一定的影响,故LED器件的寿命测试一般要经历高温老化实验验证,常规的实验方案是将单颗贴片式LED灯珠焊接在六边形铝基板上,再通过导线将多个六边形铝基板串联或并联起来,然后通上额定电压并将其放置到烤箱中,设置一定的温度,让其进行高温点亮老化,在老化到相应的时间段后,观察是否有死灯情况,并对老化后的每颗LED灯珠进行光通量、色温、电压等参数的测定,对比测试数据来评估LED灯珠性能的优劣。目前高温老化实验在老化过程中需要将贴片LED灯珠焊接在六角铝基板上,并需手动将导线在铝基板之间经行电路焊线联接,比较浪费时间,而进行光电参数测试时还需将导线取掉,再次老化时仍需将导线焊接上去,此过程重复起来相当麻烦;同时LED灯具往往是将LED灯珠进行模组化点亮使用,故此种老化实验测试不能客观的反应出模组化灯珠高温老化的结果。



技术实现要素:

本实用新型的目的在于针对现有技术的缺陷和不足,提供一种结构简单、设计合理、使用方便的贴片式LED信赖性实验装置,它可简化高温老化实验的繁琐过程,提升实验效率,同时可客观的模拟出灯珠模组化的老化结果。

为实现上述目的,本实用新型采用的技术方案是:它包含老化装置和测试装置;所述的老化装置由点亮夹具、测试板和散热治具组成;测试板插接在点亮夹具中,测试板通过紧固螺丝固定在散热治具上;所述的测试装置由积分球、活动导轨、测试台、控制器组成;

所述的点亮夹具包含两块塑胶板;两块塑胶板之间设有一个卡槽;卡槽内表面的一侧设有一排等距的金属弹片;金属弹片的一端设有凹形接触点,另一端与导线连接;所述的测试板为方形薄板;方形薄板上方四角均设有孔位;方形薄板的一端设有缺口;方形薄板的其中一面设有电路;电路表面设有黑色或白色油墨层;电路上还设有阻焊焊盘;阻焊焊盘设在方形薄板的中心位置并成环形等距排列;电路为并联布局;电路在薄板的缺口端引出长条形阻焊焊盘;长条形阻焊焊盘的表面设有OSP抗氧化层或沉金层;方形薄板的另一面不做相应处理;所述的散热治具的外形大小与方形薄板一致;散热治具的上表面对应方形薄板上孔位的位置设有螺纹孔;散热治具的下表面设有锯齿状散热片;

所述的积分球为一个内壁表面设有白色漫反射层的空腔球体;空腔球体的腔体中心正上方设有光源检测器;腔体中心内设有测试底座;测试底座设在光源检测器的正下方;测试底座上固定有测试卡槽;测试底座通过内部电路与测试装置的电源连接;所述的活动导轨设在测试底座的下方;活动导轨穿过空腔球体并延伸到测试台上;测试台与控制器连接;

所述的活动导轨为两根圆形导轨;测试底座与活动导轨滑动连接;

采用上述结构后,本实用新型有益效果为:本实用新型所述的一种贴片式LED信赖性实验装置,通过老化装置进行整组贴片灯珠点亮老化,再使用测试装置进行单颗点亮,避免了背景技术中的单颗灯珠依次SMT焊板的复杂性,大大提升了工作效率,同时使用测试板进行老化实验更能接近客户端的使用条件,也能客观反映贴片式LED灯珠在客户端使用的整体性能,且具有结构简单、设置合理、制作成本低等优点。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是老化装置的结构示意图;

图2是测试装置的结构示意图;

图3是点亮夹具与测试板的连接示意图;

图4是点亮夹具的结构示意图;

图5是图4中A的局部放大图;

图6是测试板的结构示意图;

图7是散热治具的结构示意图。

附图标记说明:

1、LED贴片灯珠;2、测试板;3、点亮夹具;4、散热治具;5、积分球;6、测试卡槽;7、光源检测器;8、控制器;9、活动导轨;10、测试台;11、测试底座;12、空腔球体;13、凹形接触点; 14、塑胶板;15、卡槽;16、金属弹片;17、导线;18、长条形阻焊焊盘;19、缺口;20、阻焊焊盘;21、电路;22、黑色或白色油墨层;23、孔位; 24、螺纹孔;25、锯齿状散热片。

具体实施方式

下面结合附图,对本实用新型作进一步的说明。

参看图1-2所示,本具体实施方式采用的技术方案是:它包含老化装置和测试装置;所述的老化装置由点亮夹具3、测试板2和散热治具4组成;测试板2插接在点亮夹具3中,测试板2通过紧固螺丝固定在散热治具4上;所述的测试装置由积分球5、活动导轨9、测试台10、控制器8组成;

参看图3-7所示,所述的点亮夹具3包含两块塑胶板14;两块塑胶板14之间设有一个卡槽15;卡槽15内表面的一侧设有一排等距的金属弹片16;金属弹片16的一端设有凹形接触点13,另一端与导线17连接;所述的测试板4为方形薄板;方型薄板的材质可选择玻纤板或铝基板;方形薄板上方四角均设有孔位23;方形薄板的一端设有缺口19;方形薄板的其中一面设有电路21;电路21表面设有黑色或白色油墨层22;电路21上还设有阻焊焊盘20;阻焊焊盘20设在方形薄板的中心位置并成环形等距排列;电路21为并联布局;电路21在薄板的缺口端引出长条形阻焊焊盘18;长条形阻焊焊盘18的表面设有OSP抗氧化层或沉金层;方形薄板的另一面不做相应处理;所述的散热治具4的外形大小与方形薄板一致;散热治具4的上表面对应方形薄板上孔位的位置设有螺纹孔25;散热治具4的下表面设有锯齿状散热片26;

参看图2所示,所述的积分球5为一个内壁表面设有白色漫反射层的空腔球体12;空腔球体12的腔体中心正上方设有光源检测器7;腔体中心内设有测试底座11;测试底座11设在光源检测器7的正下方;测试底座11上固定有测试卡槽6;测试底座11通过内部电路与测试装置的电源连接;所述的活动导轨9设在测试底座11的下方;活动导轨9穿过空腔球体并延伸到测试台10上;测试台10与控制器8连接;

所述的活动导轨9为两根圆形导轨;测试底座11与活动导轨9滑动连接;

所述的积分球5上与活动导轨9对应的位置设有测试底座滑动通道11。

本具体实施的使用方法是:在进行信赖型实验时,可直接将一组LED贴片灯珠1焊接在测试板4上,然后将测试板4插在点亮夹具3中,再通过测试板4上的孔位23和散热治具4上的螺纹孔25对应并使用螺丝将二者固定起来;然后将老化装置放置烤箱中或信赖性测试机中进行相应时间段的点亮;待一定时间后,取出老化装置中的测试板2,将其安装在测试装置中的测试卡槽6上,随测试底座11在活动导轨9上传递到积分球5的腔体中心,通过控制器8对电路的开合,实现LED贴片灯珠1单颗点亮,通过积分球5中的光源检测器7对每一颗LED贴片灯珠1所发出的光进行光电参数数据测试,然后将测试数据保存在系统中,待数据测试完毕后,将测试板2从测试装置中取下来重新安装在老化装置上进行第二个时间段的点亮,随后再取下测试板2进行第二次光电参数的测试,以此类推进行。

本具体实施方式的有益效果为:通过老化装置进行整组贴片灯珠点亮老化,再使用测试装置进行单颗点亮,省去了背景技术中的单颗灯珠依次SMT焊板的复杂性,大大提升了工作效率,同时使用测试板进行老化实验更能接近客户端的使用条件,也能客观反映贴片式LED灯珠在客户端使用的整体性能。

以上所述,仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制,本领域普通技术人员对本实用新型的技术方案所做的其它修改或者等同替换,只要不脱离本实用新型技术方案的精神和范围,均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。

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