一种NE555芯片故障检测装置的制作方法

文档序号:14876376发布日期:2018-07-07 07:10阅读:2431来源:国知局

本实用新型涉及一种NE555芯片故障检测装置,属于故障检测技术领域。



背景技术:

NE555是一款多用途数字模拟混合集成电路,是一个用途很广且相当普遍的计时IC。自从Signetics公司于1972年推出这款产品后,世界各大电子器件公司都生产了各自的555芯片,这款芯片在世界范围内得到了广泛应用。

正因如此,伴随着NE555芯片的大规模应用,NE555应用电路的故障检测问题也普遍存在。按照传统的电路故障检测方法,需要对整个电路的工作状态进行判断,对电路的每个元件进行检测,过程复杂,检测时间长。



技术实现要素:

本实用新型的目的是提供一种NE555芯片故障检测装置,以解决现有NE555芯片故障检测过程复杂、检测时间长等问题。

本实用新型按以下技术方案实现:一种NE555芯片故障检测装置,包括多谐振荡器1、基准电压2、比较器Ⅰ3、比较器Ⅱ4、绿灯5、红灯6;比较器Ⅰ3正输入端与多谐振荡器1连接,比较器Ⅰ3负输入端与基准电压2连接,比较器Ⅰ3输出端与绿灯5连接,比较器Ⅱ4正输入端与基准电压2连接,比较器Ⅱ4负输入端与多谐振荡器1连接,比较器Ⅱ4输出端与红灯6连接,多谐振荡器1与所检测NE555芯片连接,多谐振荡器1用于检测NE555芯片是否正常工作,当NE555芯片工作正常,多谐振荡器1产生PWM波,当NE555芯片不工作,多谐振荡器1不产生PWM波,基准电压2用于产生恒定电压信号,其值小于多谐振荡器1产生的PWM波的有效值,比较器Ⅰ3、比较器Ⅱ4用于比较多谐振荡器1产生的PWM波与基准电压2产生的恒定电压信号的大小,绿灯5用于显示NE555芯片正常工作状态,红灯6用于显示NE555芯片不工作状态。

一种NE555芯片故障检测装置的工作原理为:首先把待检测的NE555芯片与NE555芯片故障检测装置连接,当NE555芯片正常工作时,多谐振荡器1产生PWM波,PWM波的有效值大于基准电压2的恒定电压信号,此时比较器Ⅰ3正输入端大于负输入端,比较器Ⅱ4的正输入端小于负输入端,比较器Ⅰ3输出高电平信号,与比较器Ⅰ3输出端连接的绿灯5亮起,而比较器Ⅱ4输出低电平信号,与比较器Ⅱ4输出端连接的红灯6保持熄灭状态;当NE555芯片不工作时,多谐振荡器1不产生PWM波,比较器Ⅰ3正输入端信号为零,比较器Ⅱ4负输入端信号为零,此时比较器Ⅰ3正输入端小于负输入端,比较器Ⅱ4的正输入端大于负输入端,比较器Ⅰ3输出低电平信号,与比较器Ⅰ3输出端连接的绿灯5熄灭,而比较器Ⅱ4输出高电平信号,与比较器Ⅱ4输出端连接的红灯6亮起。因此可通过观察绿灯5和红灯6的亮灭来迅速判断NE555芯片是否故障。当绿灯5点亮且红灯6熄灭时,NE555芯片是正常的;当绿灯5熄灭且红灯6点亮时,NE555芯片有故障。

本实用新型具有以下有益效果:

1、检测装置高效直观,只需要看灯的颜色;

2、检测装置结构简单,易于生产;

3、检测装置成本低廉,易于推广应用。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

图中各标号为:1:多谐振荡器、2:基准电压、3:比较器Ⅰ、4:比较器Ⅱ、5:绿灯、6:红灯 。

具体实施方式

下面结合附图和实施例,对本实用新型作进一步说明,但本实用新型的内容并不限于所述范围。

实施例1:如图1所示,一种NE555芯片故障检测装置, 包括多谐振荡器1、基准电压2、比较器Ⅰ3、比较器Ⅱ4、绿灯5、红灯6;比较器Ⅰ3正输入端与多谐振荡器1连接,比较器Ⅰ3负输入端与基准电压2连接,比较器Ⅰ3输出端与绿灯5连接,比较器Ⅱ4正输入端与基准电压2连接,比较器Ⅱ4负输入端与多谐振荡器1连接,比较器Ⅱ4输出端与红灯6连接,多谐振荡器1与所检测NE555芯片连接,多谐振荡器1用于检测NE555芯片是否正常工作,当NE555芯片工作正常,多谐振荡器1产生PWM波,当NE555芯片不工作,多谐振荡器1不产生PWM波,基准电压2用于产生恒定电压信号,其值小于多谐振荡器1产生的PWM波的有效值,比较器Ⅰ3、比较器Ⅱ4用于比较多谐振荡器1产生的PWM波与基准电压2产生的恒定电压信号的大小,绿灯5用于显示NE555芯片正常工作状态,红灯6用于显示NE555芯片不工作状态。

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