一种用于集成电路测试中信号采集的系统的制作方法

本申请涉及集成电路测试领域，特别涉及一种用于集成电路测试中信号采集的系统。

背景技术：

在集成电路测试中，常常需要对输入和输出信号进行信号采集，传统的信号采集方法一般用信号采集器同时采集全部输入和输出信号，再对采集到的数据进行计算。但是这种信号采集存在一定的缺点，由于信号采集卡的测量深度是有限的，当输入信号时序较长，但对于最终的参数计算仅关心信号时序的一小部分信号时，而这就必然导致参数计算仅关心信号时序的数据量减少，测试分辨率降低，测试精度达不到测试需求。传统的解决方法是更换采样深度更高、测试精度更高的信号采集器，但是这种解决方法会极大提高测试成本，且测试精度的提升还是有限的。

因此，目前亟需一种能够提高测试分辨率和测试精度数据用于集成电路测试中信号采集的系统。

技术实现要素：

有鉴于此，本申请的主要目的在于提供了一种用于集成电路测试中信号采集的系统，可以在集成电路测试中提高测试分辨率和测试精度。

本申请提供一种用于集成电路测试中信号采集的系统，包括：

信号发生器，用于输出一于第一设定时间触发的第一激励信号和一于第二设定时间触发的数据采集及存储的第二激励信号；

待测试的所述集成电路，与所述信号发生器耦接，用于接收所述第一激励信号并据此生成并输出信号；

信号采集器，与所述信号发生器和所述集成电路分别耦接，分别用于接收所述第二激励信号和所述集成电路的输出信号，并在接收到所述第二激励信号后对所述集成电路的输出信号进行采集及存储。

由上，本申请的信号采集系统的信号发生器还与信号采集器耦接；用于向其提供于一于第二设定时间触发信号采集及存储的第二激励信号。关于此处的第二设定时间可以仅设定与被测参数有关的时间，从而可以减少采集时间及采集的数据量，有利于提高测试分辨率及测试精度。

例如，如图1、3所示，传统测量方法一般以输入测试信号为触发信号，从发生触发时刻“T1”开始抓取数据，直到“T3”时刻结束信号采集。而实际被测参数仅需要“T2”时刻到“T3”时刻的数据，此时需要从信号采集器的大量数据中找出“T2”时刻到“T3”时刻的数据，而信号采集卡的测量深度是有限的，这就必然导致“T2”时刻到“T3”时刻的数据量减少，测试分辨率降低，测试精度达不到测试需求。

本实用新型解决了传统测量方法的弊端，如图2、4所示，信号发生器还与信号采集器耦接；用于向其提供于一于第二设定时间触发信号采集及存储的第二激励信号。设定该信号的触发位置在“T2”时刻，此时信号采集器仅采集并存储“T2”到“T3”时刻的数据，对于信号采集器来说，同样的测量深度，采集的时间量越短，测试分辨率越高，测试精度也越高。

优选地，所述系统还包括：

控制器，与所述信号发生器耦接，用于控制所述信号发生器提供的各个信号的同步，以及用于调节所述第一激励信号、第二激励信号的时序和频率。

由上，本申请通过设置一控制器，有利于控制于待测集成电路输入及输出信号的同步性。例如，由于输入信号和输出信号之间的时间参数都很小，基本都在1us以内；并且这些时间参数不仅仅针对单一信号，而是不同信号之间的时间关系，因此对于信号采集器来说，一定要实现不同被测信号的同步信号采集。因此，通过设置一控制器，有利于控制各个信号的同步性。

优选地，所述所述信号发生器为：可输出作为所述第一激励信号的连续脉冲信号，和输出作为所述第二激励信号的一单脉冲信号的信号发生器。

优选地，所述系统还包括：

显示装置，分别与信号发生器和信号采集器耦接，用于将所述第一激励信号、第二激励信号和所述集成电路的输出信号进行显示。

由上，通过上述显示模块显示输入及输出的全部时间段的信号进行显示，有利于用于直观查看输入输出的数据。

综上所述，本申请提供了一种用于集成电路测试中信号采集的系统，可以在集成电路测试中提高测试分辨率和测试精度。本申请的信号采集系统的信号发生器还与信号采集器耦接；用于向其提供于一于第二设定时间触发信号采集及存储的第二激励信号。关于此处的第二设定时间可以仅设定与被测参数有关的时间，从而可以减少采集时间及采集的数据量，有利于提高测试分辨率及测试精度。同时，本申请通过设置一控制器，有利于控制于各个信号的同步性，以及用于调节所述第一激励信号、第二激励信号的时序和频率。

附图说明

图1为现有技术的用于集成电路测试的信号采集的系统的结构示意图；

图2为本申请实施例提供的一种用于集成电路测试的信号采集的系统的结构示意图；

图3为现有技术的用于集成电路测试的信号采集的系统的波形显示的示意图；

图4为本申请实施例提供的一种用于集成电路测试的信号采集的系统的显示模块的波形显示的示意图。

具体实施方式

下面结合说明书附图对本申请实施例进行详细描述。

实施例一

如图1所示，为传统的集成电路测试的信号采集装置。其中“DUT”为待测试集成电路，“L”、“C”、“HV”为测试“DUT”的外围线路，“输入激励信号INA’”为“DUT”的输入信号，“DUT”的两个输出信号为OUT1和OUT2，“输入激励信号INA”和输出信号“OUT1”、“OUT2”同时连接到信号采集器，信号采集器对采集到的数据进行计算。其中,“OUT1”、“OUT2”可分别为电压电平信号、电流信号或其他。

如图2所示，为本申请提供一种用于集成电路测试中信号采集的系统，包括：

信号发生器100，与所述待测试集成电路耦接；用于向其提供一于第一设定时间触发的第一激励信号INA；

其中，所述信号发生器还与一信号采集器耦接；用于向其提供于一于第二设定时间触发信号采集及存储的第二激励信号INB；

信号采集器200，与所述待测试集成电路及所述信号发生器耦接；用于将输入所述待测试集成电路的信号及所述待测试集成电路输出的信号进行采集、或采集及存储。

同时，本申请通过设置一控制器300，与所述信号发生器及所述待测试集成电路耦接；用于控制所述信号发生器提供的各个信号以及所述待测试集成电路输出的各个信号之间在同一时刻同步；以及用于调节所述第二激励信号的时序和频率。

由此，本申请的信号采集系统的信号发生器还直接与信号采集器耦接；用于向其提供于一于第二设定时间触发信号采集及存储的第二激励信号INB。关于此处的第二设定时间可以仅设定与被测参数有关的时间，从而可以减少采集时间及采集的数据量，有利于提高测试分辨率及测试精度。

例如，如图1、3所示，传统测量方法一般以输入测试信号为触发信号，从发生触发时刻“T1”开始抓取数据，直到“T3”时刻结束信号采集。而实际被测参数仅需要“T2”时刻到“T3”时刻的数据，此时需要从信号采集器的大量数据中找出“T2”时刻到“T3”时刻的数据，而信号采集卡的测量深度是有限的，这就必然导致“T2”时刻到“T3”时刻的数据量减少，测试分辨率降低，测试精度达不到测试需求。

本实用新型解决了传统测量方法的弊端，如图2所示，信号发生器还与信号采集器耦接；用于向其提供于一于第二设定时间触发信号采集及存储的第二激励信号INB。如图4所示，设定该信号的触发位置在“T2”时刻，此时信号采集器仅采集并存储“T2”到“T3”时刻的数据，对于信号采集器来说，同样的测量深度，采集的时间量越短，测试分辨率越高，测试精度也越高。

本申请还设置有控制器，与所述信号发生器耦接，用于控制所述信号发生器提供的各个信号的同步，以及用于调节所述第一激励信号、第二激励信号INB的时序和频率。有利于控制于待测集成电路输入及输出信号的同步性。例如，由于输入信号和输出信号之间的时间参数都很小，基本都在1us以内；并且这些时间参数不仅仅针对单一信号，而是不同信号之间的时间关系，因此对于信号采集器来说，一定要实现不同被测信号的同步信号采集。因此，通过设置一控制器，有利于控制于待测集成电路输入及输出信号的同步性。

其中，本申请的信号采集器200包括：

信号采集模块，用于对输入所述待测试集成电路的信号及所述待测试集成电路输出的信号进行采集；

信号转化模块，用于将所述信号采集模块采集的信号转化成可显示的数据类型；

数据存储模块，用于第二激励信号触发后采集的信号转化的可显示的数据进行存储。

由此，通过将信号转化为可显示的数据类型(例如波形)，有利于进行数据显示。

其中，本申请的信号采集系统还包括：

显示装置400，分别与信号发生器和信号采集器耦接，用于将所述第一激励信号、第二激励信号和所述集成电路的输出信号进行显示。

由此，通过上述显示模块显示输入及输出的全部时间段的信号进行显示，有利于用于直观查看输入输出的数据。

为了更清楚的说明本申请的技术方案，现将本申请的用于集成电路测试的信号采集的系统的工作原理说明如下：

信号发生器100以输入第一激励信号“INA”为触发信号，从发生触发时刻“T1”开始抓取数据，直到“T3”时刻。但抓取的数据仅用于显示而不用于存储。

信号发生器100以输入第二激励信号“INB”为数据采集及存储触发信号，设定该信号的触发位置在“T2”时刻，直到“T3”时刻结束信号采集。但采集的数据不但用于显示并且存储。

同时，本申请通过设置一控制器300，与所述信号发生器及所述待测试集成电路耦接；用于控制所述信号发生器提供的各个信号以及所述待测试集成电路输出的各个信号之间在同一时刻同步；以及用于调节所述第二激励信号“INB”的时序(即采集及存储哪一段时间的数据)和频率。显示装置400将所述第一激励信号、第二激励信号和所述集成电路的输出信号进行显示。

综上所述，本申请的信号采集系统的信号发生器还与信号采集器耦接；用于向其提供于一于第二设定时间触发信号采集及存储的第二激励信号。关于此处的第二设定时间可以仅设定与被测参数有关的时间，从而可以减少采集时间及采集的数据量，有利于提高测试分辨率及测试精度。同时，本申请通过设置一控制器，有利于控制于待测集成电路输入及输出信号的同步性及用于调节所述第二激励信号“INB”的时序和频率。

其中，本申请的用于集成电路测试中信号采集的系统中的各个装置集成于于一体设置，也可以分开设置。其都不影响本申请的保护范围。尽管已描述了本申请的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。

综上，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。