本实用新型涉及密码芯片的技术领域，尤其涉及一种用于密码芯片抗暴力攻击的硬度测试装置。
背景技术：
芯片指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的一部分，最先进的集成电路是微处理器或多核处理器的″核心(cores)″，可以控制电脑到手机到数字微波炉的一切，存储器和ASIC是其他集成电路家族的例子，对于现代信息社会非常重要，虽然设计开发一个复杂集成电路的成本非常高，但是当分散到通常以百万计的产品上，每个IC的成本最小化，IC的性能很高，因为小尺寸带来短路径，使得低功率逻辑电路可以在快速开关速度应用。
目前对于密码芯片的安全测试得到越来越多的重视，为了测试密码芯片的抗暴力攻击的程度，需要对密码芯片的硬度进行测试，为此，我们急需设计出一种用于密码芯片抗暴力攻击的硬度测试装置，来解决上述问题。
技术实现要素：
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种用于密码芯片抗暴力攻击的硬度测试装置。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
一种用于密码芯片抗暴力攻击的硬度测试装置，包括固定检测台，所述固定检测台上安装有支撑柱，且支撑柱活动安装在固定检测台上，所述支撑柱上远离固定检测台的一端转动连接有检测支柱，且检测支柱的一端通过转轴活动连接在支撑柱的一端，所述支撑柱与检测支柱之间活动设置有液压杆，且液压杆的一端活动连接在支撑柱上，所述检测支柱上远离支撑柱的一端固定连接有检测安装座，且检测安装座内设置有划痕杆，所述检测安装座上靠近固定检测台的一侧面上开设有开口，且划痕杆从检测安装座的开口处活动插入检测安装座内，所述检测安装座内远离划痕杆的一侧设置有定位螺杆，且定位螺杆的两端活动穿过检测安装座的两侧内壁，并延伸至外侧。
优选的，所述定位螺杆与划痕杆垂直设置，且定位螺杆上的螺纹痕沿定位螺杆的中心轴对称设置，所述定位螺杆上活动设置有夹持螺母，且夹持螺母通过螺纹活动套接在定位螺杆的外侧。
优选的，所述检测支柱上开设有伸缩槽，且液压杆上远离支撑柱的一端活动卡接在伸缩槽内。
优选的，所述固定检测台上设置有芯片安装座，且芯片安装座设置在检测安装座的正下方。
优选的，所述固定检测台上设置有活动槽，且支撑柱通过滑块活动连接在活动槽内。
优选的，所述夹持螺母上靠近划痕杆的一侧固定连接有夹持板，且两组夹持板分别设置在划痕杆的两侧。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1、本实用新型中，通过在固定检测台的表面设置芯片安装座，可以便于芯片在硬度检测时能固定位置，通过设置可以液压杆控制检测支柱的伸缩，从而控制检测安装座与芯片安装座之间的距离。
2、本实用新型中，通过设置可以更换不同材质，不同硬度划痕杆的检测安装座，方便检测芯片的硬度，本新型检测方便，方便适用，而且本装置便于携带，可随时随地进行检测。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种用于密码芯片抗暴力攻击的硬度测试装置的结构示意图；
图2为本实用新型提出的一种用于密码芯片抗暴力攻击的硬度测试装置的检测安装座的结构示意图。
图中：1固定检测台、2支撑柱、3液压杆、4检测支柱、5伸缩槽、6检测安装座、7芯片安装座、8划痕杆、9夹持板、10定位螺杆、11夹持螺母。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
参照图1-2，一种用于密码芯片抗暴力攻击的硬度测试装置，包括固定检测台1，固定检测台1上安装有支撑柱2，且支撑柱2活动安装在固定检测台1上，固定检测台1上设置有活动槽，且支撑柱2通过滑块活动连接在活动槽内，支撑柱2上远离固定检测台1的一端转动连接有检测支柱4，且检测支柱4的一端通过转轴活动连接在支撑柱2的一端，支撑柱2与检测支柱4之间活动设置有液压杆3，且液压杆3的一端活动连接在支撑柱2上，检测支柱4上开设有伸缩槽5，且液压杆3上远离支撑柱2的一端活动卡接在伸缩槽5内，检测支柱4上远离支撑柱2的一端固定连接有检测安装座6，且检测安装座6内设置有划痕杆8，固定检测台1上设置有芯片安装座7，且芯片安装座7设置在检测安装座6的正下方，检测安装座6上靠近固定检测台1的一侧面上开设有开口，且划痕杆8从检测安装座6的开口处活动插入检测安装座6内，检测安装座6内远离划痕杆8的一侧设置有定位螺杆10，且定位螺杆10的两端活动穿过检测安装座6的两侧内壁，并延伸至外侧，定位螺杆10与划痕杆8垂直设置，且定位螺杆10上的螺纹痕沿定位螺杆10的中心轴对称设置，定位螺杆10上活动设置有夹持螺母11，且夹持螺母11通过螺纹活动套接在定位螺杆10的外侧，夹持螺母11上靠近划痕杆8的一侧固定连接有夹持板9，且两组夹持板9分别设置在划痕杆8的两侧。
工作原理：使用本装置时，通过在芯片安装座7上安装密码芯片，然后在通过控制液压杆3的伸缩，从而控制检测支柱4的伸缩，液压杆3在伸缩槽5内活动，将检测安装座6移至密码芯片的表面，推动支撑柱2，从而对密码芯片表面进行划痕，以此来测试密码芯片的硬度，通过转动定位螺杆10来控制两组夹持板9之间的距离，以此来夹持划痕杆8，使得划痕杆8可以更换，使用不同硬度的划痕杆8对密码芯片进行划痕，从而测试密码芯片的硬度。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。